用于高品質(zhì)成像與分析的蔡司場發(fā)射掃描電子顯微鏡
將的分析性能與場發(fā)射掃描技術(shù)相結(jié)合過程中，利用成熟的Gemini電子光學元件去突破。多種探測器可選：用于顆粒、表面或者納米結(jié)構(gòu)成像達到。Sigma 半自
動的4步工作流程節(jié)省大量的時間：設(shè)置成像與分析步驟作用，提高效率。
Sigma 300性價比高。Sigma 500裝配有的背散射幾何探測器技術特點，可快速方便地實現(xiàn)基礎(chǔ)分析提高鍛煉。任何時間，任何樣品均可獲得精準可重復的分析結(jié)
即刻聯(lián)系蔡司了解更多有關(guān) Sigma系列產(chǎn)品的信息有所提升！
使用新穎的ETSE和Inlens探測器在高真空下獲取高分辨率表面形貌信息新的力量。
使用VPSE或C2D檢測器在可變壓力模式下獲得清晰圖像先進水平。
SmartSEM Touch是現(xiàn)已有操作系統(tǒng)的附加組件，用于多用戶環(huán)境核心技術，是一種簡潔的用戶界面應用提升。
它同時為操作經(jīng)驗豐富的專家用戶和初級用戶提供了簡便的操作。
基于實際的實驗室環(huán)境溝通協調，SEM的操作可能是電子顯微鏡專家的專屬領(lǐng)域要素配置改革。
但是體系，非專業(yè)用戶（例如學生保障性，接受培訓不久的人員或質(zhì)量工程師）也需要使用SEM獲取數(shù)據(jù)，因此也有使用SEM的需求責任製。Sigma 300和Sigma
300 VP將非專業(yè)用戶的需求考慮在內(nèi)十分落實，其用戶界面選項可滿足操作經(jīng)驗豐富的顯微鏡專家和顯微鏡新手用戶的操作需求。
利用探測術(shù)為您的需求定制Sigma規則製定，表征所有樣品製造業。
利用新一代的二次探測器關規定，獲取高達50％的信號圖像發展基礎。在可變壓力模式下利用Sigma 創(chuàng)新的C2D和可變壓力探測器，在低真空環(huán)境下獲取高達
4步工作流程讓您控制Sigma的所有功能同期。在多用戶環(huán)境中，從快速成像和節(jié)省培訓首先使命責任，先對樣品進行導航產業，然后設(shè)置成像條件。
首先情況較常見，先對樣品進行導航可持續，然后設(shè)置成像條件。
接下來對樣品感興趣的區(qū)域進行優(yōu)化并自動采集圖像。最后使用工作流程的步構建，將結(jié)果可視化創新科技。
將掃描電子顯微鏡與基本分析相結(jié)合：Sigma的背散射幾何探測器大大提升了分析性能，特別是對電子束敏感的樣品共創輝煌。
在一半的檢測束流和兩倍的速度條件下獲取分析數(shù)據(jù)高效流通。
獲益于8.5mm短的分析工作距離和35°夾角，獲取完整且無陰影的分析結(jié)果精準調控。
