離子遷移測試系統(tǒng)
離子遷移測試系統(tǒng)可用于助焊劑、印刷電路板信息、光刻膠相關、釬料、樹脂豐富內涵、導(dǎo)電膠等有關(guān)印刷電路板綠色化、高密度封裝的材料、BGA發展、CSP等精細(xì)節(jié)距IC封裝件保持穩定、有機(jī)半導(dǎo)體相關(guān)（有機(jī)EL)、電容面向、連接器等其他電子元器件及材料支撐作用、各種絕緣材料的吸濕性特性評估。
離子遷移測試系統(tǒng)自主開發(fā)連續(xù)通電掃描繼電器方式建設項目，配備國際標(biāo)準(zhǔn)的測量儀表最為突出，與環(huán)境試驗(yàn)箱聯(lián)動，操作更簡便更安全相結合。標(biāo)配 100V 應(yīng)力電壓（應(yīng)力電壓 / 測量電壓）高效化，更有 1000V、2500V 高電壓規(guī)格可選為產業發展。高速準(zhǔn)確捕捉離子遷移現(xiàn)象發(fā)生的細(xì)微變化範圍和領域，離子遷移實(shí)時(shí)監(jiān)測「黜椧?！窫-Graph」可實(shí)時(shí)編輯預(yù)覽監(jiān)測實(shí)時(shí)獲得的數(shù)據(jù)特征更加明顯。選配可使連接試樣及線纜更方便，試驗(yàn)效率更高
離子遷移測試系統(tǒng)廣泛用于印制電路板、阻焊油墨的可能性、絕緣漆不要畏懼、膠粘劑，封裝樹脂微間距圖形問題、IC封裝材料等絕緣材料性能退化特性評估逐漸顯現，以及焊錫膏、焊錫絲系統穩定性、助焊劑拓展基地、清洗劑等引起的材料絕緣性能退化評估。
該系統(tǒng)能夠充分滿足IEC培訓、EIA不合理波動、IPC、GB重要工具、GJB積極拓展新的領域、QJ等相關(guān)測試規(guī)范，通過將評估試樣置于高壓更優質、高溫高濕環(huán)境下相對開放，通過實(shí)時(shí)監(jiān)測材料絕緣阻抗的變化，記錄相關(guān)數(shù)據(jù)和曲線脫穎而出，幫助使用人員對材料特性進(jìn)行量化分析拓展應用。
主要應(yīng)用行業(yè)：通訊設(shè)備、船舶汽車結構、計(jì)算機(jī)管理、航空**、半導(dǎo)體能力建設，印制電路板等模樣。
MIR絕緣電阻測試系統(tǒng)主要特點(diǎn)如下。
●可靈活選擇的測試通道數(shù)服務，系統(tǒng)可提供32*n（n=1很重要，2...）不同數(shù)量通道。以應(yīng)對不同批量試樣的測試覆蓋。
●系統(tǒng)模塊化結(jié)構(gòu)
●高精度絕緣電阻測試.
●系統(tǒng)集成試驗(yàn)箱溫濕度測試（選配）
●Slot測試參數(shù)獨(dú)立設(shè)置
●測試電纜檢測
●絕緣電阻和漏電流校正
●偏置電壓極性可變換（選配）
●靈活的遷移條件設(shè)置
●漏電驗(yàn)證測試
●測試過程多畫面顯示異常狀況，易懂易操作。
●高速漏電流監(jiān)測
●樣品失效保護(hù)
●測試中可以修改測試時(shí)間
●測試中途暫停,中斷/繼續(xù)
●測試數(shù)據(jù)自動保存
●獨(dú)立的數(shù)據(jù)分析和報(bào)告軟件
●測試報(bào)告一鍵輸出流動性。
