QCL加強(qiáng)的 FT-IR 顯微鏡/紅外激光成像
HYPERION II是紅外顯微鏡領(lǐng)域的創(chuàng)新力量共謀發展。它提供低至衍射極限的紅外成像學習，并在ATR顯微鏡中設(shè)定基準(zhǔn)。它將FT-IR和紅外激光成像（ILIM）顯微鏡結(jié)合在一個設(shè)備中聽得進，提供了三種測量模式：透射新的力量、反射和ATR。
功能μ-FT-IR探測器的選擇：寬便利性，中全面展示，窄頻段LN2-MCT，熱電冷卻（TE）MCT深刻認識；
用于紅外成像的焦平面陣列探測器（64x64或128x128 像素）核心技術；
通過激光紅外成像模塊（ILIM，激光等級1）實(shí)現(xiàn)可選QCL主動性；
物鏡選擇：3.5x/15x/36x/74x IR創造性、20xATR、15xGIR道路、4x/40xVI規模設備；
光譜范圍擴(kuò)展 - 從近紅外線（NIR）到遠(yuǎn)紅外線（FIR）；
光闌選擇：手動刀口指導，孔徑輪自動刀口競爭力。近紅外的金屬孔；
附件和樣品臺的選擇：宏程序紅外成像配件進一步完善、冷卻/加熱樣品臺集聚、樣品倉等；
視覺/光學(xué)工具的選擇：暗場照明調整推進、熒光照明狀況、可見光偏振器、紅外偏振器等機製。
HYPERION II可以提供光譜和可見光圖片的匹配全過程。適用于任何測量模式（包括 ATR 成像）
突破衍射極限的高靈敏度 FT-IR 顯微鏡和焦平面陣列（FPA）檢測器成像
通過（可選）紅外激光成像模塊（ILIM，激光等級1）將FT-IR和QCL技術(shù)結(jié)合起來
所有測量模式下的紅外激光成像（ATR探討、透射不負眾望、反射）
相干降低技術(shù)為非人為處理的激光成像測試，無靈敏度或速度損失
高成像速度0.1 毫米2每秒 （FPA情況較常見， 全頻譜）6.4 毫米2 每秒（ILIM，單波數(shù)）
可選的TE-MCT探測器，用于在無液氮的情況下進(jìn)行高空間分辨率和靈敏度的紅外顯微鏡檢測
發(fā)射光譜功能和可選光譜范圍擴(kuò)展
應(yīng)用領(lǐng)域生命科學(xué)/細(xì)胞成像
藥物
發(fā)射率研究（例如 LED）
失效和原因分析
刑偵
微塑料
工業(yè)研發(fā)
聚合物和塑料
表面表征
半導(dǎo)體
