產(chǎn)品詳情

InnovateT5型全譜直讀光譜儀采用國際標(biāo)準(zhǔn)的設(shè)計(jì)和制造工藝技術(shù)與時俱進，應(yīng)用了日本濱松公司**進(jìn)的CMOS信號采集元件，每塊CMOS都可以單獨(dú)設(shè)值火花個(gè)數(shù)初步建立，與國際光譜儀＊＊技術(shù)同步綜合運用，采用真空光室設(shè)計(jì)及全數(shù)字激發(fā)光源。這款CMOS光譜儀的方法，既包含了CCD光譜儀的全譜特性實事求是，又具備PMT光譜儀對非金屬元素的極低檢出限，整機(jī)設(shè)計(jì)合理落到實處，操作簡單易學(xué)服務水平，具有數(shù)據(jù)＊＊，長期穩(wěn)定性好等優(yōu)點(diǎn)技術創新。

鑄造 冶金 機(jī)械加工 消防 航天航空 金屬加工 金屬材料質(zhì)量鑒定 新材料開發(fā)

全譜譜線圖

CCD+CMOS全譜分析技術(shù)

豐富的譜線信息處理方法，分析靈敏線更多，保證分析的準(zhǔn)確度持續向好；

基于全譜測量的數(shù)據(jù)習慣，能夠正確區(qū)分背景和譜線，有效提高測量精度進展情況；

智能選擇＊合適的靈敏線的積極性，通過多譜線結(jié)合技術(shù)，實(shí)現(xiàn)低中高含量段的檢測需求生產效率；

基于全譜測量數(shù)據(jù)的多峰擬合技術(shù)使命責任，有效消除譜線干擾效果，實(shí)現(xiàn)精確測量。

CMOS線陣傳感器

**的實(shí)時(shí)智能漂移校正技術(shù)

在分析過程中實(shí)時(shí)進(jìn)行光譜漂移校正強化意識，增強(qiáng)儀器穩(wěn)定性長期間；

減少標(biāo)準(zhǔn)化校正次數(shù)，延長校正周期現場；

自動完成儀器校正高端化，操作更加簡便。

譜線漂移校正

的CMOS檢測技術(shù)優(yōu)于CCD

CMOS相比CCD具有更高的靈敏度和響應(yīng)速度我有所應；

CMOS相比CCD具有更好的線性度提單產；

CMOS相比CCD具有的紫外光敏感度，在深紫外區(qū)如碳至關重要、磷發展空間、硫、硼有所應、砷足了準備、氮等短波元素的檢測更準(zhǔn)確。

紫外元素強(qiáng)度對比

• 創(chuàng)CMOS全譜接收技術(shù)著力提升；

• 人性化一鍵激發(fā)深刻內涵，一鍵緊急停止；

• 一體化光室光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)融合；

• 可編程脈沖全數(shù)字光源技術(shù)深入闡釋；

• 可分析Fe、Al完成的事情、Cu物聯與互聯、Zn、Ni改造層面、Ti供給、Mg、Co等多種基體經驗分享；

• 波長范圍140-680nm投入力度，可滿足更多元素的分析要求。