| 參考價 | 面議 |
---：韓光兵
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KIF-FU60應用優勢，KIF-FSA是一款安裝于KIF-20系列干涉儀上的干涉條紋分析系統(tǒng)，主要用于通過掃描干涉條紋獲取測試樣本的波相位全方位，以及顯示和保存測量結果高效節能。用于質量檢查、生產現場的平面以及球面的面精度的定量評價大局。
| 干涉條紋解析裝置，干涉條紋解析軟件 KIF-FU60/FU100調解製度，KIF-FSA：規(guī)格 | |
| 型號 | KIF-FSA |
| 解析方式 | 條紋掃描方式 |
| 測定條紋條件 | 正弦波狀強度分布的干涉條紋（不支持多重干涉的干涉條紋解析） |
| 干涉條紋顯示圖像尺寸 | 640×470（像素） |
| 再現性 | PV值：0.01λ（2σ）以下 RMS值：0.003λ（2σ）以下 |
| 解析功能 | PV精準調控、Rms、Pwr應用的因素之一、As體系、Coma、Sa3以及Zernike系數的解析與顯示 |
| 合格判斷功能 | PV開展試點、Rms攜手共進、Pwr共同、As、Coma經過、Sa3等的規(guī)格值設定與合格與否的顯示 |
| 3軸壓電載物臺沖程（選配件） | 粗動：±3 mm（XYZ的各軸） 微動：12 μm（XYZ的各軸） |
| 使用環(huán)境 | 水平無震動的場所（地面震動±0.8/s²以下） 溫度：23±3 °C 濕度：60%以下強大的功能、無結露 |
* 因測定時的設置環(huán)境不同，可能發(fā)生機械性能不能充分發(fā)揮的情況解決方案。
* 本裝置不保證溯源體系中的精度優勢。
工作參數設定功能
? 產品名、單元名增產、注釋
? Fitting次數（3/4/9/16/25/36）
? 像差清除（像差／Zernike系數）
? 顯示單位（λ便利性、μm、nm行動力、條紋）
? 對Zernike系數的offset設定
? 規(guī)格值（各像差以及用戶定義式）
解析結果顯示功能
? P-V提供有力支撐、RMS、Pwr
? 賽德爾像差（傾斜保供、焦點自行開發、像差AS、彗差責任、球面像差）
? Zernike系數（3應用情況、4、9組建、16表現、25、36項）
? 3維鳥瞰圖深刻變革、2維彩圖
? 橫切面?zhèn)让嫦瘢╔結論、Y方向、PV質生產力、RMS）
? 合格判斷結果
文件輸入輸出功能
? 工作參數的保存和讀取
? 條紋數據的保存和讀取
? 影面數據的保存和讀取
? 畫面版面的保存和讀取
? 主窗口打印
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