?  適用于大多數(shù)樣品開放以來，包括薄片、粉末高質量、碎片提供了有力支撐、透明與非透明樣品，無需對樣品進行噴碳或噴金處理 的方法。
?  可通過不同大小的光孔對礦物或試樣進行微區(qū)分析（小50~100μm）實事求是，還可通過對束斑大小的調(diào)節(jié)，得到礦物未知成分的平均值落到實處。
?  電子束激發(fā)X射線熒光強度高服務水平，強度要大于X射線激發(fā)源的激發(fā)強度約4-5個數(shù)量級最新，分析靈敏度高，測試時間短處理方法。
?  電子束入射樣品深度很淺（僅僅為1-2μm左右）重要作用，是真正的表面分析。
?  除激發(fā)的特征X射線被探測以外習慣，沒有其他的噪聲信號被探測充足，分析結(jié)果更準確
?  探測器可探測的元素范圍為11(Na)～92(U)。特別是對Na, Mg, Al, Si, P, S, Cl, K, Ca, Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn等主量元素的分析結(jié)果靈敏度高的積極性，譜線重復性好綠色化發展。
?  全分析，內(nèi)建診斷功能十大行動，全自動操作左右，一鍵式分析軟件，操作簡便綜合措施。