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- 公司名稱 武漢格瑞德科技有限公司
- 品牌
- 型號
- 所在地 武漢市
- 廠商性質 其他
- 更新時間 2023/12/22 14:12:17
- 訪問次數(shù) 53
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AV5264AB通信矢量信號分析儀產品綜述無線通信系統(tǒng)正在以更高的速度面向、更寬的帶寬和更多的調制方法變得日益復雜,頻帶也正在往高頻段發(fā)展變化工藝技術,為了能在無瞬時變化沖擊的情況下進行測試分析效率,測量儀器需要的測量精度和寬帶分析性能
產品綜述
無線通信系統(tǒng)正在以更高的速度、更寬的帶寬和更多的調制方法變得日益復雜近年來,頻帶也正在往高頻段發(fā)展變化講道理,為了能在無瞬時變化沖擊的情況下進行測試分析,測量儀器需要的測量精度和寬帶分析性能技術先進。
既要滿足通信測量需求更多的合作機會,又要減少產品成本,得心應手的AV5264系列通信矢量信號分析儀是您的選擇認為,它可以在提高作業(yè)效率及縮短產品上市時間方面助您一臂之力服務好。
AV5264系列通信矢量信號分析儀采用寬頻帶矢量信號接收與下變頻設計制造技術,解決了寬帶通信矢量信號接收分析難題反應能力,實現(xiàn)了9kHz~6GHz通用矢量調制信號接收和解調分析共謀發展、GSM/TD-SCDMA/WCDMA/TD-LTE/FDD-LTE等標準通信制式信號分析,具有射頻信號功率測試結構重塑、頻譜發(fā)射模板測試聽得懂、鄰道泄漏抑制比應用優勢、信號質量等多域測試功能。通信矢量信號發(fā)生是采用小數(shù)分頻合成方式和寬帶數(shù)字調制方式設計全方位,是一款高性價比的通信測試儀表緊密相關,可應用于各類射頻電子設備或部件的科研、生產先進技術、計量培訓、維修,也可應用于教學宣講手段。
主要特點
l 多功能一體化設計重要工具,便于用戶使用
l GSM/TD-SCDMA/WCDMA/TD-LTE/FDD-LTE多種標準制式通信信號分析功能,滿足各種制式終端測試
l 大帶寬測試基礎,具有40MHz信號分析能力
l 大動態(tài)范圍和高靈敏度的信號接收能力
l 多參數(shù)性能、多域同步關聯(lián)分析:射頻信號功率測試、頻譜發(fā)射模板測試對外開放、鄰道泄漏抑制比技術創新、信號質量等多域測試功能
l 多種數(shù)字調制格式多種制式的矢量信號分析
l 高精度的射頻信號測量能力
l 大動態(tài)、高精度的射頻信號測量能力
l 快速自動化測試資料,實現(xiàn)低成本制造
l 中/英文操作界面廣泛應用,TFT真彩液晶顯示
l 豐富的程控接口,任您自由選擇橫向協同,以便方便地實現(xiàn)遠程控制及網絡升級功能
高質量的測量特性
典型情況下顯示平均噪聲電平為-120dBm(分辨率帶寬為10Hz)哪些領域,滿足微弱信號的可靠檢測,具有大動態(tài)范圍不斷創新,可順利的完成大功率信號的測量任務建立和完善。
內置BPSK、QPSK參與水平、OQPSK大型、8PSK、16QAM明確相關要求、32QAM重要意義、64QAM、MSK深化涉外、2FSK數(shù)字調制格式分析模塊體系,碼元速率1kHz~40MHz,可滿足用戶移動通信終端或設備高質量測試開展試點,提供全面的解決手段攜手共進。
內置多種標準制式信號分析
內置GSM/TD-SCDMA/WCDMA/TD-LTE/FDD-LTE等標準制式信號分析模塊,具有射頻信號功率測試充分發揮、頻譜發(fā)射模板測試高效、鄰道泄漏抑制比應用創新、信號質量等多域測試功能提高,可滿足用戶移動通信終端或設備高質量測試機構,提供全面的解決手段。
掃描精度高交流,幅度測量精度高
儀器在整個掃描范圍內采用連續(xù)鎖相合成技術基礎,達到1Hz的高掃描精度。250kHz~6GHz射頻信號的幅度精度達到±2dB還不大,提高生產效率并減小測試容限高產。幅度修正系數(shù)由儀器自動校準功能完成,能維持高的測量精確度發揮作用。
多重數(shù)字化掃描處理良好,測量速度快
儀器采用全數(shù)字中頻技術實現(xiàn)10Hz到3MHz的分辨帶寬,能夠更好適應不同的測量任務銘記囑托,并可在快速的同時保證很高的頻率分辨率引領,捕捉瞬態(tài)干擾信號。
符合人類工程學的用戶接口
具有友好的操作界面示範,可以由菜單指導您的操作應用前景。即使沒有經過培訓用戶也會迅速地獲得正確的結果。清晰的結構可以使菜單內的導向得到簡化運行好。高對比度的彩色顯示屏首次,即使在臨時場地或光線入射不佳時都可以進行軌跡判讀。
整機小巧輕便部署安排,性能價格比高
本儀器重量僅為16Kg搖籃,是一款高精度的矢量信號分析儀。該設備能夠以低廉的價格提供高質量的測量推廣開來,與市場上任意一款同水平的矢量信號分析儀相比推動,具有更高的性能價格比。
典型應用
芯片研發(fā)和終端生產非信令測試
可廣泛應用于GSM/TD-SCDMA/WCDMA/TD-LTE/FDD-LTE等標準芯片研發(fā)和終端的設計重要的、研發(fā)開展研究、生產、認證及維修等領域的非信令測試相互融合。下圖是應用情況介紹首要任務。
支持終端輸出功率測量,當測試次數(shù)不少于2次的條件下更加完善,形式、最小、平均功率的統(tǒng)計值將會顯示支撐作用;支持終端調制域分析測量日漸深入,可同時測試和顯示調制頻率動力、頻率誤差、相位誤差及峰值誤差互動式宣講;支持占用頻帶帶寬測量和鄰道功率測量效高性;支持頻譜波形顯示,監(jiān)視頻譜是否超過規(guī)定的限值等自動化。
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