HT-2000四探針方阻電阻率測試儀

　　HT-2000四探針方阻電阻率測試儀采用四探針雙電測量方法，適用于生產(chǎn)企業(yè)雙重提升、高等院校戰略布局、科研部門，是檢驗和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料狀態。液晶顯示技術節能，無需人工計算，并帶有溫度補償功能廣泛認同，電阻率單位自動選擇國際要求，儀器自動測量并根據(jù)測試結(jié)果自動轉(zhuǎn)換量程，無需人工多次和重復(fù)設(shè)置鍛造。采用高精度AD芯片控制競爭激烈，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理改善、質(zhì)量輕便參與能力，運輸安全、使用方便是目前主流；選配：配備軟件可以由電腦操控充分發揮，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動生成報表充分發揮；本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示選擇適用，同時顯示液晶顯示：電阻、電阻率推動並實現、方阻薄弱點、溫度、單位換算優化程度、溫度系數(shù)積極性、電流、電壓不斷豐富、探針形狀實施體系、探針間距、厚度 各有優勢、電導(dǎo)率效果較好，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項目要求選購持續。

　　雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量等多個領域。該儀器設(shè)計符合單晶硅物理測試方法國家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。利用電流探針產品和服務、電壓探針的變換應用擴展，進行兩次電測量，對數(shù)據(jù)進行雙電測分析增多，自動消除樣品幾何尺寸活動上、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機械游移等因素對測量結(jié)果的影響有望，它與單電測直線或方形四探針相比，大大提高精確度生產能力，特別是適用于斜置式四探針對于微區(qū)的測試標準。

　　廣泛用于：覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜示範推廣，高堅持好、低溫電熱膜;隔熱、防輻射導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布大幅增加、裝飾膜特性、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類箔膜;熔煉等特點、燒結(jié)建言直達、濺射、涂覆將進一步、涂布層充分發揮，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料提升行動，其他半導(dǎo)體材料能力建設、薄膜材料方阻測試硅晶塊、晶片電阻率及擴散層研究進展、外延層無障礙、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻  半導(dǎo)體材料/晶圓快速融入、太陽能電池認為、電子元器件，導(dǎo)電薄膜（ITO導(dǎo)電膜玻璃等）增強，金屬膜重要意義，導(dǎo)電漆膜，蒸發(fā)鋁膜更加廣闊，PCB銅箔膜不斷完善，EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率  導(dǎo)電性油漆，導(dǎo)電性糊狀物方便，導(dǎo)電性塑料基礎上，導(dǎo)電性橡膠，導(dǎo)電性薄膜應用領域，金屬薄膜保持競爭優勢，抗靜電材料， EMI 防護材料發展機遇，導(dǎo)電性纖維長效機製，導(dǎo)電性陶瓷等。

技術(shù)參數(shù)：

　　1.方塊電阻范圍：10-5～2×106Ω/□

　　2.電阻率范圍：10-6～2×106Ω-cm

　　3.測試電流范圍：0.1μA ，1μA分享，10μA共享，100µA，1mA方式之一，10mA生動，100 mA

　　4.電流精度：±0.1%讀數(shù)

　　5.電阻精度：≤0.3%

　　6.顯示讀數(shù)：液晶顯示：電阻、電阻率創新能力、方阻新品技、溫度、單位換算廣度和深度、溫度系數(shù)深入交流、電流、電壓加強宣傳、探針形狀臺上與臺下、探針間距、厚度 技術發展、電導(dǎo)率

　　7.測試方式: 雙電測量

　　8.工作電源: 輸入: AC 220V±10% ,50Hz  功 耗：<30W

　　9.整機不確定性誤差: ≤4%（標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果）

　　10.選購功能: 選購1.pc軟件集聚效應； 選購2.方形探頭； 選購3.直線形探頭更為一致； 選購4.測試平臺

　　11.測試探頭：  探針間距選購：1mm等形式；2mm；3mm三種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購：碳化鎢針;白鋼針研究與應用；鍍金磷銅半球形針飛躍。