TESCAN綜合礦物分析系統(tǒng)(TIMA-X)是一款 以掃描電子顯微鏡為基礎(chǔ)的全新自動(dòng)化礦物分析設(shè) 備稍有不慎。
它通過掃描電鏡平臺(tái)結(jié)合BSE圖像和EDS分 析來識(shí)別礦物，并可以得到礦物質(zhì)濃度等地，元素分布 和礦物質(zhì)地特征最為顯著，如晶粒尺寸、締合規定、解離/鎖定等 參數(shù)信息以及圖像信息穩定，從而實(shí)現(xiàn)巖石、礦石供給、濃 縮物、尾礦、漫出殘?jiān)蛞睙挳a(chǎn)品等樣品的快速定 宣分析以及參數(shù)測定等解決方案。
TIMA-X綜合礦物分析系統(tǒng)還可以自動(dòng)捜索重 礦物,包含鉗族,金,銀,稀土等趨勢。
全自動(dòng)高集成系統(tǒng)
TIMA-X最多可使用四個(gè)能譜儀，并標(biāo)配全功 能能譜軟件以及TIMA礦物分析軟件上高質量，從而提高性 能和可靠性一站式服務。此外，TIMA-X能譜探測器采用 SI3N4窗口設(shè)計(jì)著力增加，增加了 X射線透過率智能化，可以在較 高計(jì)數(shù)率情況下獲得更優(yōu)的能量分辨率。
TIMA-X配套的專用礦物分析軟件具有許多的功能處理，包括更的礦物鑒定技術(shù)建設，以及在低 強(qiáng)度下的譜峰疊加技術(shù)、離線定最分析技術(shù)等助力各行。
? 的Autoloader技術(shù)實(shí)現(xiàn)大批量樣品的 自動(dòng)前來體驗、穩(wěn)定和持續(xù)測試
? 可以配置CL、WDX以及Raman等探測 器確定性，進(jìn)行同時(shí)成像
? 集成多個(gè)模塊更加廣闊，包括礦物相分析、解離度分 析以及髙相搜索模塊等
? 的同相譜圖畳加技術(shù)講故事，減少數(shù)據(jù)占用空 間非常完善，極大增加信噪比
? 具有強(qiáng)大的數(shù)據(jù)庫，包含超過4700余種礦 物信息
1.高嶺土樣品全面革新，可以明顯分辨石英（藍(lán)色）和云母碎片（黃色）O
2.蝕變花崗巖樣品作用，清晰可見各種礦物分布特點(diǎn)。
3.模態(tài)分析線上線下，可詳細(xì)評(píng)估礦物分布及其比例發揮重要作用。
4.顆粒度分析：按礦物大小分類的銅礦石顆粒。
