產(chǎn)品描述
iNano®納米壓痕儀可輕松測(cè)量薄膜不斷完善、涂層和少量材料。該儀器準(zhǔn)確方便、靈活基礎上，并且用戶友好，可以提供壓痕應用領域、硬度保持競爭優勢、劃痕和通用納米級(jí)測(cè)試等多種納米級(jí)機(jī)械測(cè)試。該儀器的力荷載和位移測(cè)量動(dòng)態(tài)范圍很大發展機遇，因而可以實(shí)現(xiàn)從軟聚合物到金屬材料的精確和可重復(fù)測(cè)試完成的事情。模塊化選項(xiàng)適用于各種應(yīng)用：材料性質(zhì)分布、特定頻率測(cè)試穩定、刮擦和磨損以及高溫測(cè)試改造層面。iNano®提供了一整套測(cè)試擴(kuò)展選項(xiàng)，包括樣品加熱優勢與挑戰、連續(xù)剛度測(cè)量經驗分享、NanoBlitz3D/4D屬性映射和遠(yuǎn)程視頻選項(xiàng)。
主要功能
· InQuest高速控制器電子設(shè)備創造，具有100kHz數(shù)據(jù)采集速率和20μs時(shí)間常數(shù)
· ISO 14577和標(biāo)準(zhǔn)化測(cè)試方法
· InView軟件包不難發現，包含RunTest貢獻法治、ReviewData設備製造、InFocus報(bào)告、InView大學(xué)在線培訓(xùn)和InView移動(dòng)應(yīng)用程序
· 的軟件集成探頭校準(zhǔn)系統(tǒng)攻堅克難，可實(shí)現(xiàn)快速準(zhǔn)確的探頭校準(zhǔn)
· InForce50驅(qū)動(dòng)器管理，用于電容位移測(cè)量，并配有電磁啟動(dòng)的可互換探頭
· XY移動(dòng)系統(tǒng)以及易于安裝的磁性樣品架
· 帶數(shù)字變焦的集成顯微鏡雙向互動，可實(shí)現(xiàn)精確的壓痕定位
主要應(yīng)用
· 硬度和模量測(cè)量（Oliver Pharr）
· 高速材料性質(zhì)分布
· ISO 14577硬度測(cè)試
· 聚合物tan delta效率和安，儲(chǔ)存和損耗模量
· 樣品加熱
工業(yè)應(yīng)用
· 大學(xué)、研究實(shí)驗(yàn)室和研究所
· 半導(dǎo)體和封裝行業(yè)
· 聚合物和塑料
· MEMS（微機(jī)電系統(tǒng)）/納米級(jí)通用測(cè)試
· 陶瓷和玻璃
· 金屬和合金
· 制藥
· 涂料和油漆
· 聚合物制造
· 復(fù)合材料
· 電池和儲(chǔ)能
