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具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱 深圳市科時(shí)達(dá)電子科技有限公司
品牌
型號(hào)
所在地 深圳市
廠商性質(zhì) 其他
更新時(shí)間 2024/1/23 13:46:26
訪問(wèn)次數(shù) 70

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促銷詳細(xì)：

2020年01月08日至 2020年02月08日

特價(jià)促銷

模內(nèi)澆口分離自動(dòng)化實力增強，降低對(duì)人的依賴度；傳統(tǒng)的塑膠模具開(kāi)模后產(chǎn)品與澆口相連探索創新，需二道工序進(jìn)行人工剪切分離帶來全新智能，模內(nèi)熱切模具將澆口分離提前至開(kāi)模前，消除后續(xù)工序新產品，有利于生產(chǎn)自動(dòng)化，降低對(duì)人的依賴長遠所需。

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

我也要發(fā)布產(chǎn)品信息

BLS-I/BCT-400少子壽命測(cè)試儀●非接觸方式量測(cè)真正意義上的硅塊少子壽命●渦電流法量測(cè)技術(shù)符合SEMI的PV13標(biāo)準(zhǔn)●相比業(yè)界其他少子壽命測(cè)試儀BLS-I/BCT系列是性能更*的少子壽命測(cè)試儀●Wafer廠品質(zhì)監(jiān)控必*量測(cè)設(shè)備求索，擁有廣泛的客戶群。

詳細(xì)信息在線詢價(jià)

BLS-I/BCT-400少子壽命測(cè)試儀

●非接觸方式量測(cè)真正意義上的硅塊少子壽命

●渦電流法量測(cè)技術(shù)符合SEMI的PV13標(biāo)準(zhǔn)

●相比業(yè)界其他少子壽命測(cè)試儀BLS-I/BCT系列是性能更*的少子壽命測(cè)試儀

●Wafer廠品質(zhì)監(jiān)控必*量測(cè)設(shè)備規模，擁有廣泛的客戶群穩定發展。

美國(guó)Sinton 少子壽命測(cè)試儀 BCT-400/BLS-I(圖1)

一、 產(chǎn)品概述

BLS-I/BCT-400型號(hào)少子壽命測(cè)試儀可以量測(cè)P型或者N型單晶或者多晶硅塊少子壽命聯動，不需要表面鈍化處理就可以量測(cè)少子壽命增持能力。少子壽命的量測(cè)對(duì)于監(jiān)控硅塊在長(zhǎng)晶過(guò)程引入的缺陷或者污染物造成的缺陷有著重要的意義。通過(guò)使用少子壽命測(cè)試儀BCT-400可以直接判斷硅塊的質(zhì)量好壞。BLS-I可以量測(cè)表面不平的硅塊樣品追求卓越。而不同于BLS-I逐漸完善，BCT-400只能量測(cè)表面平坦的硅塊。

二合理需求、 產(chǎn)品性能

主要應(yīng)用：

? 量測(cè)高純度硅少子壽命（范圍在1ms-5ms）

? 量測(cè)摻硼的CZ 單晶硅少子壽命

? 量測(cè)多晶硅的少子壽命是目前主流，陷阱濃度等

其他應(yīng)用：

? 量測(cè)B-O缺陷，鐵雜質(zhì)濃度高質量，以及表面的損傷

? 監(jiān)控CZ和FZ單晶充分發揮，多晶硅等硅片質(zhì)量