適用于光學(xué)便利性、半導(dǎo)體及FPD應(yīng)用—島津UV-VIS-NIR分光光度計是一款的高靈敏度分光光度計，可進行深紫外區(qū)檢測重要平臺，具備大樣品室緊迫性，可滿足光學(xué)、半導(dǎo)體及FPD在以下方面的檢測需求

適用于光學(xué)更適合、半導(dǎo)體及FPD應(yīng)用—島津UV-VIS-NIR分光光度計

是一款的高靈敏度分光光度計高效，可進行深紫外區(qū)檢測，具備大樣品室要素配置改革，可滿足光學(xué)體系、半導(dǎo)體及FPD在以下方面的檢測需求。

FPD：
材料評估中NIR和大樣品的高靈敏度測定影響力範圍。

半導(dǎo)體：
短波長激光和12英寸晶片整體表面的深紫外區(qū)測定大局。

光通信：
減反射膜NIR高靈敏度測定。

光學(xué)：
從DUV到NIR再到大樣品的高靈敏度分析邁出了重要的一步。

SolidSpec-3700/3700DUV特點

高靈敏度
SolidSpec-3700和3700DUV是臺使用3個檢測器的分光光度計：光電倍增管（PMT）探測器檢測紫外區(qū)和可見光區(qū)有序推進，近紅外區(qū)使用InGaAs 和 PbS檢測器。InGaAs 和 PbS檢測器的使用使得近紅外區(qū)域的靈敏度顯著增強需求。

深紫外區(qū)檢測
SolidSpec-3700DUV具有檢測深紫外區(qū)的能力堅定不移，可測定至165nm或175nm的積分球。此檢測是用氮氣吹掃光室和樣品室進行的更讓我明白了。注： 165nm是SolidSpec-3700DUV使用直接受光單元DDU-DUV測定）的最短波長迎難而上。

大樣品室
大樣品室（900W x 700D x 350H mm) 可在不損傷大樣品的前提下進行檢測。其垂直光路可直接測量大樣品同時保持它們的水平狀態(tài)探索。使用自動X-Y樣品臺（選配）測定樣品的尺寸是12英寸或310×310mm堅持先行。

Optional Accessories選配組件

Direct Detection Unit DDU/DDU-DUV (for liquid/solid transmission measurements)直接受光單元DDU/DDU-DUV對于液、固樣品透過率測定
自動X-Y樣品臺（自動測量）
大型鏡面反射附件
氮氣流量裝置
鏡面反射附件(5°12°30°45°)
積分球刪除樣品盤

一體軟件

SolidSpec-3700/3700DUV的UVProbe軟件包括光譜模塊滿意度，光度模塊情況較常見，動力學(xué)及報告模塊等功能。多重的安全性及可追蹤性以確保刪除數(shù)據(jù)的可靠性主要抓手。

光學(xué)組件需要對透光率及反射率進行高精度測定體製。SolidSpec-3700/37000DUV擁有三個檢測器全過程，覆蓋的范圍從紫外區(qū)到近紅外區(qū)。通過使用InGaAs和冷卻型PbS檢測器提高近紅外區(qū)的靈敏度探討。從而得到從紫外區(qū)到近紅外區(qū)高精度和高靈敏度光譜不負眾望。

傳統(tǒng)的分光光度計使用一個光電倍增管對紫外和可見區(qū)域進行檢測。但所有檢測器在檢測器轉(zhuǎn)換范圍內(nèi)靈敏度較低調解製度，因此在此范圍檢測時無法實現(xiàn)高靈敏度測定精準調控。 SolidSpec-3700/3700DUV通過使用InGaAs檢測器可在轉(zhuǎn)換領(lǐng)域內(nèi)進行高靈敏度檢測。

高靈敏度檢測

InGaAs檢測器和PbS 檢測器測定銳截止濾光片透過率的譜圖如下圖所示：SolidSpec-3700/3700DUV從850至1600nm范圍內(nèi)實現(xiàn)了低噪音水平應用的因素之一，與傳統(tǒng)的分光光度計相比解決，1300至1600nm范圍內(nèi)，噪聲減少了四分之一敢於監督。

SolidSpec-3700/3700DUV在1300-1500nm幅度，在透過率小于1%的前提下，噪聲水平小于0.1%重要的作用。此波長范圍的高靈敏度分析使SolidSpec-3700/3700DUV成為檢測低反射樣品的強有力工具經過，如在光傳輸中使用的防反射涂層及薄膜。

1500nm處的噪聲為優(yōu)水平力度，小于0.00005Abs（狹縫寬度8nm明確了方向，RMS），刪除使用直接受光單元DDU/DDU-DUV.小于0.00003Abs（狹縫寬度2nm勇探新路，RMS）

為進行深紫外區(qū)的測定保護好，檢測器的窗口和積分球內(nèi)壁均使用不吸收深紫外光的材料，SolidSpec-3700DUV的PMT檢測器使用特制熔融石英作為窗口材料表現，積分球內(nèi)壁使用深紫外區(qū)具有高反射性能的特殊樹脂特點。

深紫外區(qū)高靈敏度和低雜散光測定

深紫外區(qū)的高精度測定要求充足光通量和低雜散光。
右圖是使用直接受光單元DDU-DUV（選配）測定石英板的透過率光譜結論。
在紫外區(qū)域可得到超低噪聲的光譜和諧共生。

SolidSpec-3700/3700DUV配有大樣品室質生產力，可使大樣品進行無損檢測。其內(nèi)部尺寸為900W x 700D x 350H技術交流。
可測定的樣品尺寸700W x 560D x 40H mm先進的解決方案。樣品尺寸為12英寸或310 x 310 mm的樣品可用自動X-Y樣品臺（選配）
使用X-Y樣品臺的大樣品室

使用X-Y樣品臺測定12英寸硅片

自動檢測

為SolidSpec-3700/3700DUV研發(fā)的自動X-Y樣品臺可對提前點進行自動檢測，同時又可進行氮氣吹掃創造更多。

12英寸硅片上SiO2薄膜的反射光譜

12英寸硅片上薄膜的厚度測定