品名:X射線熒光鍍層厚度測(cè)量?jī)xSFT9400型號(hào):SFT9400系列概要:SFT9000系列里機(jī)型“SFT9455”今年，搭載75W高速X射線管和雙重檢驗(yàn)裝置(半導(dǎo)體檢驗(yàn)裝置十比例計(jì)數(shù)管)

品名: X射線熒光鍍層厚度測(cè)量?jī)xSFT9400
型號(hào): SFT9400系列
概要: SFT9000系列里機(jī)型“SFT9455”穩步前行，搭載75W高速X射線管和雙重檢驗(yàn)裝置(半導(dǎo)體檢驗(yàn)裝置十比例計(jì)數(shù)管)結構不合理。適用“薄膜”、“金屬膜”逐步改善、“極微小部分測(cè)定”等所有鍍膜膜厚測(cè)定要求的高性能膜厚測(cè)量?jī)x器效果較好。而且“SFT9455”在鍍膜厚度測(cè)量功能的基礎(chǔ)上還可以用作異物定性分析和材料成分分析。
特長(zhǎng)
搭載雙向分離工檢測(cè)器（半導(dǎo)體檢測(cè)器+比例計(jì)數(shù)管）：搭載在X射線能量分辨率上持續，優(yōu)秀的半導(dǎo)體檢測(cè)器（起作用液化氮）和計(jì)數(shù)率優(yōu)秀的比例計(jì)數(shù)管等多個領域，能夠根據(jù)運(yùn)用需要對(duì)應(yīng)使用。特點(diǎn)是半導(dǎo)體檢測(cè)器，能夠區(qū)分Ni和Cu這樣相似的元素應用擴展。它有以下的特點(diǎn)：
1.能夠?qū)i/Cu和Au/Ni/Cu不需要二次過濾的情況下進(jìn)行測(cè)定體驗區。
2.對(duì)于含Br的打印基板，可以做到不受Br干擾進(jìn)行高精度的Au鍍膜厚度測(cè)定活動上。
3.能夠測(cè)定0.01μm以下極薄的Au鍍膜有望。
4.薄膜FP軟件：對(duì)應(yīng)含鉛的合金鍍膜和多層鍍膜等，適用于廣泛的運(yùn)用領(lǐng)域導向作用。
5.適用測(cè)定極微小部分,15μmΦ的準(zhǔn)直管為標(biāo)準(zhǔn)裝備方案。能夠測(cè)定微小部分鍍膜厚度。
6.搭載75W高性能X射線管十大行動。
7.容易對(duì)微小領(lǐng)域進(jìn)行觀察左右。搭載了能4階段切換的可變焦距光學(xué)系統(tǒng)。
8.能夠測(cè)定大型打印基板的大型平臺(tái)綜合措施。
9.依據(jù)照明可靠保障，能夠觀察以往難以觀察的樣品。
10.搭載了防止有凹凸的樣品碰撞的傳感器設計標準。
11.利用伺服馬達(dá)精確的驅(qū)動(dòng)平臺(tái)多種。
12.正確的對(duì)焦,利用激光能夠正確得對(duì)焦測(cè)試樣品。
13.報(bào)告制作軟件,運(yùn)用微軟的軟件能夠簡(jiǎn)單得把測(cè)定的數(shù)據(jù)制作成書面材料充分發揮。