一重要的作用、用途

ZXGP-500系列明暗場硅片檢測顯微鏡是適用于對太陽能電池硅片的顯微觀察各有優勢。本儀器配有大移動范圍的載物臺、落射照明器取得明顯成效、長工作距離的平場消色差物鏡取得顯著成效、大視野目鏡新模式，圖像清晰、襯度好不容忽視，同時配有偏光裝置組織了，及其高像素的數(shù)碼攝像頭. 本儀器配有暗場物鏡,使觀察硅片時圖像更加清晰,是檢測太陽能電池硅片的”金字塔” 的微觀形貌分布情況,及硅片的缺陷分析的理想儀器. 

硅片檢測顯微鏡可以觀察到肉眼難觀測的位錯、劃痕說服力、崩邊等;還可以對硅片的雜質(zhì)搶抓機遇、殘留物成分分析.雜質(zhì)包括: 顆粒、有機(jī)雜質(zhì)逐漸顯現、無機(jī)雜質(zhì)全會精神、金屬離子、硅粉粉塵等長效機製，造成磨片后的硅片易發(fā)生變花法治力量、發(fā)藍(lán)、發(fā)黑等現(xiàn)象分享，使磨片不合格. 是太陽能電池硅片生產(chǎn)過程中常用的檢測儀器之一共享。

技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)