半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測(cè)試儀系統(tǒng)_陜西天士立科技研發(fā)生產(chǎn)_平替T3Ster_Phase11熱特性測(cè)試儀損耗。產(chǎn)品符合JESD 51-1講故事、JESD 51-14標(biāo)準(zhǔn)，用于DIODE性能穩定、IGBT全面革新、MOSFET、HEMT情況正常、GTO行業分類、功率IC等多種類型功率器件及其模組瞬態(tài)熱阻抗、熱結(jié)構(gòu)分析提高鍛煉、結(jié)構(gòu)函數(shù)輸出
ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測(cè)試儀系統(tǒng)
ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測(cè)試儀系統(tǒng)的產(chǎn)品特點(diǎn)
超高精度：溫度(T;)分辨率0.01℃℃發展邏輯，1MHz變頻采樣:
技術(shù)：第三代瞬態(tài)熱測(cè)試技術(shù)，可輸出結(jié)構(gòu)函數(shù)進(jìn)行熱結(jié)構(gòu)分析
行業(yè)：具備4路高速高精度采集模塊有所提升，采樣速度聽得進，精度均達(dá)到行業(yè)D尖水平
架構(gòu)：采用B/S架構(gòu)控制系統(tǒng)新的力量、可遠(yuǎn)程對(duì)設(shè)備進(jìn)行狀態(tài)監(jiān)控和控制，實(shí)現(xiàn)智能化;
瞬態(tài)監(jiān)測(cè)：連續(xù)采集加熱和冷卻區(qū)的結(jié)溫變化便利性，同步采集溫度監(jiān)控點(diǎn)數(shù)據(jù);
NPS技術(shù)：同步采集溫度監(jiān)控點(diǎn)(NTC/PTC)和結(jié)溫?cái)?shù)據(jù)全面展示，形成數(shù)據(jù)關(guān)系矩陣。
ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測(cè)試儀系統(tǒng)的應(yīng)用場(chǎng)景
器件結(jié)殼熱阻測(cè)量ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測(cè)試儀系統(tǒng)
散熱結(jié)構(gòu)分析ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測(cè)試儀系統(tǒng)
Die-Attach熱阻測(cè)量ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測(cè)試儀系統(tǒng)
DBC/AMB基本熱特性測(cè)量ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測(cè)試儀系統(tǒng)
界面熱阻測(cè)量與分析ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測(cè)試儀系統(tǒng)
PCB板級(jí)散熱結(jié)構(gòu)分析ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測(cè)試儀系統(tǒng)
散熱器性能測(cè)量ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測(cè)試儀系統(tǒng)
TIM材料熱導(dǎo)率測(cè)試ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測(cè)試儀系統(tǒng)
熱缺陷檢測(cè)ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測(cè)試儀系統(tǒng)
ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測(cè)試儀系統(tǒng)的“功能指標(biāo)”
ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測(cè)試儀系統(tǒng)的“溫度系數(shù)標(biāo)定”
ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測(cè)試儀系統(tǒng)的“瞬態(tài)熱測(cè)試”
四新技術、數(shù)據(jù)處理與輸出
4.1共同學習、“數(shù)據(jù)處理與輸出”ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測(cè)試儀系統(tǒng)
4.2、“熱模型抽取”ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測(cè)試儀系統(tǒng)
4.3深入、“脈沖熱阻”ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測(cè)試儀系統(tǒng)
4.4應用優勢、“安全工作區(qū)”ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測(cè)試儀系統(tǒng)
ST-HeatX迷你版（10A5V1C1P版本）
