自1978年以來取得傲人銷量的X射線熒光鍍層厚度測量儀的第八代產(chǎn)品FT110A前來體驗，在測量精度自主研發、操作性能、軟件上有新的優(yōu)化更加廣闊。

通過自動定位功能損耗，只需把樣品放在樣品臺上，便能在數(shù)秒內(nèi)自動對準觀察樣品焦點非常完善，省略了以前手動逐次對焦的操作性能穩定，大幅提高了測量效果。

1.自動對焦功能 自動接近功能

在樣品臺上放置各種高度的樣品時作用，只要高低差在80mm范圍內(nèi)情況正常，即可在3秒內(nèi)自動對焦被測樣品。由此進一步提高定位操作的便捷性技術特點。

●自動對焦功能    簡便的攝像頭對焦

●自動接近功能    位置的對焦

2.通過新薄膜FP法提高測量精度

實現(xiàn)微小光束的高靈敏度提高鍛煉，通過微小準直器提高了膜厚測量精度發展邏輯。鍍層測量時間比本公司原有機型縮短了1/2。另外有所提升，針對檢測器的特性開發(fā)了新的EP法聽得進，可進行無標樣測量。測量結果可一鍵生成報告書先進水平，簡單方便便利性。

●新薄膜EP法    

減少檢量線制作的繁瑣程度、實現(xiàn)了設定測量條件的簡易化

無標樣測量方法可進行最多5層的膜厚測量

●自動對焦功能和距離修正功能    

凹凸落差的樣品可通過薄膜EP法做成的相同測定條件進行測量

●靈敏度提高

鍍層測量時間比本公司原有機型縮短了1/2

●生成報告功能

一鍵生成測量報告書

3.廣域樣品觀察

對測量平臺（250mm*200mm）上放置的樣品拍攝一張靜態(tài)畫面后重要平臺，可在獲取的廣域觀察圖像上狹域的觀察位置深刻認識。由此，可大幅減少多數(shù)測量點位置的選取時間更適合，以及在圖像上難以尋找的特定點位置的選定時間高效。

●廣域圖像觀察    

輕松定位