Hysitron PI 89 掃描電鏡聯(lián)用納米壓痕儀利用掃描電子顯微鏡（SEM、FIB/SEM）的成像能力大部分，可以在成像的同時進行定量納米力學(xué)測試強大的功能。這套全新系統(tǒng)搭載 Bruker的電容傳感技術(shù)實際需求，繼承了市場的一批商業(yè)化原位 SEM 納米力學(xué)平臺的優(yōu)良功能。該系統(tǒng)可實現(xiàn)包括納米壓痕優勢、拉伸善謀新篇、微柱壓縮、微球壓縮便利性、懸臂彎曲方法、斷裂、疲勞提供有力支撐、動態(tài)測試和力學(xué)性能成像等功能穩中求進。
特點
的可互換傳感技術(shù)，實現(xiàn)了更大范圍(10mNx500 mN最深厚的底氣、3.5N和150μ.m)的原位納米力學(xué)測試和微尺度力學(xué)測試
的載荷和位移控制測試模式,可進行納米壓痕協同控製、壓縮、 拉伸傳遞、疲勞或彎曲測試
采用全新編碼樣品臺技術(shù)(1 nm分辨率)試驗，可以在納米晶粒 內(nèi)部進行壓痕操作
提供旋轉(zhuǎn)/傾斜臺兩種配置，從而在進行納米力學(xué)測試開展攻關合作、二次電子成像製度保障、原位FIB加工和分析成像等操作時，樣品定位能力進一步提高
采用過時的模塊化設(shè)計,原位測試相關(guān)技術(shù)得以不斷升級的有效手段，包括800℃加熱統籌推進、劃痕測試、電特性關鍵技術、掃描探針顯微鏡 (SPM)成像了解情況、力學(xué)性能成像(XPM)及動態(tài)疲勞測試等技術(shù)
配備PerformechII控制模塊，反饋頻率達到78 kHz, 數(shù)據(jù)采集頻率達到39 kHz,可以捕捉斷裂引發(fā)等瞬時事件
功能齊全
Hysitron PI 89可以輕松安裝到掃描電子顯微鏡臺上,不需 要一直固定在顯微鏡上技術研究。其設(shè)計小巧重要的，大幅增加物臺傾斜 度、縮短工作距離,確保測試期間實現(xiàn)佳成像姿勢。
PI89平臺經(jīng)過改裝相互融合，在系統(tǒng)的樣品位置增加了一個滑移臺。該設(shè)計可方便快速地調(diào)整樣品相對于傳感器的位置,并可配置可更換壓頭綠色化、樣品和其它附加裝置不同需求。
同時擴大了可用空間，可以容納更大的樣品保持穩定、附加樣品臺和新的配件總之。
此外,選用新的直線編碼樣品臺,可以提高自動運動中的 重復(fù)性，同時擴大行程范圍不斷進步。通過重新設(shè)計機械載荷架軸工藝技術，提升了框架剛度效率。
