OmniScan MX ECA
用于進(jìn)行渦流陣列檢測(cè)邁出了重要的一步。其檢測(cè)配置支持32個(gè)傳感器線(xiàn)圈（使用外置多路轉(zhuǎn)換器可支持64個(gè)線(xiàn)圈），其工作模式可為橋式或發(fā)送接收式設施。其工作頻率范圍為20Hz到6 MHz需求，帶有一個(gè)可以在同一采集操作過(guò)程中使用多頻的選項(xiàng)。
渦流陣列檢測(cè)
渦流陣列技術(shù)
渦流陣列技術(shù)（ECA）以電子方式驅(qū)動(dòng)同一個(gè)探頭中多個(gè)相鄰的渦流感應(yīng)線(xiàn)圈，并解讀來(lái)自這些感應(yīng)線(xiàn)圈的信號(hào)更讓我明白了。通過(guò)使用多路技術(shù)采集數(shù)據(jù)迎難而上， 可避免不同線(xiàn)圈之間的互感。
OmniScan® ECA檢測(cè)配置在橋式或發(fā)射-接收模式下可支持32個(gè)感應(yīng)線(xiàn)圈（使用外部多路器可支持的感應(yīng)線(xiàn)圈多達(dá)64個(gè)）探索。操作頻率范圍為20 Hz～6 MHz堅持先行，并能選擇在同一采集中使用多頻。
渦流陣列的優(yōu)勢(shì)
同單通道渦流技術(shù)相比管理，渦流陣列技術(shù)具有下列優(yōu)勢(shì)：
檢測(cè)時(shí)間大幅度降低優化上下。
單次掃查覆蓋更大檢測(cè)區(qū)域。
減小了機(jī)械和自動(dòng)掃查系統(tǒng)的復(fù)雜性模樣。
提供檢測(cè)區(qū)域?qū)崟r(shí)圖像生產體系，便于數(shù)據(jù)的判讀。
很好地適用于對(duì)那些具有復(fù)雜幾何形狀的部件的檢測(cè)提供了遵循。
改進(jìn)了檢測(cè)的可靠性和檢出率（POD）參與水平。
渦流陣列探頭
Olympus NDT制造的R/D Tech® ECA探頭可適用于廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域。根據(jù)缺陷的不同類(lèi)型或者被測(cè)工件的形狀服務效率，可以設(shè)計(jì)出不同的探頭明確相關要求。標(biāo)準(zhǔn)探頭可檢測(cè)如裂紋、點(diǎn)蝕等缺陷統籌發展，以及多層結(jié)構(gòu)中如裂紋及腐蝕等近表面的缺陷深化涉外。
傳感器之間的多路轉(zhuǎn)換技術(shù)。
渦流陣列探頭可以省掉兩軸掃查中的一軸生產製造，使渦流設(shè)置具有更大的靈活性開展試點。
探頭可以做成不同的形狀和尺寸，以更好地適應(yīng)檢測(cè)部件的外形共同。
用于腐蝕檢測(cè)的發(fā)射-接收探頭可以探到鋁材料中6毫米（0.25英寸）的深度推進一步。
用于表面裂痕檢測(cè)的發(fā)射-接收探頭以及一個(gè)可選編碼。
用于表面裂痕檢測(cè)的式探頭簡單化。
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渦流陣列軟件
簡(jiǎn)單的數(shù)據(jù)采集和分析顯示
C掃描視圖中的數(shù)據(jù)采集力度，可快速有效地檢測(cè)缺陷。
分析模式下的數(shù)據(jù)選擇系統性，可在阻抗圖和帶狀圖中瀏覽信號(hào)勇探新路。
波幅、相位和位置測(cè)量傳遞。
可調(diào)彩色調(diào)色板試驗。
大尺寸阻抗平面圖和帶狀視圖，與常規(guī)單通道ECT探頭檢測(cè)相適應(yīng)開展攻關合作。
校準(zhǔn)向?qū)?/strong>
報(bào)警
自動(dòng)探頭識(shí)別和配置
分析模式下的求差工具
該功能可去除在相鄰?fù)ǖ篱g的提離變化部署安排。
高級(jí)實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)處理
實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)插值可以改進(jìn)缺陷的空間顯示搖籃。
使用兩個(gè)頻率，可生成一個(gè)MIX信號(hào)推廣開來，以去除干擾信號(hào)（如：提離推動、緊固件信號(hào)等）。
數(shù)據(jù)處理可以選用高通資源配置、低通信息、中值和平均濾波器。下圖為一個(gè)應(yīng)用實(shí)例：在搭接處邊緣檢測(cè)出裂紋大力發展，因?yàn)樵撎幒穸瘸霈F(xiàn)急劇的變化豐富內涵。經(jīng)濾波的數(shù)據(jù)可以改進(jìn)檢測(cè)效果，特別是對(duì)小裂紋而言產能提升。
