TDM-10小型X射線衍射儀TDM-10型X射線小型衍射儀基礎，主要用于對粉末性能、固體和類似糊狀材料進行物相分析，該設備體積小對外開放，重量輕，耗電少深入交流研討，能快速對樣品進行校準和測試資料，衍射峰位置的測量精度0.001廣泛應用，用于計算機控制、在Windows窗口下可直接看到數(shù)據(jù)的采集和及時處理

TDM-10 小型X射線衍射儀

 

TDM-10型X射線小型衍射儀橫向協同，主要用于對粉末哪些領域、固體和類似糊狀材料進行物相分析，該設備體積小不斷創新，重量輕建立和完善，耗電少，能快速對樣品進行校準和測試參與水平，衍射峰位置的測量精度0.001°大型，用于計算機控制、在Windows窗口下可直接看到數(shù)據(jù)的采集和及時處理聯動。
 

 

 

 

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X射線衍射儀用途和原理
 

TD系列X射線衍射儀主要用于粉末增持能力、固體、類似糊狀材料或薄膜樣品的物相定性行業內卷、定量分析追求卓越、晶體結(jié)構(gòu)分析、材料結(jié)構(gòu)分析參與能力、晶體的取向性分析合理需求、宏觀應力或微觀應力的測定、晶粒大小測定充分發揮、結(jié)晶度測定等高效。依據(jù)德拜-謝樂幾何原理，可獲得高精度測試結(jié)果提高，廣泛應用于從事地質(zhì)機構、海洋、生物交流、化學基礎、核反應站的實驗室，同時也應用于工業(yè)控制實驗室和高等院校的教育實驗室等還不大。























粉末衍射法的基本原理是

     一束單色的X射線入射到取向任意的高產、數(shù)目很大的小晶體上，小晶體的尺寸大約為1~10µm發揮作用。為減少擇優(yōu)取向良好，通常多晶樣品是轉(zhuǎn)動的。假設晶體中有一點陣平面（hkl）滿足布拉格反射條件銘記囑托，入射線與（hkl）點陣平面構(gòu)成θ角引領，其反射線與入射線的夾角則為2θ.由于小晶體的取向是任意的，每一組（hkl）平面的衍射線都形成相應以入射線為軸示範，頂角為4θ的圓錐面應用前景。凡是晶面間距大于λ/2（即sinθ<1的情況）有很大提升空間、滿足布拉格反射條件的點陣平面組都可以獲得相應的衍射線錐面。所有的粉末X射線衍射的實驗方法都包括有X射線源和用于正確地記錄滿足布拉格定律的晶體衍射線的實驗裝置首次。

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