原理講解

采用脈沖—回波法原理的普通超聲波測厚儀需要滿足以下兩個條件才能成功測量：

1. 底面回波要高于閘門（閘門電平高度是固定的不可調(diào)節(jié)）空間廣闊。

2. 底面回波前沒有其它雜波高于閘門（否則測出的將是產(chǎn)生雜波處的厚度）至關重要。

有時許多情況無法滿足上述要求，例如近表面高度腐蝕服務品質、粗晶材料（如鑄鐵）的發生、鋁材料、小直徑   管影響、超薄板新的動力、超厚板、表面粗糙、材料內(nèi)部的不均勻置之不顧、內(nèi)含缺陷高質量、疊片結(jié)構(gòu)等等，普通超聲波測厚儀將無能為力鍛造。

TM281 可輕松解決上述問題：

1. 可以通過調(diào)整增益和閘門高度，使底面回波高于閘門具體而言。

2. 可以通過消隱功能使底面回波前的其它雜波無效, 以前的棘手難題迎刃而解工具。

實時彩色A-掃描(Live Color A-Scan)

用戶在屏幕上能直接看到彩色超聲信號波型（或A掃描），這對于需要驗證厚度讀數(shù)是否正確的場合是至關(guān)重要的喜愛。許多情況會引發(fā)錯誤的厚度讀數(shù)甚至無讀數(shù)重要的角色，根據(jù)波形能輕松找到問題所在，然后根據(jù)波形僅需對增益（GAIN）向好態勢、消隱(BLANKING)平臺建設、閘門(GATE)這三個參數(shù)做適當(dāng)調(diào)整，就可得到正確的厚度讀數(shù)。

波形的用處：根據(jù)波形驗證厚度讀數(shù)使用，根據(jù)波形找到問題所在大幅拓展，根據(jù)波形尋求解決之道，根據(jù)波形調(diào)整參數(shù)解決問題更加堅強。

實時彩色 B-掃描(Live  Color  B-Scan)

TM281系列測厚儀帶時實 B 掃描功能與時俱進。顯示沿著探頭移動軌跡的工件剖面圖，用于觀察被測工件的底面輪廓初步建立。并自 動捕獲一幅 B 掃描圖像上的最小值綜合運用，由紅色三角指示出最小值的位置。通過移動指針還可查看 B 掃描圖像上任一點的厚度值的方法。

增益調(diào)整(GAIN)

調(diào)整儀器對回波信號的放大倍數(shù)實事求是，允許以 ldB 為單位手動增加或減少。這個功能對聲衰減材料（比如金屬鑄件）的測量是非常有效的持續。

消隱功能(BLANKING)

使紅色消隱條范圍內(nèi)的波形無效等多個領域，可以略去影響測量的有害雜波，比如因材料表面粗糙或內(nèi)部不均勻引起的噪聲產品和服務。

閘門高度可調(diào)(GATE) 

紅色箭頭

A-掃描模式有一個紅色箭頭指示測量點應用擴展，厚度讀數(shù)就是該點的橫坐標(biāo)。它可幫助判斷厚度讀數(shù)是否正確增多，正確測量時活動上，紅箭頭應(yīng)該指向底面回波前沿。

范圍(RANGE)

調(diào)整顯示在屏幕上的波形范圍進一步推進，視覺上波形被壓縮或展開導向作用。如果沒有正確的設(shè)置顯示范圍，回波波形可能出了顯示區(qū)域而看不到應用的選擇，但仍能正確地顯示測量值真正做到。

平移(DELAY)

調(diào)整顯示在屏幕上的波形的起始位置，視覺上波形被水平移動創新延展。如果沒有正確的設(shè)置平移強化意識，回波波形可能出了顯示區(qū)域而看不到，但仍能正確地顯示測量值基本情況。范圍和平移功能可將波形的任何一部分放大顯示在屏幕上現場。

整流方式

可選擇射頻、正半波力量、負(fù)半波我有所應、全波四種整流方式。射頻：描繪了完整的回波波形深入實施；

正半波：指去掉回波的負(fù)半波只顯示正半波至關重要；

負(fù)半波：指去掉回波的正半波而將負(fù)半波翻轉(zhuǎn)顯示為正發展空間；

全波： 指回波的正半波和翻轉(zhuǎn)為正的負(fù)半波均顯示。

報警模式

可設(shè)置報警上限和報警下限有所應。報警時波形和厚度值動態(tài)改變顏色連日來。

縮減率測量

儀器具有差值和縮減率模式。差值模式顯示實測厚度與預(yù)設(shè)厚度之間的差值變化認為。縮減率是計算并顯示材料變薄以后厚度縮減的百分比增強。 典型應(yīng)用是對因彎曲而變薄的金屬材料進(jìn)行測量重要意義。

最小/值模式 

具有穿透涂層功能，不再需要費時費力的去除涂層工作

該功能是通過測量基材的兩個連續(xù)底面回波實現(xiàn)的更加廣闊，該模式下還具有更多的優(yōu)勢：

1規劃、免零點校準(zhǔn)；

2可以使用、高穩(wěn)定性進入當下，測量值不受探頭壓力、耦合層厚度和工件表面灰塵污漬的影響

3效高化、零漂移新體系。

TM281系列技術(shù)參數(shù)

儀器參數(shù)

標(biāo)準(zhǔn)配置：

可選配置：

多種探頭可選

儀器內(nèi)置多種探頭的V聲程校正程序集聚效應，分標(biāo)準(zhǔn)探頭、小徑管探頭重要手段、微型探頭互動講、粗晶探頭、高溫探頭像一棵樹，頻率范圍從2至10MHz過程中，晶片尺寸從4至12mm。一般來說能運用，探頭頻率越高而直徑越小達到，越適合對較薄或彎曲工件的測量。

TM281可選探頭表