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WH82雙基涂層測(cè)厚儀

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WH82測(cè)量演示W(wǎng)H82雙基涂層測(cè)厚儀是一種便攜式雙基(鐵發展成就、鋁)測(cè)量?jī)x成就,它能快速重要方式、無(wú)損傷、精密地進(jìn)行涂系統、鍍層厚度的測(cè)量

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WH82測(cè)量演示

WH82雙基涂層測(cè)厚儀是一種便攜式雙基(鐵非常重要、鋁)測(cè)量?jī)x,它能快速提升、無(wú)損傷高品質、精密地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測(cè)量支撐能力。既可用于實(shí)驗(yàn)室中的精密測(cè)量資源優勢,也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)廣泛地應(yīng)用在金屬制造業(yè)、化工業(yè)置之不顧、航空航天不斷完善、科研開(kāi)發(fā)等領(lǐng)域,是企業(yè)保證產(chǎn)品質(zhì)量方便、商檢測(cè)控基礎上、的檢測(cè)儀器。

WH82雙基涂層測(cè)厚儀的技術(shù)參數(shù)

測(cè)量范圍0-1250um
工作電源兩節(jié) 5 號(hào)電池
測(cè)量精度誤差零點(diǎn)校準(zhǔn) ±(1+3%H);二點(diǎn)校準(zhǔn)±【(1%~3%H)】H+1.5
環(huán)境溫度0-40℃
相對(duì)濕度≤85%
最小基體10*10mm
最小曲率凸:5mm;凹 :5mm
基體0.4mm
重量115 克(含電池)
尺寸110mm*65mm*30mm

WH82雙基涂層測(cè)厚儀符合以下標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 4956─1985 磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測(cè)量 磁性方法

GB/T 4957─1985 非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測(cè)量 渦流方法

JB/T 8393─1996 磁性和渦流式覆層厚度測(cè)量?jī)x

JJG 889─95 《磁阻法測(cè)厚儀》

JJG 818─93 《電渦流式測(cè)厚儀》

WH82雙基涂層測(cè)厚儀的產(chǎn)品特點(diǎn)

采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法應用領域,即可測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度又可測(cè)量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度;可采用單點(diǎn)校準(zhǔn)和兩點(diǎn)校準(zhǔn)兩種方法對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)保持競爭優勢,并可用基本校準(zhǔn)法對(duì)測(cè)量頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正,保證儀器在測(cè)量過(guò)程中儀器的準(zhǔn)確性;能快速自動(dòng)識(shí)別鐵基體與非鐵基體具有電源欠壓指示功能操作過(guò)程有蜂鳴聲提示;設(shè)有兩種關(guān)機(jī)方式:手動(dòng)關(guān)機(jī)方式和自動(dòng)關(guān)機(jī)方式;有負(fù)數(shù)顯示功能發展機遇,保證儀器在零位點(diǎn)的校準(zhǔn)準(zhǔn)確性;有顯示平均值長效機製、值、最小值功能[*]

WH82雙基涂層測(cè)厚儀的測(cè)量原理

采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法全技術方案,可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體( 如鋼分享、鐵、合金和硬磁性鋼等 )上非磁性覆蓋層的厚度(如鋁信息化、鉻方式之一、銅、琺瑯新型儲能、橡膠創新能力、 油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、 鋁範圍、 鋅求得平衡、 錫等)上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度(如:琺瑯、橡膠註入新的動力、油漆、塑料等)。

a) 磁性法(F 型測(cè)量頭)

當(dāng)測(cè)量頭與覆蓋層接觸時(shí)雙重提升,測(cè)量頭和磁性金屬基體構(gòu)成一閉合磁路戰略布局,由于非磁性覆蓋層的存在,使磁路磁阻變化表現明顯更佳,通過(guò)測(cè)量其變化可導(dǎo)出覆蓋層的厚度狀態。

b) 渦流法(N 型測(cè)量頭)

利用高頻交變電流在線圈中產(chǎn)生一個(gè)電磁場(chǎng),當(dāng)測(cè)量頭與覆蓋層接觸時(shí)指導,金屬基體上產(chǎn)生電渦流研究與應用,并對(duì)測(cè)量頭中的線圈產(chǎn)生反饋?zhàn)饔茫ㄟ^(guò)測(cè)量反饋?zhàn)饔玫拇笮】蓪?dǎo)出覆蓋層的厚度更高效。

WH82雙基涂層測(cè)厚儀的使用說(shuō)明

1)開(kāi)機(jī)

按下 ON 鍵后儀器聽(tīng)到一聲?shū)Q響全面協議,自動(dòng)恢復(fù)上次關(guān)機(jī)前的參數(shù)設(shè)置后,將顯示0.0μm具體而言,儀器進(jìn)入待測(cè)狀態(tài)工具。可測(cè)量工件了喜愛。經(jīng)過(guò)一段時(shí)間不使用儀器將自動(dòng)關(guān)機(jī)重要的角色。

2)關(guān)機(jī)

在無(wú)任何操作的情況下,大約 3分鐘后儀器自動(dòng)關(guān)機(jī)向好態勢。按一下“ON”鍵平臺建設,立即關(guān)機(jī)。

3)單位制式轉(zhuǎn)換(公制與英制轉(zhuǎn)換)

在待測(cè)狀態(tài)下貢獻力量,按μm/mil可轉(zhuǎn)換其測(cè)量單位使用。

4)測(cè)量

a)準(zhǔn)備好待測(cè)試件

b)是否需要校準(zhǔn)儀器,如果需要覆蓋範圍,選擇適當(dāng)?shù)男?zhǔn)方法進(jìn)行(參照 4 儀器校準(zhǔn))

c)迅速將測(cè)量頭與測(cè)試面垂直地接觸并輕壓測(cè)量頭定位套優化程度,隨著一聲?shū)Q響,屏幕顯示測(cè)量值奮勇向前,儀器會(huì)自動(dòng)感應(yīng)被測(cè)基體:感應(yīng)到是磁性基體時(shí)儀器顯示 Fe感應(yīng)到是非磁性金屬時(shí)儀器顯示 NFe不斷豐富。測(cè)量時(shí)請(qǐng)始終保持儀器處于垂直狀態(tài)!提起測(cè)量頭可進(jìn)行下次測(cè)量;

WH82雙基涂層測(cè)厚儀的影響因素

a) 基體金屬磁性質(zhì)

磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變化的影響(在實(shí)際應(yīng)用中,低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的)組建,為了避免熱處理和冷加工因素的影響各有優勢,應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn);亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。

b) 基體金屬電性質(zhì)

基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響重要的意義,而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)持續。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。

c) 基體金屬厚度

每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度再獲。大于這個(gè)厚度產品和服務,測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。

d) 邊緣效應(yīng)

本儀器對(duì)試件表面形狀的陡變敏感體驗區。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的增多。

e) 曲率

試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響活動上。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此明顯,在彎曲試件的表面上測(cè)量是不可靠的安全鏈。

f) 試件的變形

測(cè)量頭會(huì)使軟覆蓋層試件變形,因此在這些試件上測(cè)出可靠的數(shù)據(jù)創新為先。

g) 表面粗糙度

基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對(duì)測(cè)量有影響真正做到。粗糙程度增大,影響增大創新延展。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差強化意識,每次測(cè)量時(shí),在不同位置上應(yīng)增加測(cè)量的次數(shù)進展情況,以克服這種偶然誤差的積極性。如果基體金屬粗糙,還必須在未涂覆的粗糙度相類(lèi)似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn);或用對(duì)基體金屬?zèng)]有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后至關重要,再校對(duì)儀器的零點(diǎn)不久前。

h) 磁場(chǎng)

周?chē)鞣N電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場(chǎng),會(huì)嚴(yán)重地干擾磁性法測(cè)厚工作提升行動。

i) 附著物質(zhì)

本儀器對(duì)那些妨礙測(cè)量頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感能力建設,因此,必須清除附著物質(zhì)研究進展,以保證儀器測(cè)量頭和被測(cè)試件表面直接接觸無障礙。

j) 測(cè)量頭壓力

測(cè)量頭置于試件上所施加的壓力大小會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù),因此快速融入,要保持壓力恒定認為。

k) 測(cè)量頭的取向

測(cè)量頭的放置方式對(duì)測(cè)量有影響。在測(cè)量中增強,應(yīng)當(dāng)使測(cè)量頭與試樣表面保持垂直重要意義。

WH82雙基涂層測(cè)厚儀使用時(shí)應(yīng)當(dāng)遵守的規(guī)定

a) N 基體金屬特性

對(duì)于磁性方法,標(biāo)準(zhǔn)片的基體金屬的磁性和表面粗糙度更加廣闊,應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似規劃。

對(duì)于渦流方法,標(biāo)準(zhǔn)片基體金屬的電性質(zhì)可以使用,應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的電性質(zhì)相似進入當下。

b) 基體金屬厚度

檢查基體金屬厚度是否超過(guò)臨界厚度,如果沒(méi)有效高化,可采用 3.3)中的某種方法進(jìn)行校準(zhǔn)新體系。

c) 邊緣效應(yīng)

不應(yīng)在緊靠試件的突變處,如邊緣、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處進(jìn)行測(cè)量尤為突出。

d) 曲率

不應(yīng)在試件的彎曲表面上測(cè)量物聯與互聯。

e) 讀數(shù)次數(shù)

通常由于儀器的每次讀數(shù)并不相同,因此必須在每一測(cè)量面積內(nèi)取幾個(gè)讀數(shù)改造層面。覆蓋層厚度的局部差異,也要求在任一給定的面積內(nèi)進(jìn)行多次測(cè)量優勢與挑戰,表面粗造時(shí)更應(yīng)如此經驗分享。

f) 表面清潔度

測(cè)量前,應(yīng)清除表面上的任何附著物質(zhì)趨勢,如塵土有力扭轉、油脂及腐蝕產(chǎn)物等,但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)一站式服務。

WH82雙基涂層測(cè)厚儀的保養(yǎng)與維修

1 環(huán)境要求

嚴(yán)格避免碰撞廣度和深度、重塵、潮濕引領作用、強(qiáng)磁場(chǎng)加強宣傳、油污等。

2 更換電池

本儀器在使用中用的舒心,當(dāng)電池電壓過(guò)低時(shí)技術發展,即屏幕上的電池標(biāo)志顯示為空,應(yīng)盡快給儀器更換電池集成。更換電池時(shí)應(yīng)特別注意電池安裝的正負(fù)極性的方向重要手段。

3 故障排除

1)更換電池

儀器 5 天以上不使用時(shí)應(yīng)取出電池。當(dāng)儀器出現(xiàn)低電壓提示時(shí)應(yīng)更換電池穩定性,更換電池時(shí)請(qǐng)注意極性像一棵樹。

2)恢復(fù)出廠設(shè)置

開(kāi)機(jī)狀態(tài)下,在 2 秒內(nèi)依次按下按鍵 去突破、▲能運用、▲、▼具體而言、▼工具,屏幕顯示英文對(duì)話詢問(wèn)是否確認(rèn)恢復(fù)出廠設(shè)置,要進(jìn)行恢復(fù)出廠設(shè)置喜愛,選擇””并按μm/mil確認(rèn)重要的角色。

3)測(cè)量頭校準(zhǔn)修正

出現(xiàn)較大誤差(如:校準(zhǔn)不當(dāng)或有操作錯(cuò)誤等)可作六點(diǎn)修正校準(zhǔn),校準(zhǔn)儀器。



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