太陽能硅片檢測顯微鏡DJM-300C
一、DJM-300C太陽能硅片檢測顯微鏡的特點和用途: 
          DJM-300系列太陽能硅片檢測顯微鏡增持能力，選用優(yōu)質(zhì)的光學(xué)元件共同努力，配有超大視場目鏡、落射照明器追求卓越、平場長工作距離明暗場物鏡逐漸完善，是針對半導(dǎo)體晶圓檢測、太陽能硅片制造業(yè)合理需求、電子信息產(chǎn)業(yè)是目前主流、治金工業(yè)開發(fā)的，作為高級工業(yè)金相顯微鏡使用高效脛撔?？蛇M(jìn)行明暗場觀察、落射偏光持續創新、廣泛用于工廠改善、研究機構(gòu)、高等院校對太陽能電池硅片協調機製、半導(dǎo)體晶圓檢測信息化、電路基板、FPD實踐者、精密模具的檢測分析取得明顯成效。系統(tǒng)配置了優(yōu)質(zhì)無限遠(yuǎn)光路系統(tǒng)、三目透反射顯微鏡DJM-300C數據、500萬高清晰數(shù)字?jǐn)z像頭及圖像測量管理軟件創新的技術，可對太陽能電池板圖像進(jìn)行檢查、拍照顯著、測量快速增長、編輯和保存輸出等多種操作。是太陽能電池硅片檢查的理想儀器占。

性能特點：

1高質量、采用了較的光學(xué)顯微鏡與現(xiàn)代成像分析融為一體的圖像測量技術(shù)。

2激發創作、可對太陽能電池硅片進(jìn)行檢查前景、拍照、測量增幅最大、保存共享應用、輸出等多種操作。

3標準、系統(tǒng)配置了優(yōu)質(zhì)無限遠(yuǎn)光路系統(tǒng)取得了一定進展、大尺寸工作臺的三目透反射顯微鏡

4、可以測量太陽能電池片裂紋長度大面積，崩邊長度角度積極參與，印刷位移角度偏差

5、可以測量主培養、副柵線交流研討，背電極的寬度、均勻度形式、柵線間距離及副柵線

   到電池邊的距離建設應用，柵線、斷線長度左右，斷線缺損和變色的面積

6背景下、可以檢查太陽能電池表面顏色色差、絨面色斑亮斑可靠保障，裂紋自然條件，崩邊設計標準，掉

   角缺口，印刷偏移主副柵線互動互補、背電極的斷線發揮重要帶動作用，缺損，扭曲意料之外，變色等現(xiàn)象文化價值。

7、可對雜質(zhì)置之不顧、殘留物成分進(jìn)行分析不斷完善。雜質(zhì)包括: 顆粒、有機雜質(zhì)方便、無機雜

   質(zhì)基礎上、金屬離子、硅粉粉塵等知識和技能。

取得顯著成效。

二、太陽能硅片檢測顯微鏡DJM-300C的技術(shù)參數(shù):

三發展契機、系統(tǒng)的組成 ： 

1廣泛關註、太陽能硅片檢測顯微鏡DJM-300       2、電腦適配鏡　

3發力、彩色數(shù)字?jǐn)z像機CK-500   　        4優勢領先、計算機(選購)