2600B系列系統(tǒng)數(shù)字源表源測(cè)量單元（SMU）儀表是業(yè)界的電流/電壓源 與測(cè)量解決方案，它是利用吉時(shí)利第三代源測(cè)量單元（SMU）技術(shù)建造的好宣講。2600B 系列產(chǎn)品包括單通道和雙通道型號(hào)註入新的動力，集成了高精密電源、真正電流源、6位半數(shù)字多用表（DMM）雙重提升、任意波形發(fā)生器、脈沖發(fā)生器以及電子負(fù)載等功能——這些功能都在一個(gè)高度集成的儀器機(jī)箱內(nèi)事關全面。這是一個(gè)功能強(qiáng)大的解決方案表現明顯更佳，大大提高了從臺(tái)式 I/V特性分析道高度自動(dòng)化生產(chǎn)測(cè)試等各種應(yīng)用中的測(cè)試效率。對(duì)于臺(tái)式應(yīng)用技術節能，2600B系列數(shù)字源表內(nèi)置基于Java的測(cè)試軟件指導，支持即插即用I/V測(cè)試，可以通過(guò)世界各地任何計(jì)算機(jī)瀏覽器運(yùn)行國際要求。對(duì)于自動(dòng)化系統(tǒng)應(yīng)用流動性，2600B系列數(shù)字源表的測(cè)試腳本處理器(TSP)，可以運(yùn)行儀器內(nèi)存儲(chǔ)的完整測(cè)試程序競爭激烈，實(shí)現(xiàn)超高的吞吐量持續創新。在更大型的多通道應(yīng)用中，吉時(shí)利的TSP-Link技術(shù)與TSP協(xié)同工作空白區，實(shí)現(xiàn)了高度喜愛、SMU-per-pin并行測(cè)試。由于2600B系列數(shù)字源表源測(cè)量單元（SMU）儀表具有不需要主機(jī)的促進進步、隔離的通道發力，因此，可以根據(jù)測(cè)試應(yīng)用需求的進(jìn)展迎來新的篇章，很容易進(jìn)行重新配置和重新部署共創美好。
基于Java的即插即用I/V測(cè)試軟件
2600B系列數(shù)字源表是內(nèi)置基于Java測(cè)試軟件的源測(cè)量單元（SMU）儀表， 支持真正的即插即用I/V特性分析薄弱點，可以通過(guò)世界各地任何計(jì)算機(jī)瀏覽器運(yùn)行覆蓋範圍。這個(gè)功能提高了研發(fā)、教育和QA/FA等各種應(yīng)用的測(cè)試效率積極性。只需通過(guò)附送的 LAN電纜奮勇向前，將2600B數(shù)字源表連接至互聯(lián)網(wǎng)，打開(kāi)瀏覽器實施體系，輸入2600B的IP低至組建，即可開(kāi)始測(cè)試各有優勢。
采用TSP技術(shù)，提供的吞吐量重要的意義，適合自動(dòng)測(cè)試
對(duì)于需要自動(dòng)化和吞吐量級(jí)別的測(cè)試應(yīng)用來(lái)說(shuō)持續，2600B數(shù)字源表的TSP技術(shù)提供了優(yōu)秀的性能。TSP技術(shù)遠(yuǎn)遠(yuǎn)超越傳統(tǒng)的測(cè)試命令序列……它嵌入再獲，然后產品和服務，在源測(cè)量單元（SMU）儀器內(nèi)部執(zhí)行完整的測(cè)試程序。這實(shí)際上避免了所 有耗時(shí)的總線-PC控制器之間的通信體驗區，因此增多，大幅縮短整個(gè)測(cè)試時(shí)間。
TSP技術(shù)將執(zhí)行來(lái)自2600B系列數(shù)字源表內(nèi)非易失性存儲(chǔ)的完整測(cè)試程序有望。
通過(guò)TSP-Link技術(shù)進一步推進，實(shí)現(xiàn)SMU-Per-Pin并行測(cè)試
TSP-Link是通道擴(kuò)展總線，支持多 個(gè)2600B系列數(shù)字源表互連標準，成為一個(gè)單 一示範推廣、嚴(yán)格同步的多通道系統(tǒng)。2600B的 TSP-Link技術(shù)與其TSP技術(shù)協(xié)同工作即將展開，支 持高速大幅增加、SMU-per-pin并行測(cè)試。與大型 自動(dòng)測(cè)試設(shè)備系統(tǒng)等其他高速解決方案 不同的是充足，2600B在無(wú)需主機(jī)成本或負(fù)擔(dān) 情況下進展情況，實(shí)現(xiàn)了并行測(cè)試性能【G色化發展；?/span>TSP -Link技術(shù)的系統(tǒng)至關重要，還支持出眾的靈活性， 可以根據(jù)測(cè)試需求的變化用上了，迅速而容易 地對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行重新配置提升行動。
2400型軟件仿真
2600B系列數(shù)字源表，與為吉時(shí)利2400 型數(shù)字源表源測(cè)量單元（SMU）儀表開(kāi)發(fā)的測(cè)試代碼兼容關註。這使得基于2400型數(shù)字源 表的測(cè)試系統(tǒng)更容易地升級(jí)至2600B系列研究進展， 并使測(cè)試速度提高高達(dá)80%。此外連日來，它還提供了從SCPI編程轉(zhuǎn)到吉時(shí)利TSP技術(shù)的過(guò)渡路徑快速融入，實(shí)施后，可以進(jìn)一步縮短測(cè)試時(shí)間系統。
為了全面支持遺留的測(cè)試系統(tǒng)增強，在這個(gè)模式下，還支持2400型源存儲(chǔ)清單測(cè)試序列交流等。
第三代SMU設(shè)計(jì)更加廣闊，確保實(shí)現(xiàn)更快的測(cè)試時(shí)間
在早期2600系列儀器成熟的架構(gòu)基礎(chǔ) 上規劃，2600B系列的源測(cè)量單元（SMU） 儀表設(shè)計(jì)從幾個(gè)方面提高了測(cè)試速度。例 如方便，早期的設(shè)計(jì)采用的是并聯(lián)電流量程調(diào) 節(jié)結(jié)構(gòu)基礎上，而2600 B系列采用了已申請(qǐng)（發(fā)明各領域，號(hào)CN104935322）的串聯(lián)量程調(diào)節(jié)結(jié)構(gòu)應用領域，這種結(jié)構(gòu)具有更快 更平滑的量程變換過(guò)程和穩(wěn)定速度更快的 輸出。
2600B系列數(shù)字源表源測(cè)量單元 （SMU）儀表設(shè)計(jì)支持對(duì)各種負(fù)載使用 兩種操作模式進行培訓。在普通模式下發展機遇，源測(cè) 量單元（SMU）儀表為吞吐量提供 高帶寬性能。在高電容模式下法治力量，源測(cè) 量單元（SMU）儀表使用較慢的帶寬全技術方案， 為較高電容負(fù)載提供魯棒的性能。
簡(jiǎn)化半導(dǎo)體元件測(cè)試共享、驗(yàn)證與分析
可選配的ACS Basic版本軟件實(shí)現(xiàn)了客戶效率的信息化，使客戶可以在開(kāi)發(fā)、質(zhì)量認(rèn)證或故障分析中解決方案，對(duì)封裝器件進(jìn)行特性分析趨勢。主要特性包括：
· 內(nèi)容豐富、易于訪問(wèn)的測(cè)試庫(kù)
· 腳本編輯器上高質量，實(shí)現(xiàn)現(xiàn)有測(cè)試的快速定制
· 數(shù)據(jù)工具一站式服務，便于迅速比較測(cè)試結(jié)果
· 公式工具，便于分析俘獲的曲線深入交流，并提供多種數(shù)據(jù)函數(shù)引領作用。
欲了解有關(guān)ACS Basic版本軟件的更多信息，參見(jiàn)ACS Basic版本數(shù)據(jù)表臺上與臺下。
強(qiáng)大的軟件工具
除了基于Java的嵌入式即插即用軟 件以及可選配的ACS Basic版本軟件用的舒心，免 費(fèi)Test Script Builder軟件工具，可以 幫助用戶創(chuàng)建集聚效應、修改集成、調(diào)試和存儲(chǔ)TSP測(cè) 試腳本。圖1給出2600B系列數(shù)字源表軟 件工具的主要特性等形式。
2600B系列產(chǎn)品3個(gè)型號(hào)的雙通道 臺(tái)式數(shù)字源表技術的開發，提供優(yōu)秀的價(jià)值和性能
如果想調(diào)試設(shè)計(jì)問(wèn)題，首先必須知道存在問(wèn)題飛躍。每個(gè)設(shè)計(jì)工程師都要用大量的時(shí)間查找電路中的問(wèn)題更高效，如果沒(méi)有合適的調(diào)試工具，這項(xiàng)任務(wù)耗時(shí)長(zhǎng)重要部署、非常麻煩具體而言。
為了滿足那些不需要系統(tǒng)級(jí)自 動(dòng)化能力的應(yīng)用需求工具，吉時(shí)利對(duì)2600B系 列數(shù)字源表進(jìn)行了擴(kuò)展，推出3中的高性價(jià)比臺(tái)式型號(hào)產(chǎn)品——2604B喜愛、2614B和 2634B重要的角色。這些型號(hào)產(chǎn)品性能分別與2602B、 2612B和2636B相似向好態勢，但它們不包括TSP Link平臺建設、接觸檢查以及數(shù)字I/O能力。
完整的自動(dòng)化系統(tǒng)解決方案
吉時(shí)利S500綜合測(cè)試系統(tǒng)是基于儀 器的貢獻力量、可高度配置的系統(tǒng)使用，適合器件、 晶圓或晶圓盒的半導(dǎo)體特性分析發行速度。S500 綜合測(cè)試系統(tǒng)基于已被證明的2600系列 系統(tǒng)數(shù)字源表源測(cè)量單元（SMU）足夠的實力，提供 創(chuàng)新的測(cè)量特性與系統(tǒng)靈活性，可以根據(jù)需求進(jìn)行升級(jí)結構。其的測(cè)量能力更適合， 再加上強(qiáng)大而靈活的自動(dòng)特性分析套 件(ACS)軟件，為客戶提供全面的應(yīng)用 范圍和特性溝通協調，這是市場(chǎng)上競(jìng)爭(zhēng)產(chǎn)品所不具備的要素配置改革。
典型應(yīng)用
各種器件的I-V功能測(cè)試和特征分析，包括：
· 分立和無(wú)源元件
– 兩抽頭器件——傳感器帶動擴大、磁盤(pán)驅(qū)動(dòng)器頭核心技術體系、金屬 氧化物可變電阻（MOV）、二極管持續發展、齊納二極 管必然趨勢、電容、熱敏電阻
– 三抽頭器件——小信號(hào)雙極結(jié)型晶體管（BJT）場(chǎng)效應(yīng)晶體管（FET）擴大，等等
· 簡(jiǎn)單IC器件——光學(xué)器件多樣性、驅(qū)動(dòng)器、開(kāi)關(guān)新格局、傳感 器明顯、轉(zhuǎn)換器、穩(wěn)壓器
· 集成器件——小規(guī)模集成（SSI）和大規(guī)模集成（LSI） – 模擬IC
– 射頻集成電路（RFIC）
– 專(zhuān)用集成電路（ASIC）
– 片上系統(tǒng)（SOC）器件
· 光電器件顯示，例如發(fā)光二極管（LED）創新為先、激光二極管高亮度LED（HBLED）、垂直腔面發(fā)射激光器 （VCSEL）科普活動、顯示器
· 圓片級(jí)可靠性
– NBTI創新延展、TDDB、HCI、電遷移
· 太陽(yáng)能電池
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