Raims CIA 自動清潔度檢查軟件
Raims - Cleanliness Inspector and Analysis
1、 高整合的自動分析軟件 Automatic Analysis System
全面整合進(jìn)口顯微鏡臺上與臺下、進(jìn)口數(shù)碼設(shè)備用的舒心、進(jìn)口XYZ-3軸電動掃描臺；項目化管理集聚效應、流程化操作集成。可檢測零件清潔度互動講、油液清潔度穩定性、鐵譜顆粒統(tǒng)計等像一棵樹。
2、 自動掃描樣品 Auto Scan去突破，Support Multiple Scanning Area
支持多種掃描方式：矩形區(qū)域能運用、圓形區(qū)域等；滿足各種應(yīng)用需要作用；同時可測量零件清潔度情況正常、油液清潔度、鐵譜分析等技術特點。提供專業(yè)夾具醒悟，使樣品更平整。
3高質量、 多種自動聚焦算法 Multiple Automatic Focus Algorithm
支持多種聚焦模式：補償聚焦也逐步提升、跟蹤聚焦、手動聚焦註入了新的力量、EFI聚焦等重要的作用。采用新的聚焦算法，保證在試樣不夠平整的情況下也能得到清晰的圖像去創新；
4足夠的實力、 自動拍照、視場自動定位 Automatic Camera and Field Position
采集過程自動拍照結構、照片自動保存更適合，進(jìn)度狀態(tài)實時可見；照片信息存入數(shù)據(jù)庫溝通協調，方便查詢要素配置改革；
提供視場圖片瀏覽功能，可以實現(xiàn)視場定位回溯保障性、重新拍照等功能帶動產業發展。
5、 多種檢測標(biāo)準(zhǔn) Multi Testing Standard
支持多種國際國內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)十分落實，包括ISO16232倍增效應、ISO4406、ISO4407製造業、NAS1638優化服務策略、VDA19、STD4189發展基礎、GB/T20082兩個角度入手、GB/T14039等；支持用戶自定義評級標(biāo)準(zhǔn)顯示。支持金屬創新為先、非金屬真正做到、纖維顆粒識別統(tǒng)計集聚；支持顆粒高度測量競爭力。
6、 自動識別反光顆粒狀況、不反光顆粒機製性梗阻、纖維 Auto Analysis
系統(tǒng)自動識別顆粒，可以同時檢查出不反光顆粒和反光顆粒（一般為金屬顆粒）全過程、纖維集成應用。自動對三種顆粒進(jìn)行檢查分類。 支持設(shè)置各種顆粒的合格區(qū)間不負眾望。支持自定義三種顆粒的區(qū)分設(shè)置高效流通。支持陰影校正、提高識別精度精準調控；
7功能、 支持跨視野超大顆粒、自動校正偏移
系統(tǒng)自動識別顆粒解決、自動分析顆粒類別預期、自動統(tǒng)計顆粒參數(shù)。同時支持修改顆粒幅度。提供多種統(tǒng)計分析工具：MAP圖結構、顆粒列表、統(tǒng)計結(jié)果貢獻、直方圖等規模最大；
自動校準(zhǔn)掃描系統(tǒng)。
8統籌、 統(tǒng)計與分析 Analysis and Statistics
系統(tǒng)自動識別顆粒成效與經驗、自動分析顆粒類別、自動統(tǒng)計顆粒參數(shù)堅實基礎。同時支持修改顆粒稍有不慎。提供多種統(tǒng)計分析工具：MAP圖、顆粒列表等地、統(tǒng)計結(jié)果最為顯著、直方圖等；
9規定、 可靠安全的數(shù)據(jù)交互功能
所有檢測原始圖片和統(tǒng)計數(shù)據(jù)都會自動存儲環境，方便出現(xiàn)問題時隨時復(fù)查。所有顆粒數(shù)據(jù)可快速瀏覽責任、定位應用情況、排序保護好。支持管理員進(jìn)行顆粒數(shù)據(jù)修正功能，解決特殊顆粒及聚集顆粒識別問題表現。
10特點、 專業(yè)清潔度報告 Professional Cleanliness Report
支持模板化報告生成模式，包含統(tǒng)計數(shù)據(jù)結論、評級和諧共生、濾片全貌圖、顆粒照片等信息適應性強；可選擇多種報告模式技術交流。
11．用心服務(wù)放心使用
全面的服務(wù)在于您的需要不只是一件產(chǎn)品，而在于您的企業(yè)或科研發(fā)展的同時拓展，有我們對您的要求和需要一呼即應(yīng)創造更多。良好長久的合作、使您便是我們成功之處不斷進步。
Raims 系統(tǒng)自問世以來工藝技術，深受廣大工廠、企業(yè)更加廣闊、大學(xué)及研究所等用戶的信賴和支持損耗；一旦獲取，終生免費升級非常完善。
