應(yīng)用范圍Application Field

  射線探傷是利用射線可以穿透物質(zhì)和在物質(zhì)中有衰減的特性來(lái)發(fā)現(xiàn)其中缺陷的一種無(wú)損探傷方法，它可以檢查金屬和非金屬材料及其制品的內(nèi)部缺陷資源優勢，對(duì)非金屬高效利用、輕金屬、鑄造件估算、各種合金講理論、壓力容器等進(jìn)行X射線無(wú)損檢測(cè)，如焊縫中的氣孔奮戰不懈、夾渣市場開拓、未焊透等體積性缺陷。根據(jù)被檢工件與其內(nèi)部缺陷介質(zhì)對(duì)射線能量衰減程度的不同取得顯著成效，使得射線透過(guò)工件后的強(qiáng)度不同新模式，使缺陷能在射線底片上顯示出來(lái)。

技術(shù)參數(shù)/Technical Parameters

      焦距600 mm,曝光時(shí)間5分鐘

      天津Ⅲ型膠片,雙面0.03增感屏

      顯影條件:20℃ 5分鐘

      穿透厚度:40mm

      黑度:≥1.5

      靈敏度：＜2％

      工作方式1：1—5分鐘工作不容忽視，5分鐘休息