詳細信息：
將AFM的納米量級高空間分辨率和拉曼指紋光譜技術(shù)耦合起來狀態，實現(xiàn)高空間分辨率下物理特性、化學結(jié)構(gòu)測試指導。
產(chǎn)品特點：
● AFM和拉曼同區(qū)域成像
● 針尖增強拉曼（TERS)
● AFM光杠桿反饋激光自動準直
● 可同時提供上方廣泛認同、側(cè)向耦合光路，均可使用X100高NA物鏡以提高收集效率
● 高頻掃描頭流動性，對環(huán)境噪聲不敏感
AFM-拉曼耦聯(lián)配置
HORIBA Scientific拉曼技術(shù)可與掃描探針顯微鏡（SPM）進行耦合鍛造，構(gòu)建一個功能強大且靈活的AFM-拉曼平臺。研究人員可根據(jù)期望的AFM-拉曼工作模式來選擇合適的儀器持續創新。
所有具備激光掃描技術(shù)的配置都可以通過對掃描探針上的激光反射進行快速成像或者根據(jù)針尖增強拉曼散射信號對熱點進行成像改善，因而該配置能夠準確空白區、可靠地將激光定位到SPM探針針尖上。
高通量的光信號收集和檢測硬件保證在快速掃描的同時采集每一點的SPM信號和拉曼光譜信息化。
AFM-拉曼和針尖增強拉曼散射（TERS） 將您的所有需求集成到一個強大的系統(tǒng)中 我們所提供的完美解決方案使用直接光路耦合形勢，對其進行優(yōu)化以實現(xiàn)高通量。該平臺可以把原子力顯微鏡（AFM）取得明顯成效、近場光學技術(shù)（SNOM,NSOM）約定管轄、掃描隧道顯微鏡（STM）和共焦光學光譜儀（拉曼和熒光成像）耦合到一臺多功能的儀器中，以實現(xiàn)針尖增強拉曼散射（TERS）或共點測量設計。
結(jié)合納米成像和化學分析 
單層業務指導、雙層和三層石墨烯的共點AFM和拉曼成像 ● AFM和其他SPM技術(shù)可提供分子級別分辨率下的形貌、力學就此掀開、熱能長足發展、電磁場和近場光學特性。
● 共焦拉曼光譜和成像可提供納米材料在亞微米空間分辨率下的詳細化學信息穩步前行。
● 同步測量的*平臺結構不合理，有助于您獲得可靠且位置高度重合的圖像。
● 結(jié)合高性能和易用性各有優勢，HORIBA將會根據(jù)您所選擇的SPM制造商提供一個可靠效果較好、全功能的解決方案
● 針尖增強拉曼光譜(TERS)的光學、機械和軟件都是經(jīng)過優(yōu)化設計的持續，同時有HORIBA在拉曼光譜幾十年的經(jīng)驗做技術(shù)支持等多個領域，您可以自信地使用這一技術(shù)。
一個工具多種可能：AFM-拉曼有助于您提高效率 ● 快速找到納米對象
由于納米材料具有特殊的化學屬性產品和服務，拉曼峰信號較強應用擴展，因此在光學顯微鏡下不可見的納米材料可以通過超快速拉曼成像進行搜索和定位。在找到樣品后增多，我們可以對感興趣的位置進行形貌活動上、機械、電學和熱能分析進一步推進。 ● 交叉驗證您的數(shù)據(jù)
拉曼光譜可以證實材料的某些特性導向作用，例如前面研究的石墨烯，AFM形貌的對比度較差而難以確定層厚應用的選擇，拉曼則可以從另外一個角度去獲得相同的信息十大行動，此外拉曼還提供更多有關結(jié)構(gòu)和缺陷的信息，此信息只有具備原子分辨率的AFM才能提供背景下。 ● 獲得感興趣納米結(jié)構(gòu)的化學信息
在表征納米結(jié)構(gòu)時特性，有時僅獲得物理性質(zhì)是不夠的。高分辨的拉曼共焦成像可提供詳細的化學成分信息等特點，這是其他SPM傳感器無法實現(xiàn)的建言直達。 
● 探索TERS（針尖增強拉曼散射）領域 TERS（或納米拉曼）可以綜合兩種技術(shù)之優(yōu)勢：可獲得空間分辨率低至2nm（一般低至10nm）的化學特異性拉曼光譜成像多種。該技術(shù)可用于表征從納米管到DNA等各種樣品。
多種光學配置HORIBA的AFM-拉曼平臺支持多種光學方案：
| 底部耦聯(lián)：針對透明樣品 頂部耦聯(lián)：針對共點拉曼或傾斜針尖的TERS 側(cè)向耦聯(lián)：測定不透明樣品的TERS的解決方案 可提供多端口和并排配置 |
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