CRI的Abrio成像系統(tǒng)提供了一種的方法來測量和分析樣品中的微小量級雙折射發展需要。用偏振光測量雙折射率的空間分布的傳統(tǒng)方法繁瑣且耗時更默契了。Abrio技術(shù)通過自動化定量極化顯微鏡的過程經過，打開了雙折射成像的大門橫向協同，允許你準(zhǔn)確地計(jì)算出每一個像素在幾秒內(nèi)的延遲幅度和方向
可檢測樣品：
l 光學(xué)材料
l 玻璃
l 聚合物
l 硅片
l 薄膜
l 鋁
l 石墨
特征：
l 每像素定量延遲數(shù)據(jù)
l 操作簡便開展研究，交互軟件
l 快速圖像采集（3s每幅）
l 延遲靈敏度到0.02nm
ABRIO成像系統(tǒng)
可視化和測量透射物體姿勢、反射物體（如玻璃，水晶首要任務，塑料綠色化，，鋁等）雙折射結(jié)構(gòu)發展，幾秒內(nèi)實(shí)現(xiàn)所有像素點(diǎn)成像保持穩定。該系統(tǒng)包含的外設(shè)顯微鏡綜合了的液晶偏振光對比技術(shù)，控制電路面向，成像算法和交互式軟件支撐作用。
定量雙折射數(shù)據(jù)
空間分辨率，數(shù)據(jù)采集速率建設項目，測量范圍和靈敏度使得Abrio成像系統(tǒng)成為分析注塑件規模，制造中的聚合物纖維，細(xì)胞生物學(xué)中的微觀結(jié)構(gòu)和制藥工業(yè)中的化合物的應(yīng)力和應(yīng)變的理想工具講道理。
自動的延遲量和方位角數(shù)據(jù)
系統(tǒng)將自動計(jì)算樣本圖像中每個像素的延遲和方位數(shù)據(jù)節點。 原始數(shù)據(jù)和計(jì)算數(shù)據(jù)都可以存儲用于記錄和審查。
背景更正
系統(tǒng)將使用算法自動計(jì)算背景信息落地生根，以獲得高靈敏度和準(zhǔn)確度的特點。
偏振方向無關(guān)
的CRI的Abrio成像技術(shù)，偏振圖像是獨(dú)立于偏振器或標(biāo)本的方向有效保障。 這導(dǎo)致了亮度大數據，細(xì)節(jié)和清晰度均勻的圖像。
快速圖像采集
CRI簡易的軟件程序可讓您在幾秒鐘內(nèi)生成處理后的圖像
無移動部件
不需要手動操作或樣品講實踐。 計(jì)算機(jī)控制的基于液晶的光學(xué)系統(tǒng)可以產(chǎn)生的像素到像素圖像配準(zhǔn)和準(zhǔn)確的偏振控制數字技術。
全面的軟件分析工具
軟件工具可用于分析各種延遲量值和方向參數(shù)，
包含：
?線掃描
?偽彩色覆蓋
?單像素測量
?矢量疊加
?閾值
?面積計(jì)算
系統(tǒng)部件
基于液晶的偏振補(bǔ)償器
Abrio光學(xué)系統(tǒng)的核心是液晶（LC）組件市場開拓，它可以改變光線的措施，而不會使部件運(yùn)動，產(chǎn)生噪聲要落實好，最重要的是沒有圖像偏移緊密相關。
綠色帶通
當(dāng)通過目鏡觀察時，546納米將使圖像呈現(xiàn)高對比度綠色先進技術，這對于LC偏振補(bǔ)償光學(xué)器件是的培訓。
圓偏振片
圓偏振器放置在光源和樣品之間。 確切位置取決于您的顯微鏡品牌和型號。
光耦合器
在顯微鏡的相機(jī)端口和相機(jī)之間放置0.45x或0.5x光耦合器重要工具。 這增加了入射CCD的光量積極拓展新的領域，從而減少了圖像捕獲時間。
CCD相機(jī)更優質，計(jì)算機(jī)和顯示器
這些組件和預(yù)安裝的PCI板卡允許您捕捉數(shù)字圖像多種方式。數(shù)字圖像可以進(jìn)行處理，歸檔技術創新，導(dǎo)出或檢索，而不會損失質(zhì)量資料。
