研究級(jí)材料顯微鏡Axio Imager 2
材料顯微鏡 Axio Imager 2用于材料樣品的高質(zhì)量顯微分析和表征應用擴展，如金相試樣自動(dòng)分析，高分子樣品的質(zhì)量控制增多，地質(zhì)樣品的偏光分析活動上，由于其優(yōu)異的光學(xué)質(zhì)量和強(qiáng)大的功能，是實(shí)驗(yàn)室分析和工業(yè)研發(fā)的研究型解決方案進一步推進。
用于材料研究的顯微分析系統(tǒng)
操作簡(jiǎn)便的顯微分析工作流程——正置顯微鏡Axio Imager 2可確保為質(zhì)量控制和流程控制提供準(zhǔn)確和可重復(fù)的結(jié)果導向作用。
正置顯微鏡Axio Imager 2具有出色的光學(xué)性能和均勻的照明。襯度管理器和光強(qiáng)管理器始終確保定義的條件和可重現(xiàn)的結(jié)果示範推廣。使用ACR自動(dòng)檢測(cè)和配置Axio Imager.Z2m的物鏡和襯度模塊堅持好。
四種不同的機(jī)座供您選擇，通過(guò)專門的解決方案可擴(kuò)展應(yīng)用：顆粒度分析大幅增加、關(guān)聯(lián)顯微分析或共聚焦顯微系統(tǒng)LSM 900特性。
襯度
提供多種技術(shù)選擇
掌握研究方向并檢查多種材料成就∧芰ㄔO？蓪?duì)金屬結(jié)構(gòu)關註、復(fù)合材料、玻璃無障礙、木材和陶瓷進(jìn)行分析連日來。可檢查聚合物認為、液態(tài)晶體系統。
提供多種對(duì)比技術(shù)選擇，可從中獲得更多信息重要意義。使用反射光明場(chǎng)交流等、暗場(chǎng)、微分干涉（DIC）規劃、圓微分干涉（C-DIC）提高、偏振光或熒光觀察樣品。使用透射光明場(chǎng)基礎上、暗場(chǎng)各領域、微分干涉（DIC）、偏振光或圓偏振光檢查樣品保持競爭優勢。
襯度管理器可確保Axio Imager 2照明設(shè)置的重復(fù)性進行培訓。
人體工程學(xué)設(shè)計(jì)
多元化設(shè)計(jì)
Axio Imager.Z2m或Axio Imager.M2m的觸控屏可顯示關(guān)鍵的操作功能，用指尖即可控制所有的電動(dòng)組件長效機製。
額外的控制按鈕人性化地分布在調(diào)焦旋鈕附近法治力量，通過(guò)觸感表面易于區(qū)分。
Axio Imager.D2m上配有5個(gè)預(yù)編程的按鈕分享，Axio Imager.Z2m上配有10個(gè)用戶自定義按鈕共享。
熱顯微分析
靈活記錄溫度變化
您是否希望研究溫度對(duì)金屬、晶體方式之一、陶瓷或塑料性能的影響生動？
通過(guò)AxioVision和Linkam加熱載物臺(tái)，您可以定義加熱或冷卻實(shí)驗(yàn)創新能力。以時(shí)間序列方式記錄溫度變化模式新品技。最終獲得每個(gè)時(shí)序圖像中溫度和真空數(shù)據(jù)的日志。在加熱或冷卻過(guò)程中觀察樣品的變化求得平衡，例如在質(zhì)量控制領(lǐng)域紮實做。
