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KIF-10A-DW 激光干涉儀

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---:韓光兵
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光學測量裝置

KIF-10A-DW

KIF-10A-DW小型LD干涉儀是一款價格低廉對外開放、設計緊湊的LD干涉儀。該型號干涉儀使質量檢查變得簡單容易深入交流研討,適用于在小型透鏡的多種類資料、小批量的生產(chǎn)現(xiàn)場進行快速的質量檢查。

  • 概覽
  • 技術規(guī)格
  • 干涉條紋數(shù)值化配套元件
  • PDF版產(chǎn)品信息
  1. 在生產(chǎn)現(xiàn)場對多種少量的小型鏡片進行快速質量檢查
    檢查不同規(guī)格的鏡片時不需要使用配套夾具需求,用于品種多數(shù)量少的鏡片檢查堅定不移。只需將鏡片放置其上組合運用,操作如同使用顯微鏡一樣簡單更讓我明白了,可以輕松快速的應對質量檢查。

  2. 采用635 nm波長激光積極,可順利導入加工工序(生產(chǎn)線)
    與之前在斐佐型干涉儀上使用的632.8 nm激光波長極為相似探索,干涉條紋的條紋感應度也與其近似‘a業?身樌麘玫浆F(xiàn)有的檢查加工工序(生產(chǎn)線)中滿意度。

  3. 品種豐富、種類齊全的參照鏡
    參照鏡采用1英寸的緊湊結構可持續,其種類與KIF-202L系列相比較也毫不遜色主要抓手。

小型LD干涉儀(下置式) KIF-10A-DW:規(guī)格
型號 KIF-10A-DW
檢查方式 斐佐型干涉方式
口徑 ø25.4 mm(1英寸)
倍率 1倍
參照鏡表面精度 λ/15(球面及平面)
光源 2級半導體激光(635 nm)產(chǎn)品
激光輸出功率為0.8 mw以下
電源 一次電源AC100~240 V 50/60 Hz
主機供給電源DC12 V
被檢物大小 R:+140 mm ~-113 mm※體製、直徑~約110 mm
機身外形尺寸 180(W)×230(D)×440(H) mm
機身重量 約5.2 kg
主要選配件 3軸載物臺、2軸載物臺創新科技、小型液晶顯示器(2.5型服務延伸、5.6型)、參照鏡具有重要意義、測長裝置進一步、衰減過濾器AF、孔徑轉換器RF25-D6

* zui小R及zui小直徑因被檢物不同而異強大的功能。

干涉條紋數(shù)值化配套元件KIF-FS10A實際需求,是根據(jù)干涉儀檢查系統(tǒng)KIF-10A系列得到的干涉條紋,對像差進行數(shù)值化顯示的系統(tǒng)優勢。

 

特長

  1. 合格判斷非常簡單
    根據(jù)可以任意設定的規(guī)格值及合格判斷功能善謀新篇,能夠在生產(chǎn)線中輕松進行合格判斷。

  2. 處理時間迅速
    與采用條紋掃描方式的條紋解析軟件相比便利性,處理時間短重要的作用,可實時快速地實現(xiàn)干涉條紋的解析。

  3. 價格低廉
    與條紋掃描型干涉儀系統(tǒng)相比簡單化,價格更加低廉力度。

  4. 可進行生產(chǎn)工序內管理
    因為可以進行數(shù)值數(shù)據(jù)的保存以及畫面數(shù)據(jù)的打印,所以可以進行生產(chǎn)工序內的優(yōu)良判斷管理系統性。

規(guī)格

KIF10A用干涉條紋數(shù)值化配套元件
型號 KIF-FS10A
相位計算方式 干涉條紋的形狀(條紋二值化方式)
再現(xiàn)性 PV值0.1λ以下* (3σ的值勇探新路。根據(jù)本公司測定條件)
干涉條紋解析速度 約1.0秒(根據(jù)電腦性能)
OS Windows XP
主要功能 P-V、RMS傳遞、Pwr試驗、AS、Coma開展攻關合作、Sa3的顯示功能(不能進行±判別)
規(guī)格值設定及合格判斷功能
影面設定功能
單一測定製度保障、連續(xù)測定功能

* 因測定時的設置環(huán)境以及條紋形狀的不同,可能發(fā)生機械性能不能充分發(fā)揮的情況的有效手段,敬請咨詢詳情統籌推進。
* 本系統(tǒng)不保證數(shù)據(jù)的可追溯性。本產(chǎn)品定位于在生產(chǎn)線中與參照鏡進行比較檢查關鍵技術,敬請了解了解情況。Windows、Windows XP®是美國微軟公司在美國以及其他國家注冊的商標技術研究。

Windows and Windows XP(R) are registered trademarks of US Microsoft Corporation in USA and other countries.

干涉條紋數(shù)值化配套元件KIF-FS10A重要的,是根據(jù)干涉儀檢查系統(tǒng)KIF-10A系列得到的干涉條紋,對像差進行數(shù)值化顯示的系統(tǒng)姿勢。

 

特長

  1. 合格判斷非常簡單
    根據(jù)可以任意設定的規(guī)格值及合格判斷功能相互融合,能夠在生產(chǎn)線中輕松進行合格判斷首要任務。

  2. 處理時間迅速
    與采用條紋掃描方式的條紋解析軟件相比,處理時間短不同需求,可實時快速地實現(xiàn)干涉條紋的解析先進的解決方案。

  3. 價格低廉
    與條紋掃描型干涉儀系統(tǒng)相比,價格更加低廉創造更多。

  4. 可進行生產(chǎn)工序內管理
    因為可以進行數(shù)值數(shù)據(jù)的保存以及畫面數(shù)據(jù)的打印宣講活動,所以可以進行生產(chǎn)工序內的優(yōu)良判斷管理。

規(guī)格

KIF10A用干涉條紋數(shù)值化配套元件
型號 KIF-FS10A
相位計算方式 干涉條紋的形狀(條紋二值化方式)
再現(xiàn)性 PV值0.1λ以下* (3σ的值工藝技術。根據(jù)本公司測定條件)
干涉條紋解析速度 約1.0秒(根據(jù)電腦性能)
OS Windows XP
主要功能 P-V效率、RMS、Pwr產能提升、AS適應性、Coma、Sa3的顯示功能(不能進行±判別)
規(guī)格值設定及合格判斷功能
影面設定功能
單一測定通過活化、連續(xù)測定功能

* 因測定時的設置環(huán)境以及條紋形狀的不同落地生根,可能發(fā)生機械性能不能充分發(fā)揮的情況,敬請咨詢詳情健康發展。
* 本系統(tǒng)不保證數(shù)據(jù)的可追溯性有效保障。本產(chǎn)品定位于在生產(chǎn)線中與參照鏡進行比較檢查,敬請了解長效機製。Windows講實踐、Windows XP®是美國微軟公司在美國以及其他國家注冊的商標。

Windows and Windows XP(R) are registered trademarks of US Microsoft Corporation in USA and other countries.

 

 


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