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- 公司名稱 深圳市檀臻科技有限公司
- 品牌
- 型號(hào)
- 所在地 深圳市
- 廠商性質(zhì) 其他
- 更新時(shí)間 2024/7/1 14:35:43
- 訪問次數(shù) 87
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德國(guó)Becker&Hickl公司服務效率,專注于熒光壽命測(cè)量及熒光壽命顯微(FLIM)領(lǐng)域的研究及產(chǎn)品系統(tǒng)研發(fā)明確相關要求,利用其的多維TCSPC技術(shù),不斷的FLIM技術(shù)的前進(jìn)統籌發展∩罨嫱?;赽h公司常年的FLIM研究,可以提供基于各種顯微鏡的FLIM系統(tǒng)升級(jí)生產製造,方案靈活開展試點,性能可靠。
德國(guó)Becker&Hickl公司具有重要意義,專注于熒光壽命測(cè)量及熒光壽命顯微(FLIM)領(lǐng)域的研究及產(chǎn)品系統(tǒng)研發(fā)進一步,利用其的多維TCSPC技術(shù),不斷的FLIM技術(shù)的前進(jìn)強大的功能嶋H需求;赽h公司常年的FLIM研究,可以提供基于各種顯微鏡的FLIM系統(tǒng)升級(jí)優勢,方案靈活善謀新篇,性能可靠。
bh可提供完整的DCS-120共聚焦/雙光子FLIM系統(tǒng)和基于納米位移臺(tái)的PZ-FLIM-110系統(tǒng)便利性,也可以在各類顯微鏡上升級(jí)方法。除了單個(gè)通道的升級(jí),也可進(jìn)行多通道的升級(jí)提供有力支撐。此外切實把製度,還可提供FASTAC快速FLIM升級(jí)。
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DCS-120 FLIM系統(tǒng)
| PZ-FLIM-110 系統(tǒng)
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由于激光和探測(cè)器可以靈活的與掃描單元耦合自行開發,DCS-120和PZ-FLIM-110可以在幾乎所有熒光顯微鏡上進(jìn)行FLIM升級(jí)進行部署。而且,掃描速度可以自由控制應用情況,所以對(duì)于PLIM長(zhǎng)壽命實(shí)驗(yàn)也可輕松完成保護好。此外,主二向色鏡可以靈活更換表現,可以充分發(fā)揮超連續(xù)譜激光器及各波段激光器的優(yōu)勢(shì)特點。
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Zeiss
| Leica
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Olympus
| Nikon
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激光共聚焦/雙光子顯微鏡FLIM升級(jí)datasheet
FASTAC 快速成像FLIM系統(tǒng)datasheet
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![]() | 基于bh公司的DCS-120共聚焦掃描頭部署安排,結(jié)合大數(shù)值孔徑物鏡搖籃,可以對(duì)宏觀樣品采集FLIM數(shù)據(jù)。
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![]() | 激光共聚焦及雙光子顯微鏡等點(diǎn)掃描成像系統(tǒng)造價(jià)昂貴了解情況,對(duì)于成像空間分辨率要求不高的應(yīng)用深入,可以在普通熒光顯微鏡上升級(jí)寬場(chǎng)FLIM系統(tǒng)。
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成立于1993年開展研究,專注于熒光壽命測(cè)量及熒光壽命顯微(FLIM)領(lǐng)域的研究及產(chǎn)品系統(tǒng)研發(fā),利用其的多維TCSPC技術(shù)相互融合,不斷的FLIM技術(shù)的前進(jìn)首要任務。BH在范圍內(nèi)已提供超過1600套TCSPC系統(tǒng),并定期在范圍內(nèi)組織5個(gè)專題技術(shù)研討會(huì)不同需求,推動(dòng)FLIM技術(shù)在生命科學(xué)發展、生物醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域的應(yīng)用。
Dr. Wolfgang Becker著有《Advanced Time-Correlated Single Photon Counting Techniques》及《Advanced Time Correlated Single Photon Counting Applications》兩本專著總之,細(xì)致介紹了多維TCSPC技術(shù)及其相關(guān)應(yīng)用面向,為相關(guān)研究者提供了強(qiáng)大的支持。
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熒光壽命是指分子在單線激發(fā)態(tài)所平均停留的時(shí)間研學體驗。它不僅與物質(zhì)自身的結(jié)構(gòu)有關(guān)建設項目,而且與其所處微環(huán)境的極性、粘度等條件有關(guān)落實落細,因此通過熒光壽命測(cè)定可以直接了解物質(zhì)及所在體系發(fā)生的變化相結合。熒光現(xiàn)象多發(fā)生在納秒級(jí),正好是分子運(yùn)動(dòng)的時(shí)間尺度製高點項目,因此測(cè)量熒光壽命可以“看”到許多復(fù)雜的分子間作用過程為產業發展,例如超分子體系中分子間的簇集,固液界面上吸附態(tài)高分子的構(gòu)象重排有所增加、蛋白質(zhì)高級(jí)結(jié)構(gòu)的變化等各項要求。
FLIM-熒光壽命成像顯微,是將熒光壽命測(cè)量與激光掃描共聚焦顯微鏡等樣品掃描技術(shù)相結(jié)合的成像技術(shù)越來越重要的位置,通過掃描可以得到樣品各空間點(diǎn)熒光強(qiáng)度隨時(shí)間變化情況共謀發展。由于熒光壽命是所研究系統(tǒng)的固有特性,與細(xì)胞內(nèi)各處熒光探針的局部濃度無關(guān)結構重塑,且不受光漂白和散射的影響,與熒光成像相比有更多優(yōu)勢(shì)應用優勢。
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