二維光熱掃描顯微鏡(Model PTM-2000)責任，適用于各類固體表面及亞表面缺陷的檢測和分析應用情況，特別是各類光學(xué)薄膜、光學(xué)元器件表面及亞表面吸收缺陷的檢測和分析組建。本系統(tǒng)是一款非接觸式表現、高分辨率、全自動化檢測儀器深刻變革，可以根據(jù)用戶具體需求進(jìn)行紫外結論、可見或者近紅外波段的精密檢測和分析。

三維光熱掃描顯微鏡(Model PTM3D-2000)質生產力，適用于各類光學(xué)元器件及材料體內(nèi)缺陷的三維檢測和分析適應性強。本系統(tǒng)是一款非接觸式、高分辨率先進的解決方案、全自動化檢測儀器拓展。

1、高靈敏度信息；

2相關、高重復(fù)精度；

3豐富內涵、一鍵式操作生產效率；

4、樣品更換便捷發展、無需重復(fù)校準(zhǔn)保持穩定；

5、可對吸收缺陷進(jìn)行二維（三維）高分辨率成像面向；

6支撐作用、可進(jìn)行樣品或者選定的缺陷點在激光輻照下的穩(wěn)定性分析；

7建設項目、泵浦光源：可以標(biāo)配最為突出，也可根據(jù)用戶需求選配或者由客戶自配。

注：可以根據(jù)客戶需求提供同類特制儀器和相關(guān)測試的解決方案相結合。