品名:X射線熒光鍍層厚度測量儀型號:SFT-110概要:1.即放即測！2.10秒鐘完成50nm的極薄金鍍層測量的發生！3.可無標樣測量組成部分！4.通過樣品整體圖像更方便選擇測量位置！特長［SFT-110的主要特征］1.通過自動定位功能提高操作性測量樣品時狀態，以往需花費約10秒的樣品對焦技術節能，現(xiàn)在3秒內(nèi)即可完成，大大提高樣品定位的操作性

品名:X射線熒光鍍層厚度測量儀
型號:SFT-110
概要:1.即放即測廣泛認同！2.10秒鐘完成50nm的極薄金鍍層測量國際要求！3.可無標樣測量！4.通過樣品整體圖像更方便選擇測量位置鍛造！
特長
［SFT-110的主要特征］
1. 通過自動定位功能提高操作性 測量樣品時競爭激烈，以往需花費約10秒的樣品對焦，現(xiàn)在3秒內(nèi)即可完成改善，大大提高樣品定位的操作性空白區。
2. 微區(qū)膜厚測量精度提高 通過縮小與樣品間的距離等，致使在微小準直器（0.1信息化、0.2mm）下形勢，也能夠大幅度提高膜厚測量的精度。
3. 多達5層的多鍍層測量 使用薄膜FP法軟件取得明顯成效，即使沒有厚度標準片也可進行多達5層10元素的多鍍層測量約定管轄。
4. 廣域觀察系統(tǒng)（選配）可從250×200mm的樣品整體圖像測量位置。
5. 對應大型印刷線路板（選配） 可對600×600mm的大型印刷線路板進行測量創新的技術。
6. 低價位 與以往機型相比發揮，既提高了功能性又降低20%以上的價格。