近年來，隨著工業(yè)電子設(shè)備線路設(shè)計日趨復(fù)雜形式，焊料無鉛化的日益嚴(yán)格建設應用，促使各類制造工藝的研究和應(yīng)用越來越受到重視并取得了新的發(fā)展。但各種元器件或是電路信號傳輸?shù)妮d體材料日漸深入，其質(zhì)量的好壞與可靠性水平?jīng)Q定了產(chǎn)品的質(zhì)量與可靠性動力。但是由于成本以及技術(shù)的原因，載體材料在生產(chǎn)和應(yīng)用過程中出現(xiàn)了大量的失效問題可靠保障，對于這種失效問題自然條件，我們需要得到一些失效原因分析技術(shù)，來使得各種元器件等載體材料在制造的時候質(zhì)量和可靠性水平得到一定的保證多種。
H-X系列掃描電子顯微鏡就是為載體材料失效分析技術(shù)的提供技術(shù)解決方案將進一步，本儀器凝聚科學(xué)家團隊多年心血，對產(chǎn)品的外觀形態(tài)、運控系統(tǒng)成就、功能結(jié)構(gòu)重要方式、人機交互關(guān)系等前沿工業(yè)科學(xué)應(yīng)用進行集成優(yōu)化設(shè)計，運用新技術(shù)將生產(chǎn)流程數(shù)字化系統、智能化非常重要，嚴(yán)格出廠標(biāo)準(zhǔn)性能測試，采用了智能測量分析系統(tǒng)軟件及高性能的微機硬件空間廣闊，使其具有強大的高速數(shù)據(jù)采集與大規(guī)模數(shù)據(jù)分析處理能力營造一處，更加提高了測試數(shù)值的準(zhǔn)確性，為用戶提供操作更精確知識和技能、更標(biāo)準(zhǔn)取得顯著成效、更高效的儀器設(shè)備。
H-X系列掃描電子顯微鏡凝聚了工業(yè)科學(xué)前沿領(lǐng)域的國際技術(shù)實現，新研發(fā)機型的H-X100C掃描電子顯微鏡不僅保持了H-X100系列A不容忽視、B機型的極簡操作性技術(shù)延續(xù)，還擁有的可擴展性接口服務體系，其極簡集成化的智能測量分析軟件系統(tǒng)更能快速完成從圖像觀察說服力、元素分析到生成報告的連貫操作。
H-X100系列掃描電子顯微鏡由真空系統(tǒng)分析、電子光學(xué)系統(tǒng)表示、樣品室和樣品臺、電子探測器非常激烈、背散射電子探頭競爭力所在、真空泵、自動穩(wěn)壓器實力增強、專用工具體系流動性、計算機、極簡的智能測量分析系統(tǒng)軟件及附件組成的科學(xué)研究儀器帶來全新智能。

一 應(yīng)用范圍
H-X系列掃描電子顯微鏡涵蓋以生物技術(shù)和納米技術(shù)為首的包括材料開發(fā)方式之一、測試、評估和缺陷分析及質(zhì)量控制等廣泛領(lǐng)域新型儲能；適用于材料科學(xué)創新能力、化學(xué)化工、生命科學(xué)以及相關(guān)領(lǐng)域的研究工作範圍，對各種材料求得平衡、化工產(chǎn)品、生物制品空間廣闊、非金屬礦及深加工產(chǎn)品等進行觀測分析試驗至關重要。

二 測試步驟
將測試樣品載體放入掃描電子顯微鏡樣品室中提供深度撮合服務，使用高效能的加速電壓對樣品載體的測試位置進行放大觀察觀測，并用X射線能譜分析儀對樣品進行EDS元素定性半定量分析的發生。

三 功能特性
1）使用多點觸摸屏組成部分，操作舒適
通過多點觸控技術(shù)和智能測量分析系統(tǒng)軟件，極簡科學(xué)的操作界面直觀簡單新的動力，只需輕觸屏幕就能像操作智能手機一樣操控各種功能的過程中，簡單快捷易懂，即使是新員工也能輕松獲得高品質(zhì)的觀測圖像進行EDS元素分析廣泛關註。
2）適應(yīng)各種環(huán)境的移動式掃描電鏡
操作員在PC上就可以進行觀察和分析促進進步，只要移動觸摸屏，在遠離裝置的地方也能夠進行操作控制優勢領先。只需 AC100V 插座就可以安裝迎來新的篇章，用腳輪即可自由移動。
3）的EDS能譜分析技術(shù)
·可擴展EDS元素分析功能改善，并為多種探測器預(yù)留接口空白區。
·觸控式掃描電鏡不僅功能全面，而且堅固耐用信息化，能夠很好的滿足不同實驗室的需求，能夠提供高分辨率實踐者，并能夠在高真空和低真空模式下提供系列高效能的加速電壓取得明顯成效，能夠輕松快速獲取高質(zhì)量的的二次電子和背散射電子像。
·采用新型探測技術(shù)的嵌入式智能軟件系統(tǒng)數據，具有面分布分析創新的技術、多點分析、自動漂移補償顯著、線掃描等技術(shù)應(yīng)用功能更加堅強。
4）的顯微鏡表面分析技術(shù)
·采用技術(shù)的顯微鏡；
·有較高的放大倍數(shù)性能，幾萬到幾十萬倍之間連續(xù)可調(diào)初步建立；
·有很大的景深，視野大供給，成像富有立體感的方法，可直接觀察各種試樣凹凸不平表面的細微結(jié)構(gòu)；
·H-X系列標(biāo)配X射線能譜儀裝置進行探討，可以同時進行顯微組織性貌的觀察和微區(qū)成分分析落到實處；
·試樣準(zhǔn)備簡單；