国产一级一级理论片一区二区_久久综合图区亚洲综合图区_国产精品V欧美精品av日韩_日韩精品成人在线_亚洲欧美日韩动漫_国产精品一二三区在线观看公司_日韩成人无码一区二区三区


免費注冊快速求購


分享
舉報 評價

高性能FIB-SEM系統(tǒng) Ethos NX5000

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

該廠商其他產(chǎn)品

我也要出現(xiàn)在這里

高性能與高靈活性兼?zhèn)銭thos采用日立高新的核心技術(shù)--的高亮度冷場發(fā)射電子槍及新研發(fā)的電磁復(fù)合透鏡迎來新的篇章,不但可以在低加速電壓下實現(xiàn)高分辨觀察共創美好,還可以在FIB加工時實現(xiàn)實時觀察推動並實現。 SEM鏡筒內(nèi)標(biāo)配3個探測器薄弱點,可同時觀察到二次電子信號的形貌像以及背散射電子信號的成分襯度像;可非常方便的幫助FIB找尋到納米尺度的目標(biāo)物優化程度,對其觀察以及加工分析積極性。 另外,全新設(shè)計的超大樣品倉設(shè)置了多個附件接口不斷豐富,可安裝EDS*1和EBSD*2等各種分析儀器實施體系。而且NX5000標(biāo)配超大防振樣品臺,可全面加工并觀察大直徑為150mm的樣品各有優勢。 因此效果較好,它不僅可以半導(dǎo)體器件的檢測,而且還可以用于從生物到鋼鐵磁性材料等各種樣品的綜合分析持續。*1Energy Dispersive x-ray Spectrometer(能譜儀(EDS))*2Electron Backscatter Diffraction(電子背散射衍射(EBSD))

詳細(xì)信息 在線詢價

高性能FIB-SEM系統(tǒng) Ethos NX5000

  • 咨詢
  • 打印

高性能FIB-SEM系統(tǒng) Ethos NX5000

高性能與高靈活性兼?zhèn)?/strong>

“Ethos”采用日立高新的核心技術(shù)--的高亮度冷場發(fā)射電子槍及新研發(fā)的電磁復(fù)合透鏡等多個領域,不但可以在低加速電壓下實現(xiàn)高分辨觀察,還可以在FIB加工時實現(xiàn)實時觀察產品和服務。
SEM鏡筒內(nèi)標(biāo)配3個探測器應用擴展,可同時觀察到二次電子信號的形貌像以及背散射電子信號的成分襯度像;可非常方便的幫助FIB找尋到納米尺度的目標(biāo)物增多,對其觀察以及加工分析活動上。
另外,全新設(shè)計的超大樣品倉設(shè)置了多個附件接口進一步推進,可安裝EDS*1和EBSD*2等各種分析儀器導向作用。而且NX5000標(biāo)配超大防振樣品臺,可全面加工并觀察大直徑為150mm的樣品應用的選擇。
因此十大行動,它不僅可以半導(dǎo)體器件的檢測,而且還可以用于從生物到鋼鐵磁性材料等各種樣品的綜合分析大幅增加。

*1
Energy Dispersive x-ray Spectrometer(能譜儀(EDS))
*2
Electron Backscatter Diffraction(電子背散射衍射(EBSD))

  • 特點

  • 規(guī)格

特點

核心理念

1. 搭載兩種透鏡模式的高性能SEM鏡筒

  • HR模式下可實現(xiàn)高分辨觀察(半內(nèi)透鏡)
  • FF模式下可實現(xiàn)高精度加工終點檢測(Timesharing Mode)

2. 高通量加工

  • 可通過高電流密度FIB實現(xiàn)快速加工(大束流100nA)
  • 用戶可根據(jù)自身需求設(shè)定加工步驟

3. Micro Sampling System*3

  • 運用ACE技術(shù)(加工位置調(diào)整)抑制Curtaining效應(yīng)
  • 控制離子束的入射角度特性,制備厚度均勻的薄膜樣品

4. 實現(xiàn)低損傷加工的Triple Beam System*3

  • 采用低加速(Ar/Xe)離子束,實現(xiàn)低損傷加工
  • 去除鎵污染

5. 樣品倉與樣品臺適用于各種樣品分析

  • 多接口樣品倉(大小接口)
  • 超大防振樣品臺(150 mm□)
*3
選配

高性能SEM鏡筒

Ethos搭載的SEM配有兩種透鏡模式等特點。HR模式可將樣品置于透鏡磁場之中建言直達,實現(xiàn)樣品的高分辨觀察。FF模式可在短10nsec內(nèi)切換FIB照射與SEM觀察至關重要。用戶可在高速幀頻下觀察SEM圖像的同時不久前,進(jìn)行FIB加工用上了,因此,可輕松判斷截面的加工終點能力建設。NX5000采用電磁復(fù)合透鏡關註,即使在FF模式下也可保持高分辨觀察。

高分辨SEM觀察實例


Fin-FET 14 nm device


3D-NAND device

高性能FIB鏡筒

通過高電流密度FIB可實現(xiàn)快速加工無障礙、廣域加工連日來、多處自動加工等

分時掃描模式

在FIB、Ar/Xe離子束照射時認為,可實時或分時觀察SEM圖像

■ 分時掃描模式可在的位置停止加工
■ Cut & See模式可實現(xiàn)高分辨SEM觀察
■ 實時加工模式是加工時間優(yōu)先的FIB加工模式

采用Cut & See模式可實現(xiàn)三維重構(gòu)

FOV:20 μm
Cut & See:200張
Slice pitch:20 nm
SEM加速電壓:1.5 kV

固體氧化物燃料電池的燃料極(Ni-YSZ)
樣品提供:東京大學(xué) 生產(chǎn)技術(shù)研究所
鹿園直毅 教授

抑制FIB加工損傷的高質(zhì)量TEM樣品制備

采用低加速氬離子束以及高電流密度FIB系統,可實現(xiàn)快速加工、廣域加工以及多處自動加工等

在2kV低加速電壓下進(jìn)行FIB加工時重要意義,觀察Ga+離子照射造成的樣品損傷(紅色箭頭)(圖a)
然后交流等,在1kV低加速電壓下進(jìn)行氬離子研磨,消除FIB加工產(chǎn)生的損傷層后規劃,可以清晰觀察到晶格像提高。

Triple Beam System(氬氣/氙氣)

在制備極薄樣品時,必須采用廣域且低損傷的加工方法進入當下。
Ethos采用樣品加工位置調(diào)整與低加速氬離子束精加工相結(jié)合的ACE技術(shù)紮實,可制備出高質(zhì)量的TEM薄膜樣品。

ACE: Anti Curtaining Effect

GUI設(shè)計進(jìn)一步提升了視覺美觀和響應(yīng)速度

4種信號可供選擇

■ In-Column探測器(SED×1保持競爭優勢、BSE×2)與樣品倉SE探測器可同時采集信號
■ 搭載各SEM光學(xué)系統(tǒng)的Beam條件保存與讀取功能
■ 可根據(jù)不同觀察需求(形貌/成分)進行培訓,選擇的探測器
■ 每種探測器均可實現(xiàn)對比度、亮度等個性設(shè)置長效機製、保存與輸出

建立多樣化的加工模式與定序

登錄和輸出各種加工模式/觀察條件

■ 拖拽即可簡單建立加工/觀察定序
■ 各加工模式與程序加工均可自由編輯與登錄
■ 可通過輸出當(dāng)前的程序加工法治力量,簡單完成加工設(shè)置
■ 可通過讀取當(dāng)前的定序,大大簡化重復(fù)操作
■ 可通過復(fù)制并編輯定序分享,進(jìn)一步提高擴展性與靈活性

通過運用各種加工模式共享,靈活設(shè)置加工范圍

■ 加工模式支持矩形、圓形方式之一、三角形生動、平行四邊形、傾斜加工創新能力、Bit-map加工等
■ 應(yīng)用加工支持橫截面加工以及TEM樣品制備
■ Vector Scan*3可根據(jù)向量信息顯示加工范圍新品技,完成精準(zhǔn)定位。而且廣度和深度,圖像(bmp)轉(zhuǎn)換成向量后深入交流,也可繼續(xù)進(jìn)行樣品加工
■ 搭載各種離子束照射位置補償功能(漂移校正功能),可實現(xiàn)高精度加工

*3
選配

超大樣品倉支持各種用途

■ 配置支持高分辨觀察的防振樣品臺
■ 設(shè)置多種接口,可加裝更多的選配附件臺上與臺下,實現(xiàn)多種樣品加工用的舒心、觀察以及分析

規(guī)格

規(guī)格
項目內(nèi)容
FIB二次電子像分辨率(C.P)4 nm @ 30 kV、60 nm @ 2 kV
加速電壓0.5 kV – 30 kV
探針電流范圍0.05 pA – 100 nA
離子源GA液體金屬離子源
SEM二次電子像分辨率(C.P)1.5 nm @ 1 kV集聚效應、0.7 nm @ 15 kV
加速電壓0.1 kV – 30 kV
探針電流范圍5 pA – 10 nA
電子槍冷場場發(fā)射電子槍
標(biāo)準(zhǔn)探測器In-Column二次電子探測器 SE(U)
In-Column背散射電子探測器 BSE(U)
In-Column背散射電子探測器 BSE(L)
Chamber二次電子探測器 SE(L)
驅(qū)動范圍
(5軸反饋控制)
X155 mm
Y155 mm
Z16.5 mm
R0 - 360° 旋轉(zhuǎn)
T-10~59°
樣品尺寸大直徑 150 mm
選配Ar/Xe離子束系統(tǒng)
Micro Sampling System
氣體注入系統(tǒng)(雙室或三室貯氣筒)
電動搬運式樣品交換倉
連續(xù)自動加工軟件
連續(xù)A-TEM2
各種樣品桿
EDS(能譜儀)
EBSD(電子背散射衍射)

 

關(guān)聯(lián)產(chǎn)品分類

  • 場發(fā)射掃描電子顯微鏡 (FE-SEM)
  • 透射電子顯微鏡 (TEM/STEM)



提示

×

*您想獲取產(chǎn)品的資料:

  • 價格、產(chǎn)地帶動產業發展、生產(chǎn)者責任製、用途、性能
  • 生產(chǎn)日期、有效期限促進善治、檢驗合格證明
  • 規(guī)格擴大、等級、主要成份
  • 使用方法說明書發揮效力、售后服務(wù)
  • 其他
以上可多選新格局,勾選其他,可自行輸入要求

個人信息:

  • *聯(lián)系人
  • 公司名稱
  • *聯(lián)系電話
  • 聯(lián)系郵箱
伊金霍洛旗| 河北区| 磐石市| 虹口区| 从江县| 崇州市| 蛟河市| 林西县| 湖州市| 永福县| 泾川县| 奎屯市| 洛浦县| 贺兰县| 察哈| 承德县| 大厂| 淮安市| 哈尔滨市| 潮安县| 嘉善县| 昭觉县| 乐陵市| 礼泉县| 海丰县| 喀什市| 昌平区| 永兴县| 海晏县| 尚志市| 遵义市| 上饶市| 彭州市| 顺昌县| 万州区| 玛曲县| 桦南县| 临泽县| 龙岩市| 梧州市| 长岛县|