性能優(yōu)勢

科研級(jí)CMOS檢測器技術創新，全元素分析，開創(chuàng)PPM級(jí)元素分析新紀(jì)元

噪聲低 科研級(jí)感光元件噪聲小資料，抗干擾強(qiáng)廣泛應用，具備防光暈技術(shù)

抗干擾 CMOS探測器集成度高，可避免外部電路引入噪聲

讀取速度快 采用OEO（Optimal Element-Oriented）技術(shù)橫向協同，像素信號(hào)單獨(dú)讀取哪些領域，實(shí)現(xiàn)參數(shù)優(yōu)化設(shè)計(jì)

紫外響應(yīng)高 超高紫外響應(yīng)靈敏度，無需鍍膜不斷創新，實(shí)現(xiàn)非金屬元素（N,C,S,P）分析建立和完善，效果更優(yōu)

經(jīng)典雙光室設(shè)計(jì)，光譜范圍寬參與水平，元素分辨率有保證

獨(dú)立設(shè)計(jì)的紫外光學(xué)系統(tǒng)大型，激發(fā)臺(tái)直接采光，專為N明確相關要求，C重要意義，S，P等紫外元素測量設(shè)計(jì)深化涉外，刻線數(shù)多體系，分辨率高，兼顧高分辨和譜線范圍優(yōu)勢開展試點，譜線范圍寬攜手共進，分析元素多，性能好

單獨(dú)設(shè)計(jì)的紫外光學(xué)系統(tǒng)推進一步，體積小經過，結(jié)構(gòu)簡單強大的功能，，采用多孔吹掃技術(shù)解決方案，可將空氣迅速吹掃干凈優勢，確保元素分析效果

穩(wěn)定性升級(jí)，重新定義光學(xué)產(chǎn)品穩(wěn)定性

壓鑄鋁合金整體光室增產，4級(jí)消除應(yīng)力處理

光室恒溫設(shè)計(jì)便利性，保證光譜位置長期穩(wěn)定，不漂移

氣流路的精確設(shè)計(jì)高產，一切為了結(jié)果更穩(wěn)定

RTMC光譜優(yōu)化技術(shù)信息化技術，帶來更穩(wěn)定的體驗(yàn)

全數(shù)字脈沖光源，自動(dòng)選擇能量保證分析的準(zhǔn)確性與重復(fù)性

易用性升級(jí)良好，給用戶更簡單逐步顯現、高效的使用體驗(yàn)

優(yōu)質(zhì)硬件與特定算法的結(jié)合，多重穩(wěn)定保障引領，更好地監(jiān)控儀器運(yùn)行狀態(tài)自動化裝置，提升分析效果，減少校準(zhǔn)頻率

支持全譜分析檢測應用前景，拓展性更高有很大提升空間。增加分析基體和元素?zé)o需增加硬件，通過軟件即可擴(kuò)展分析范圍首次，使用更靈活

智能曲線功能可滿足對(duì)所有材料的分析需求可能性更大，真正實(shí)現(xiàn)未知樣品分析，無需糾結(jié)模型選擇搖籃，操作更加簡便

友好的人機(jī)交互設(shè)計(jì)技術，軟件主界面簡潔清晰，圖形化顯示推動，短時(shí)間即可學(xué)會(huì)并熟練操作軟件

新增遠(yuǎn)程維護(hù)功能相對較高，可遠(yuǎn)程升級(jí)固件程序，遠(yuǎn)程檢查儀器狀態(tài)開展研究，對(duì)儀器生命周期健康負(fù)責(zé)

應(yīng)用領(lǐng)域

應(yīng)用于冶金姿勢、鑄造、機(jī)械加工首要任務、鑄造綠色化、金屬材料科研、航空航天發展、造船保持穩定、汽車、海關(guān)檢驗(yàn)面向、第三方檢測等諸多領(lǐng)域支撐作用。