儀器介紹
布魯克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射線衍射儀大局，采用創(chuàng)造性的達(dá)芬奇設(shè)計(jì)，通過TWIN-TWIN光路設(shè)計(jì)應用提升，成功實(shí)現(xiàn)了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析主動性、薄膜反射率XRR分析的全自動切換，而無需對光發展的關鍵。通過革命性的TWIST TUBE技術(shù)道路，使用戶可以在1分鐘內(nèi)完成從線光源應(yīng)用（常規(guī)粉末的定性定量分析、薄膜的GID真諦所在、XRR）到點(diǎn)光源應(yīng)用（織構(gòu)指導、應(yīng)力、微區(qū)）的切換充分，讓煩人的光路互換進一步完善、重新對光等問題從此成為歷史！
高精度的測角儀可以保證在全譜范圍內(nèi)的每一個(gè)衍射峰（注意不是一個(gè)衍射峰）的測量峰位和標(biāo)準(zhǔn)峰位的誤差不超過0.01度競爭力，布魯克AXS公司提供保證調整推進！的林克斯陣列探測器可以提高強(qiáng)度150倍，不僅答復(fù)提高設(shè)備的使用效率機製性梗阻， 而且大幅提高了設(shè)備的探測靈敏度機製。
應(yīng)用
物相定性分析 結(jié)晶度及非晶相含量分析
結(jié)構(gòu)精修及解析 物相定量分析
點(diǎn)陣參數(shù)精確測量 無標(biāo)樣定量分析
微觀應(yīng)變分析 晶粒尺寸分析
原位分析 殘余應(yīng)力
低角度介孔材料測量 織構(gòu)及ODF分析
薄膜掠入射 薄膜反射率測量
小角散射
