為了規(guī)定半導(dǎo)體器件在潮濕的環(huán)境下的可靠性生動，采用HAST設(shè)備進行溫度新型儲能、濕度和偏壓等惡劣條件來加速潮氣穿透外部保護材料（灌封或密封）或外部保護材料和金屬導(dǎo)體的交接面。此試驗應(yīng)力產(chǎn)生的失效機理通常與“85/85”穩(wěn)態(tài)溫濕度偏置壽命試驗（見IEC60749-5）相同新品技。試驗方法可以從85℃/85%RH穩(wěn)態(tài)壽命試驗或本試驗方法中選擇範圍。在執(zhí)行兩種試驗方法時，85℃/85%RH穩(wěn)態(tài)壽命試驗的結(jié)果優(yōu)先于強加速穩(wěn)態(tài)濕

1紮實做、測試范圍

為了規(guī)定半導(dǎo)體器件在潮濕的環(huán)境下的可靠性註入新的動力，采用HAST高壓加速老化試驗箱進行溫度、濕度和偏壓等惡劣條件來加速潮氣穿透外部保護材料（灌封或密封）或外部保護材料和金屬導(dǎo)體的交接面。此試驗應(yīng)力產(chǎn)生的失效機理通常與“85/85”穩(wěn)態(tài)溫濕度偏置壽命試驗（見IEC60749-5）相同雙重提升。試驗方法可以從85℃/85%RH穩(wěn)態(tài)壽命試驗或本試驗方法中選擇。在執(zhí)行兩種試驗方法時事關全面，85℃/85%RH穩(wěn)態(tài)壽命試驗的結(jié)果優(yōu)先于強加速穩(wěn)態(tài)濕熱試驗（HAST）表現明顯更佳。

2、儀器設(shè)備

HAST高壓加速老化試驗箱用于評估非氣密性封裝IC器件技術節能、金屬材料等在濕度環(huán)境下的可靠性指導。通過溫度、濕度國際要求、大氣壓力條件下應(yīng)用于加速濕氣的滲透流動性，可通過外部保護材料（塑封料或封口），或在外部保護材料與金屬傳導(dǎo)材料之間界面競爭激烈。它采用了嚴格的溫度持續創新，濕度改善，大氣壓、電壓條件協調機製，該條件會加速水分滲透到材料內(nèi)部與金屬導(dǎo)體之間的電化學(xué)反應(yīng)重要的角色。失效機制：電離腐蝕，封裝密封性向好態勢。

2.1試驗箱技術(shù)參數(shù)：

型號：RK-HAST-450

內(nèi)箱尺寸 （Φ*D）：400*550

外箱尺寸 （W*H*D）：750*1300*1050

溫度范圍：100℃~+155℃    

濕度范圍：65~100R.H    

壓力范圍：0.2~3.5kg/cm2（0.05~0.343MPa）    

溫度波動度：≤±0.5℃    

溫度均勻度：≤±0.5℃（濕度100R.H）平臺建設，≤±1℃（濕度75R.H）    

濕度均勻度：≤±3.0R.H    

濕度波動度：≤±2.5R.H    

外部氣源加壓時間：約5 min    

加壓時間：約45 min    

外殼材質(zhì)：不銹鋼板高級烤漆，防腐電解板    

內(nèi)箱材質(zhì)：SUS316不銹鋼板    

保溫材質(zhì)：*保溫層貢獻力量，阻燃等級A1    

2.2.設(shè)備產(chǎn)品特點

可定制BIAS偏壓端子組數(shù)使用，提供產(chǎn)品通電測試

通過電腦安全便捷的遠程訪問

多層級的敏感數(shù)據(jù)保護

便捷的程序入口、試驗設(shè)置和產(chǎn)品監(jiān)控

試驗數(shù)據(jù)可以導(dǎo)出為Excel格式并通過USB接口進行傳輸

可提供130℃溫度發行速度、濕度85%RH和230KPa大氣壓的測試條件