產(chǎn)品型號(hào)：WinSPM A? 標(biāo)準(zhǔn)的原子力顯微鏡? 采用壓電自感應(yīng)探針? 免激光調(diào)節(jié)、操作簡(jiǎn)單? 創(chuàng)新產(chǎn)品可持續、品質(zhì)

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

采用壓電自感應(yīng)探針的原子力顯微鏡（AFM）模樣，創(chuàng)新產(chǎn)品、品質(zhì)服務。實(shí)現(xiàn)形貌成像分析很重要、譜曲線測(cè)量等功能，免激光調(diào)節(jié)覆蓋、操作簡(jiǎn)單異常狀況。推薦教學(xué)教育領(lǐng)域。

儀器特點(diǎn)

• 采用基于石英音叉的壓電自感應(yīng)探針高效，如Akiyama探針應用創新。

• 測(cè)量成像無(wú)需激光檢測(cè)提高，操作簡(jiǎn)單，原理清晰的特性，可快速完成實(shí)驗(yàn)交流。

• 支持頻率調(diào)制模式的形貌成像和力梯度-距離曲線等測(cè)量分析功能。

• 采用高精度嵌入式測(cè)控系統(tǒng)提供堅實支撐，主機(jī)隔音抗震設(shè)計(jì)還不大，抗干擾能力強(qiáng)。

• 內(nèi)部空間足夠安裝高倍光學(xué)物鏡信息化技術，方便與光學(xué)顯微鏡適配發揮作用。

• 可通過(guò)選配模塊和擴(kuò)展接口增強(qiáng)系統(tǒng)功能。

Akiyama自感應(yīng)探針

主要技術(shù)參數(shù)

• 一鍵式快速自動(dòng)進(jìn)樣系統性，行程23mm勇探新路，最小步距50nm。

• 手動(dòng)調(diào)節(jié)樣品檢測(cè)位置傳遞，調(diào)節(jié)范圍±10.0mm。

• 樣品尺寸的直徑20mm勞動精神，厚度20mm開展攻關合作。

• 標(biāo)配管型掃描器，掃描范圍約為20μm×20μm×5μm預下達。

• 樣品逐行掃描成像的有效手段，掃描成像速率0.1-30行/秒。

• 一次掃描多幅圖像方案，圖像分辨高達(dá)1024×1024物理象素關鍵技術。

• 自感應(yīng)探針采用頻率調(diào)制模式，數(shù)字化PID反饋控制的響應(yīng)時(shí)間為10μs研究成果。

• 嵌入式測(cè)控系統(tǒng)采用主頻為450MHz的雙核處理器（ARM + DSP）取得了一定進展，內(nèi)置數(shù)模混合結(jié)構(gòu)的鎖相放大器大面積，與上位機(jī)連接采用以太網(wǎng)TCP/IP通訊協(xié)議積極參與。

• 適配光學(xué)顯微鏡物鏡的最短工作距離僅需9.5毫米。

標(biāo)準(zhǔn)配置：

• 主控制器

• 主機(jī)底座及隔音罩

• 主機(jī)探頭及探針架（A型）

• 手動(dòng)樣品調(diào)節(jié)臺(tái)（調(diào)節(jié)范圍±10.0mm）

• 管型掃描器（掃描范圍20μm）

• 計(jì)算機(jī)及專(zhuān)用測(cè)控軟件

• 儀器附件

A型探針架（WinSPM A-Probe）

選配模塊：

• 掃描隧道顯微鏡（STM）模塊培養，包括：掃描隧道顯微鏡的硬件與軟件交流研討、STM探針架（WinSPM T-Probe） 

• 納米加工模塊，包括：圖形化納米加工形式、機(jī)械刻蝕建設應用、矢量掃描等功能

• 輔助觀察光學(xué)顯微鏡系統(tǒng)：物鏡倍數(shù)：0.7X～4.5X；總放大倍數(shù)：42-266X連續(xù)可調(diào)（14”有效顯示面積）日漸深入；工作距離：115mm

• 管型掃描器模塊：掃描范圍有8μm動力、20/30μm和100μm共3種規(guī)格

應(yīng)用領(lǐng)域及實(shí)驗(yàn)

• 實(shí)驗(yàn)一：原子力顯微鏡基本原理與操作同時，典型的應(yīng)用領(lǐng)域?yàn)榻虒W(xué)教育行業(yè)，包括：大學(xué)物理演示實(shí)驗(yàn)生產效率，中學(xué)納米科技創(chuàng)新實(shí)驗(yàn)產能提升。

• 實(shí)驗(yàn)二：原子力顯微鏡形貌成像及分析，典型實(shí)驗(yàn)內(nèi)容包括：軟磁盤(pán)或光盤(pán)等常規(guī)樣品形貌成像及分析節點、光柵樣品的形貌成像及關(guān)鍵尺寸測(cè)量通過活化、納米臺(tái)階的測(cè)量分析。

• 實(shí)驗(yàn)三：譜曲線測(cè)量與納米力學(xué)實(shí)驗(yàn)的特點，典型實(shí)驗(yàn)內(nèi)容包括：力梯度-距離曲線的測(cè)量分析健康發展、液體膜厚度的測(cè)量與分析。

• 實(shí)驗(yàn)四：掃描隧道顯微鏡（STM）大數據，包括形貌成像和隧道譜長效機製。（需增配STM模塊）

• 實(shí)驗(yàn)五：納米加工實(shí)驗(yàn)，如圖形化納米刻蝕實(shí)驗(yàn)數字技術。（需增配納米加工模塊） 

• 實(shí)驗(yàn)六：與高倍的光學(xué)顯微鏡或光譜儀器的聯(lián)用奮戰不懈，如與光學(xué)顯微鏡聯(lián)用可實(shí)現(xiàn)從微米級(jí)到納米級(jí)分辨率的原位觀察。（需增配與光譜儀聯(lián)用模塊）措施。