45MG超聲測厚儀
參考價 | 面議 |
- 公司名稱 上海斌瑞檢測技術服務有限公司
- 品牌
- 型號
- 所在地 上海市
- 廠商性質 其他
- 更新時間 2024/11/11 20:16:47
- 訪問次數(shù) 37
45MG儀器是一款帶有各種標準測量功能和軟件選項的高級超聲測厚儀明確了方向。這款特色的儀器與所有Olympus雙晶和單晶測厚探頭兼容,是一款集所有解決方案于一機的創(chuàng)新型儀器業務指導,可用于幾乎所有測厚應用改進措施。
45MG超聲測厚儀:
操作簡便、堅固耐用長足發展、性能可靠
45MG儀器是一款帶有各種標準測量功能和軟件選項超聲測厚儀今年。這款特色的儀器與所有Olympus雙晶和單晶測厚探頭兼容,是一款集所有解決方案于一機的創(chuàng)新型儀器結構不合理,可用于幾乎所有測厚應用動手能力。
標準功能
45MG儀器在使用基本配置時,是一款易懂易學意見征詢、操作簡便的測厚儀提升,操作人員經過基本的培訓,就可完成常用的測厚應用的必然要求。不過研究成果,45MG儀器添加了可選軟件選項和探頭后,就會變成一款極為測厚儀完善好,可以進行典型的初級儀器不能完成的應用大面積。此外,大多數(shù)選項可以在購買儀器時分別購買問題分析,或在日后需要時購買生產效率。
l 與所有Olympus雙晶探頭兼容流動性,可對內部腐蝕的金屬的厚度進行測量
l 小值/大值模式
l 兩個報警模式
l 差值模式
l 時基B掃描
l 縮減率
l 增益調整(標準的可能性、高穩定發展、低)
l 密碼式儀器鎖定
帶有可選橡膠保護套和支架的45MG儀器
抵御惡劣環(huán)境的能力
l 堅固耐用,設計符合IP67標準支撐作用。
l 易爆性氣氛:可在國家防火協(xié)會規(guī)范(NFPA 70)500節(jié)I級2分段D組規(guī)定的易爆性氣氛環(huán)境中安全操作日漸深入,并且通過了美軍標準MIL-STD-810G方法511.4程序I中規(guī)定的測試。
l 防撞擊測試:通過了美軍標準MIL-STD-810G方法516.5程序I中規(guī)定的測試大力發展,每軸6個循環(huán)豐富內涵,15 g,11 msec半弦波產能提升。
l 防振動測試:通過了美軍標準MIL-STD-810G方法514.5程序I附錄C圖6中的測試,一般暴露:每軸1小時節點。
l 寬泛的操作溫度范圍
l 可選的帶有支架的橡膠保護套
簡便操作的設計理念
l 可只用右手或左手操作的簡潔的鍵區(qū)
l 可直接訪問大多數(shù)功能的簡便易行的操作界面
l 使用內置MicroSD存儲卡和可插拔MicroSD存儲卡的存儲方式
l USB通訊端口
l 可存儲475000個厚度讀數(shù)或20000個波形的可選字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器
l 默認或自定義單晶探頭設置(可選)
l 密碼保護方式的儀器鎖定
l 彩色透反QVGA顯示通過活化,帶有室內和室外顏色設置,具有清晰度
可選功能
只需幾次按鍵,即可完成從簡單腐蝕測厚儀到多功能測厚儀的華麗變身重要方式。45MG測厚儀提供需密碼啟動的5個軟件選項開展面對面,從而躋身于工業(yè)領域中用途較廣使用的測厚儀行列。
回波到回波/穿透涂層:使用回波到回波選項非常重要,儀器屏幕上會顯示金屬的實際厚度進一步提升,而涂層的厚度會被忽略。穿透涂層選項測量金屬厚度與非金屬涂層的厚度營造一處,這兩個厚度都根據(jù)它們各自正確的材料聲速值得到了調整改革創新。因此,在進行厚度測量時取得顯著成效,無需去掉材料表面的漆層或涂層新模式。
單晶: 這個選項可對很多材料,如:金屬不容忽視、塑料組織了、復合材料、玻璃及陶瓷說服力,進行非常厚度測量搶抓機遇。這個選項可與范圍在2.25 MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容。
單晶高穿透:這個選項可對較厚或衰減性較高的材料表示,如:玻璃纖維或鑄造金屬全會精神,進行厚度測量⊥卣够??膳c范圍在0.5 MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容集中展示。這個選項包含單晶選項。
數(shù)據(jù)記錄器:45MG測厚儀帶有一個功能齊全的內置雙向字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器體系流動性,可方便地存儲和傳輸厚度讀數(shù)和波形數(shù)據(jù)探索創新。這個選項包含基于Windows的GageView接口程序。
帶有波形調整功能的實時A掃描: 用戶使用這個可選實時A掃描模式實現了超越,可以在測厚儀的顯示屏上直接查看超聲波形(或稱A掃描)新產品,核查厚度測量讀數(shù),對增益和空白設置進行手動調整橋梁作用,以在具有挑戰(zhàn)性的應用中大限度地增強測量性能長遠所需。這個極為有益的選項包含手動增益調整、擴展空白讓人糾結、回波空白紮實做、范圍及延遲參數(shù)。
室內顯示設置至關重要,可選A掃描模式
室外顯示設置提供深度撮合服務,可選A掃描模式
使用雙晶探頭對腐蝕工件進行測量
45MG測厚儀的一個主要應用是測量那些受腐蝕或侵蝕的管道、管件、箱體組成部分、壓力容器影響、船體外殼及其它結構的剩余厚度。這些應用中常使用的是雙晶探頭的過程中。
l 用于標準D79X系列雙晶探頭的自動探頭識別功能
l 當校準過程中出現(xiàn)雙回波時發展契機,會發(fā)出雙回波警告
l 回波到回波/穿透涂層選項可測量帶有漆層和涂層的表面
l 高溫測量:溫度可高達500 °C]
B掃描成像(基于時間)
45MG儀器提供的B掃描功能,可在屏幕上將實時厚度讀數(shù)轉換為橫截面圖像促進進步。在觀察材料厚度在一定距離上發(fā)生的變化時發力,這個標準功能非常有用。探頭一接觸到材料表面競爭激烈,就會啟動B掃描持續創新。凍結小值功能用于顯示掃查區(qū)域的小厚度值】瞻讌^?蛇x45MG數(shù)據(jù)記錄器多可存儲單個B掃描中的10000個厚度讀數(shù)協調機製。
室內顯示設置,B掃描模式
回波到回波/穿透涂層選項
回波到回波
測厚儀使用多個底面回波形勢,顯示不計涂層厚度的實際金屬厚度:
l 自動回波到回波
l 手動回波到回波(只出現(xiàn)于A掃描選項)實踐者,可進行以下操作:
? 增益調整
? 擴展空白
? 回波空白
顯示A掃描的自動回波到回波模式
調整個回波空白的手動回波到回波模式
高溫表面
45MG測厚儀配上D932系列探頭(D790、D790--SM約定管轄、D790-RL和D790-SL)數據,是測量高溫材料(溫度高達500 oC)的理想選擇,并可獲得穩(wěn)定的厚度讀數(shù)發揮。45MG的零位補償功能顯著,通過補償探頭延遲塊因熱漂移而產生的溫度變化,提高了在高溫表面上進行測量的精確性開放以來。
穿透涂層技術
使用單個底面回波測量金屬的實際厚度占。使用這個技術可以分別顯示金屬和涂層的厚度。這兩個厚度都根據(jù)它們各自正確的材料聲速值得到了調整提供了有力支撐。因此激發創作,要得到金屬的厚度,無需去掉表面的漆層和涂層實事求是。穿透涂層測量技術使用D7906-SM進行探討、D7906-RM和D7908雙晶探頭。
顯示涂層厚度和鋼材料厚度的穿透涂層模式(波形選項未被啟動)
顯示可選波形的穿透涂層模式
使用單晶探頭對工件進行精確測量
對塑料服務水平、金屬最新、復合材料、玻璃應用擴展、橡膠及陶瓷材料進行厚度測量
使用單晶探頭
用戶使用單晶探頭可以測量金屬體驗區、塑料增多、復合材料活動上、玻璃有望、陶瓷及其它材料的厚度。我們提供各種頻率導向作用、直徑和連接器類型的單晶探頭方案。如果用戶要將45MG儀器與單晶探頭配合使用,則必須購買單晶軟件或高穿透軟件選項十大行動。
l 在使用頻率范圍為2.25 MHz到30 MHz的單晶探頭時左右,單晶軟件選項可顯示分辨率高達0.001毫米(0.0001英寸)的測量值。
l 高穿透軟件選項用于測量玻璃纖維綜合措施、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料可靠保障。
l 測量厚度、聲速或渡越時間設計標準。
l 自動調用默認設置和自定義設置用于當前應用的功能簡化了厚度測量操作開展。
單晶軟件選項
用戶使用單晶軟件選項,可以完成分辨率高達0.001毫米或0.0001英寸的極為厚度測量發揮重要帶動作用。這個選項可與范圍在2.25 MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容意向。
l 大多數(shù)薄材料和厚材料
l 壁厚薄如0.08毫米(0.003英寸)的塑料瓶、管件文化價值、管道及薄片材料
l 壁厚薄如0.10毫米(0.004英寸)的金屬容器形式、鋼圈板、機加工部件
l 汽缸孔不斷完善、渦輪葉片
l 玻璃燈泡數字化、瓶子
l 薄壁玻璃纖維、橡膠基礎上、陶瓷及復合材料
l 曲面部分或內圓角半徑較小的容器
高穿透軟件選項可以對很多鑄造金屬部件及聲波衰減性的材料進行測量各領域。
應用設置調用
應用設置調用功能簡化了厚度測量操作。用戶在選擇了任何一個存儲探頭后重要意義,45MG測厚儀即會調出所有與這個內置探頭相關的參數(shù)交流等。
存儲的標準設置
45MG儀器帶有21個標準單晶探頭設置,可用于常用的測量操作規劃。這些默認探頭設置可用于各種各樣的厚度測量應用提高。
存儲的自定義設置
45MG還可存儲多35個自定義單晶探頭的設置,其中還包括校準信息進入當下。用戶可以連接適當?shù)奶筋^紮實,并調用設置文件,然后儀器便可進行厚度測量新體系,甚至還可完成復雜的測厚應用投入力度。
材料聲速測量
45MG儀器可以測量材料的聲速創造。在材料聲速與其它屬性密切相關的應用中,這個標準功能非常有用貢獻法治。典型的應用包括監(jiān)控鑄造金屬的球化程度設備製造,以及監(jiān)控復合材料/玻璃纖維的密度變化。
縮減率測量
差值模式和縮減率模式是45MG的標準功能攻堅克難。差值模式顯示實際厚度與預先設定的厚度值之間的差異管理。縮減率計算并顯示材料厚度變薄以后厚度縮減的百分比雙向互動。對經過彎曲變形并將制成車身面板的薄鋼板進行的縮減率測量是一個典型的應用效率和安。
使用20 MHz延遲塊探頭測量薄塑料材料。
使用V260-SM Sonopen探頭對薄玻璃進行測量品牌。
測量金屬板因彎曲變形而變薄的情況深入開展。
可測量包括塑料、金屬等形式、橡膠技術的開發、玻璃、陶瓷及復合材料在內的很多材料的厚度提供深度撮合服務。
單晶高穿透軟件選項
用戶使用這個選項可在使用低頻單晶探頭(低到0.5 MHz)的情況下服務品質,測量橡膠、玻璃纖維組成部分、鑄件及復合材料等較厚或聲波衰減性較強的材料影響。 這個選項包含單晶選項。
l 大多數(shù)較厚或聲音衰減性較強的材料
l 厚鑄造金屬部件
l 厚橡膠輪胎的過程中、履帶
l 玻璃纖維船體穩定性、儲存罐
l 復合材料板
l 對于頻率范圍為0.5 MH到1.0 MHz的探頭,分辨率為0.01毫米(0.001英寸)
產品規(guī)格
測量 | |
雙晶探頭測量模式 | 從激勵脈沖后的精確延遲到個回波之間的時間間隔過程中。 |
自動回波到回波(可選) | 在兩個連續(xù)底面回波之間的時間間隔去突破,不計漆層或涂層的厚度。 |
穿透涂層測量 (可選) | 利用單個底面回波達到,測量金屬的實際厚度和涂層厚度(使用D7906-SM和D7906探頭) |
單晶探頭測量模式(可選) | 模式1:激勵脈沖與個底面回波之間的時間間隔智能設備。 模式2:延遲塊回波與個底面回波之間的時間間隔(使用延遲塊或水浸式探頭) 模式3:在激勵脈沖之后,位于個表面回波后的相鄰底面回波之間的時間間隔(使用延遲塊探頭或水浸式探頭)蓬勃發展。 |
厚度范圍 | 0.080 mm~635 mm(0.003 in.~25.0 in.)視材料特點、探頭、表面條件重要性、溫度和所選配置而定(要測量全的范圍需要使用單晶選項) |
材料聲速范圍 | 0.508 mm/μs~18.699 mm/μs(0.020 in./μs~0.7362 in./μs) |
分辨率(可選擇) | 低分辨率:0.1毫米(0.01英寸) 標準分辨率:0.01毫米(0.001英寸) 單晶選項:0.001毫米(0.0001英寸) |
探頭頻率范圍 | 標準:2.25 MHz~30 MHz(-3 dB)高穿透(單晶選項):0.50 MHz~30 MHz(-3 dB) |
一般規(guī)格 | |
操作溫度范圍 | -10 °C~50 °C(14 °F~122 °F) |
鍵盤 | 密封又進了一步、以色彩區(qū)分功能的鍵盤,帶有觸感及聲音反饋 |
機殼 | 防撞擊多元化服務體系、防水規劃、裝有密封墊的機殼擴大公共數據,機殼上的接口密封。設計符合IP67標準帶動擴大。 |
外型尺寸(寬 x 高 x 厚) | 總體尺寸:91.1 mm x 162 mm x 41.1 mm |
重量 | 430.9克 |
電源 | 3節(jié)AA電池/USB電源供應 |
電池工作時間 | 3節(jié)AA堿性電池:20到21小時 3節(jié)AA鎳氫電池:22到23小時 3節(jié)AA鋰離子電池:35到36小時 |
標準 | 設計符合EN15317標準 |
顯示 | |
彩色透反QVGA顯示 | 液晶顯示核心技術體系,顯示屏尺寸:54.61毫米 x 41.15毫米 |
檢波 | 全波、RF波性能、正半波初步建立、負半波(波形選項) |
輸入/輸出 | |
USB | 2.0從接口 |
存儲卡 | 容量:2 GB可插拔MicroSD存儲卡 |
內置數(shù)據(jù)記錄器(可選) | |
數(shù)據(jù)記錄器 | 45MG通過USB或MicroSD卡識別綜合運用、存儲供給、調用、刪除及傳輸厚度讀數(shù)實事求是、波形圖像和儀器配置信息進行探討。 |
容量 | 475000個厚度測量讀數(shù),或20000個帶厚度值的波形 |
文件名稱和ID編碼 | 32位字符的文件名服務水平,20位字符的字母數(shù)字位碼 |
文件結構 | 6個標準的或自定義的用于特定應用的文件結構 |
報告 | 機載報告總結了數(shù)據(jù)統(tǒng)計和小值/大值 |
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