T-4-10型探針的鎢材質(zhì)針尖在

掃描電鏡下的成像

T-4 系列軟針較多的應(yīng)用于點(diǎn)測(cè)集成電路的線路，電極資源優勢，或者FIB(聚焦離子束) 制作的mini電極高效利用。采用不同直徑的鎢材質(zhì)針須焊接于鍍錫的銅材質(zhì)針桿上。

其中T-4-10和T-4-22兩款較受客戶歡迎的型號(hào)估算。其針須直徑較細(xì)講理論，彈性良好，能夠很好的減少對(duì)芯片電極的損害不要畏懼，在一定震動(dòng)環(huán)境下也能保證與電極的良好接觸服務為一體。

因?yàn)闀?huì)產(chǎn)生電容負(fù)載的問題，T-4 軟針不建議在敏感節(jié)點(diǎn)使用大大縮短。測(cè)試敏感節(jié)點(diǎn)要落實好，建議使用高阻抗Picoprobes系列探針。

圖1

T-4 系列探針

型號(hào)

鎢材質(zhì)針須直徑

針尖直徑

針須長(zhǎng)度

T-4-5

5 微米

<0.2微米

0.13" (3.3mm)

T-4-10

10微米

<0.2微米

0.13" (3.3mm)

T-4-22

22微米

<2.0微米

0.20" (5.1mm)

T-4-35

35微米

<4.0微米

0.20" (5.1mm)

T-4-60

60微米

<6.0微米

0.20" (5.1mm)

T-4-125

125微米

<10.0微米

0.20" (5.1mm)

表1

T-4 系列探針尺寸圖

圖2

ST 系列硬針是0.020 inch (0.51mm) 直徑鎢材質(zhì)針桿經(jīng)過精密電化學(xué)加工而成不容忽視，應(yīng)用于絕大多數(shù)的芯片電極點(diǎn)測(cè)和線路點(diǎn)測(cè)。

ST系列硬針可以用于刮擦或者刺穿芯片表面鈍化層服務體系。該探針可以選擇表面鍍鎳說服力，對(duì)應(yīng)型號(hào)后面增加“NP”。

ST系列硬針

型號(hào)

針桿直徑

針尖直徑

ST-20-0.5

0.020" (0.51mm)

<1 微米

ST-20-1.0

0.020" (0.51mm)

<2.0微米

ST-20-2.0

0.020" (0.51mm)

<4.0微米

ST-20-5.0

0.020" (0.51mm)

<10.0微米

ST-20-10.0

0.020" (0.51mm)

<20.0微米

表3

ST 系列探針尺寸

圖3