LiteScope™是為不同品牌的掃描電子顯微鏡（SEM）設(shè)計(jì)的“即插即用”的掃描探針顯微鏡。根據(jù)客戶需求勇探新路，定制并提供適當(dāng)?shù)倪m配器和反饋機(jī)制單產提升，很容易通過四個(gè)螺絲將LiteScope™固定在電子顯微鏡的樣品臺上，通過線纜與控制器試驗、電腦進(jìn)行連接勞動精神。 LiteScope™通過可更換探針進(jìn)行多種掃描探針顯微鏡（SPM）成像模式。 綜合分析包括：表面形貌表征切實把製度、機(jī)械性能保供、電性能自行開發、磁性能進行部署。
主要功能
LiteScope™提供并支持各種SPM測量方法和各種探針，其設(shè)計(jì)基礎(chǔ)和價(jià)值的技術(shù)特征是通過不同的探針夾自動化裝置，使用不同的探針以達(dá)到測試要求示範。其主要測試功能：原子力顯微鏡（AFM）、靜電力顯微鏡(EFM)有很大提升空間、局部電壓/電流測量運行好、力調(diào)制模式（FMM）、開爾文探針力模式（KPFM）可能性更大、磁力顯微鏡（MFM）部署安排、掃描隧道顯微鏡（STM）、納米壓痕。
技術(shù)特點(diǎn)
LiteScope™采用關(guān)聯(lián)探針和電子顯微鏡技術(shù)（CPEM）推廣開來，該技術(shù)利用兩種不同的技術(shù)對同一物體城鄉(xiāng)的方法推動。CPEM能夠同時(shí)對樣品表面的同一個(gè)區(qū)域進(jìn)行SEM和AFM表征。
LiteScope™通常用于高真空環(huán)境資源配置，但也可根據(jù)要求適用于超高真空環(huán)境信息。
工作溫度：+15°C至 +25°C
標(biāo)準(zhǔn)工作壓力：10-5Pa~105 Pa
外形尺寸： 129 mm x 90 mm x 45-55 mm
掃描面積： 22 mm x 11 mm x 8 mm
掃描范圍： 100 um x 100 um x 100 um
分辨率： 0.2nm
技術(shù)能力
優(yōu)勢
的關(guān)聯(lián)探針和電子顯微鏡技術(shù)（CPEM）
綜合表面表征-形貌、粗糙度大力發展、磁性豐富內涵、導(dǎo)電性、電性能
在樣品表面對針尖進(jìn)行精確導(dǎo)航定位
5分鐘內(nèi)輕松集成和安裝/拆卸
即插即用
與FIB產能提升、GIS適應性、EDX等附件兼容
無需光學(xué)探測、無需激光調(diào)節(jié)的自感應(yīng)探頭
商用探針通過活化，多種測量模式
可根據(jù)客戶要求定制探針適配于合適的探針夾
測量頭可縮回LiteScope™的主體面向，以節(jié)省樣品周圍的空間。
傾斜操作（傾斜0°–60°）研學體驗，最小WD=5 mm
軟件友好建設項目，無需特殊安裝
遠(yuǎn)程訪問結(jié)果和測量設(shè)置
應(yīng)用
生物傳感用石墨烯包裹金納米粒子雜化結(jié)構(gòu)的SEM/AFM表征
金納米粒子與石墨烯掩膜的結(jié)合是一種新的制備適用于表面增強(qiáng)拉曼光譜（SER）的活性基底的方法。石墨烯可以作為針孔鈍化層落實落細，防止等離子體納米結(jié)構(gòu)氧化相結合。金粒子與石墨烯的接觸程度對SERS的靈敏度有重要影響。因此製高點項目，了解石墨烯膜對單個(gè)納米顆翞楫a業發展；虼祟惣{米顆粒簇的遮蓋方式非常重要∮兴黾?？墒褂?/span>CPEM輕松確定納米顆粒在石墨烯膜下的分布以及表面形貌高效利用。雖然LiteScope™SPM（AFM）可以對納米顆粒上的石墨烯層進(jìn)行表面成像，但SEM可以對石墨烯層下的納米顆粒進(jìn)行成像估算。
含HFO2顆粒的W-Cr固溶體退火后的降解
在1000°C下退火10小時(shí)后W-10Cr-1HF（含HFO2顆粒的固溶W-Cr）的分解講理論。孔隙形成于二氧化鉿顆粒周圍不要畏懼，同時(shí)也形成富鉻部分（深色片晶或點(diǎn)）和富W部分（片晶之間的亮區(qū)）服務為一體。利用CPEM可以快速、準(zhǔn)確地識別掃描電鏡圖像中的形貌和材料對比度逐漸顯現，很容易區(qū)分HF顆粒與孔隙全會精神。用CPEM技術(shù)研究了樣品表面的腐蝕速率。
膠原支架上間充質(zhì)干細(xì)胞的研究
采用冷凍干燥法制備膠原支架（Ceitec-but拓展基地，RG 2.3）集中展示。然后，用間充質(zhì)干細(xì)胞接種支架，在標(biāo)準(zhǔn)培
件下培養(yǎng)6天（馬薩里克大學(xué)組織胚胎學(xué)系）探索創新。最后重要工具，用和醋酸鈾酰對支架進(jìn)行染色，以獲得更好
的視覺效果配套設備。由于的LiteScope™及其通過掃描電鏡精確的AFM導(dǎo)航更優質，在不損壞支架孔中探針的情
況下，才有可能對制備的細(xì)胞進(jìn)行測量推進高水平。利用CPEM脫穎而出，可以同時(shí)用電子束和探針掃描同一個(gè)細(xì)胞并獲得圖
像，以及細(xì)胞與基質(zhì)的相互作用生產創效，這意味著細(xì)胞在支架后的擴(kuò)展更大——更好的粘附力和更友好的環(huán)境結構。
