A/B掃描超聲波測(cè)厚儀MVX：帶A/B掃描功能的超聲波測(cè)厚儀MVX不同需求，能夠滿(mǎn)足 State of the art的厚度應(yīng)用

A/B掃描超聲波測(cè)厚儀MVX產(chǎn)品信息：
帶A/B掃描功能的超聲波測(cè)厚儀MVX，能夠滿(mǎn)足State of the art的厚度應(yīng)用保持穩定。
符合NIST和MILSTD-45662A標(biāo)準(zhǔn)總之。
特點(diǎn)
-采用FPGA技術(shù)的100Hz數(shù)字信號(hào)處理器平臺(tái)設(shè)計(jì)
-1/8英寸VGA灰色顯示面向，240x160象素屏幕，25Hz刷新頻率
-手動(dòng)或自動(dòng)增益控制研學體驗，根據(jù)測(cè)量模式選擇(50dB增益范圍)
-內(nèi)置于探頭類(lèi)型中的線(xiàn)性時(shí)間相關(guān)增益(TDG)
-A-掃描(射頻建設項目、整流)、B-掃描和大數(shù)字顯示方式
-兩個(gè)獨(dú)立的門(mén)
-脈沖-回波(P-E)測(cè)量模式和回波-回波(E-E)測(cè)量模式
-雙晶探頭
-內(nèi)置4GBSD卡
-通過(guò)USBType-C連接的計(jì)算機(jī)
A/B掃描超聲波測(cè)厚儀MVX產(chǎn)品技術(shù)參數(shù)：
測(cè)量
脈沖-回波(P-E)模式測(cè)量范圍：0.63mm～30.48m(鋼)
回波-回波(E-E)模式測(cè)量范圍：2.54～152.4mm(鋼落實落細，穿過(guò)涂層測(cè)量相結合，隨涂層厚度的不同，測(cè)量范圍也會(huì)變化)
分辨率：0.01mm
聲速范圍：309.88～9999m/s
單位：公制或英制
校準(zhǔn)：一點(diǎn)和兩點(diǎn)校準(zhǔn)方式
顯示
顯示屏：1/8英寸VGA灰色顯示製高點項目，240x160象素為產業發展。可視區(qū)62x45.7mm有所增加，EL背光
A-掃描方式：檢波+/-(缺陷視場(chǎng))各項要求，RF(全波視場(chǎng))。25Hz刷新頻率
B-掃描方式：基于時(shí)間的橫截面視圖反應能力。顯示速度為每秒10到200個(gè)讀數(shù)
大數(shù)字方式：標(biāo)準(zhǔn)厚度顯示共謀發展，數(shù)字高度17.78mm
厚度條形掃描：速度10Hz數字技術，在B-掃描和大數(shù)字顯示中可見(jiàn)
穩(wěn)定度指示：表示測(cè)量值的穩(wěn)定性
超聲波參數(shù)
測(cè)量模式：脈沖-回波(P-E)模式奮戰不懈，回波-回波(E-E)模式(穿過(guò)涂層)
脈沖：可調(diào)方波脈沖發(fā)生器
接收：根據(jù)選擇模式在50dB范圍內(nèi)采用手動(dòng)或AGC增益控制
計(jì)時(shí)：?jiǎn)未?00MHz8位超低功耗數(shù)字化儀的PreciseTCXO計(jì)時(shí)
脈沖重復(fù)頻率：250Hz
探頭
頻率范圍：1~10MHz
雙晶探頭
LEMO接口，1.2米探頭線(xiàn)
可定制用于特殊應(yīng)用的探頭
存儲(chǔ)
容量：內(nèi)置4GBSD卡
數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)：網(wǎng)格(字母數(shù)字)
屏幕捕獲：位圖圖形捕獲措施，用于快速記錄
數(shù)據(jù)輸出：通過(guò)USB Type-C連接的計(jì)算機(jī)
功能
設(shè)置：64個(gè)用戶(hù)定義設(shè)置大大縮短，用戶(hù)也可編輯出廠(chǎng)設(shè)置
探頭類(lèi)型可選：內(nèi)置雙路誤差校正，提高線(xiàn)性度
閘門(mén)：兩個(gè)獨(dú)立閘門(mén)
報(bào)警模式：上下限視聽(tīng)報(bào)警
快速掃描模式：每秒250個(gè)讀數(shù)緊密相關，當(dāng)探頭離開(kāi)時(shí)顯示小值
其他
鍵盤(pán)：12個(gè)觸摸鍵
電源：標(biāo)配為三節(jié)5號(hào)堿性電池更默契了，可選鎳鎘電池或鋰電池。電量狀態(tài)指示培訓。無(wú)操作五分鐘后自動(dòng)關(guān)機(jī)不合理波動。USB Type-C供電
外殼：擠壓鋁機(jī)殼，底蓋用鍍鎳鋁板加密封墊封裝
工作溫度：-10～60℃
尺寸：63.5x165x31.5mm
重量：含電池385g
包裝：ABS工程塑料箱
出廠(chǎng)證書(shū)：工廠(chǎng)校準(zhǔn)可追溯到NIST和MILSTD-45662A標(biāo)準(zhǔn)
常用探頭：

注：
測(cè)試高溫表面時(shí)需用高溫耦合劑
在穿透模式下重要工具，高阻抗探頭會(huì)有更好的表現(xiàn)
表中的測(cè)量范圍為脈沖-回波模式測(cè)量范圍