QNIX4200/5涂層測厚儀一體化設(shè)計(jì)堅持先行，只需調(diào)零，無需校準(zhǔn)滿意度，使用極其簡單情況較常見。QNix4200/5為磁性測厚儀，可以用來測量鋼主要抓手、鐵等磁性基體上的涂層體製、鍍層。操作簡單創新科技，攜帶方便服務延伸，精度高，為廣大用戶所喜愛具有重要意義。測量范圍：0-5mm★南京南拓檢測儀器有限公司德國尼克斯測厚儀Qnix公司代理商進一步，主要代理型號有Qnix4200/5、QNIX4500尼克斯鍍層測厚儀強大的功能、Qnix1200實際需求、QNIX1500涂層測厚儀、Qnix7500/8500型涂層測厚儀優勢，只需調(diào)零善謀新篇、無需校準(zhǔn)。： ,

QNix® 4200/5

 QNIX4200/5涂層測厚儀一體化設(shè)計(jì)便利性，只需調(diào)零方法，無需校準(zhǔn)，使用極其簡單提供有力支撐。
 QNix4200/5為磁性測厚儀穩中求進，可以用來測量鋼統籌、鐵等磁性基體上的涂層、鍍層協同控製。操作簡單振奮起來，攜帶方便，精度高利用好，為廣大用戶所喜愛深入各系統。
 QNIX4200為了迎合用戶需要，還推出 QNIX4200/5（大量程）機(jī)系列，使在鐵基測量模式下量程可擴(kuò)大到5mm作用。
QNIX4200/5涂層測厚儀產(chǎn)品優(yōu)點(diǎn)：
只需調(diào)零，無需校準(zhǔn) 
體積小巧統籌推進，操作方便 
精度高 
價(jià)格便宜

德國QNIX公司相關(guān)型號：

QNix® 4200/5 SONDEN

Sonde	Messbereich	Substrat	Abweichung
QNix® 4200 3 mm	3000 µm	Fe	+/- (3% +- 2 µm)
QNix® 4200 5 mm	5000 µm	Fe	0 – 1999 µm: +/- (3% +- 2 µm)  ?2000 – 5000 µm: +/- (5% +- 2 µm)

Kleinste Messfl?che	Kleinster Krümmungsradius	Kleinste Dicke des Substrats
∅ 25 mm	Konvex: 5 mm  ?Konkav: 5 mm	200 µm