nikon尼康 電子元器件X射線檢測站XT V 160，中小型電子元器件檢測用的設(shè)備

 
 
      對于小型的高裝配密度的印刷電路板解決問題，上面大量的焊接的零件互相重合遮擋系列，X射線的透視功能是的高效無損檢測手段。XTV160為設(shè)計(jì)制造與質(zhì)量分析部門提供簡捷高效的印刷電路裝配與電子元器件檢查系統(tǒng)相互配合。在自動檢測模式下可對樣品進(jìn)行快速檢測慢體驗，手動模式下可以在軟件中直觀的進(jìn)行高精度操作，操作者可以對樣品中微小的故障缺陷進(jìn)行可視化確認(rèn)分析以及保存結(jié)果智能化。

nikon尼康 電子元器件X射線檢測站XT V 160主要特點(diǎn)

• 亞微米級的焦點(diǎn)尺寸NanoTech™射線管
• 快速獲取高品質(zhì)的圖像
• 可以同時放置多件樣品的大托盤載物臺
• 可以自定義宏讓工作流程自動化

引進(jìn)功能
 • 靈活的操作集成到一個緊湊的系統(tǒng)里
• 人機(jī)交互式的可視化功能
• 全自動X射線檢測功能
• 詳細(xì)分析用的CT功能（選配）
• 可達(dá)75°的傾斜觀測角度
• 直觀的GUI界面與交互式操作桿導(dǎo)航功能進(jìn)行快速檢測
• 便于維護(hù)的開管式設(shè)計(jì)使得維護(hù)成本被降低到最小
• 不需要額外保護(hù)措施的射線計(jì)量安全系統(tǒng)
• 占用空間小科技實力，重量輕，安裝設(shè)置簡便

用途
• BGA檢測分析
• 焊錫空洞檢測
• 通孔檢測
• 芯片銀膠空洞檢測
• 球形引腳連接檢測
• 壓線連接檢測
• 微小BGA檢測
• Padarray檢測