紅外應(yīng)力雙折射測(cè)量?jī)x
硫系競爭激烈，紅外樹(shù)脂等材料對(duì)可見(jiàn)光不透過(guò)，這樣的樣品殘余應(yīng)力評(píng)估很難實(shí)現(xiàn)工具，為此Photonic Lattece 專(zhuān)門(mén)研制了WPA-NIR雙折射測(cè)量?jī)x智慧與合力，采用850nm或940nm波長(zhǎng)，能高速的測(cè)量和分析近紅外材料的雙折射/殘余應(yīng)力分布重要的角色，安裝既有的操作簡(jiǎn)單和實(shí)用的軟件WPA-View開放要求，可以自由分析任意線(xiàn)上的相位差分布圖形、任意區(qū)域內(nèi)的平均值等的定量數(shù)據(jù)平臺建設。

紅外應(yīng)力雙折射測(cè)量?jī)x主要特點(diǎn)：

• 紅外波長(zhǎng)的雙折射/相位差面分布測(cè)量

• 硫系迎來新的篇章、紅外透明樹(shù)脂等的光學(xué)畸變?cè)u(píng)估

• 小型、簡(jiǎn)単操作推動並實現、高速測(cè)量

• WPA-NIR能高速的測(cè)量/分析波長(zhǎng)為850nm或940nm的雙折射分布

• 安裝既有的操作簡(jiǎn)單和實(shí)用的軟件WPA-View

• 可以自由分析任意線(xiàn)上的相位差分布圖形、任意區(qū)域內(nèi)的平均值等的定量數(shù)據(jù)

• 可搭配流水線(xiàn)對(duì)應(yīng)的『外部控制選配』覆蓋範圍，也可應(yīng)用于量產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)

紅外應(yīng)力雙折射測(cè)量?jī)x主要功能：

• 高速測(cè)量面的雙折射/相位差分布

• NIR波長(zhǎng)僅需操作鼠標(biāo)數(shù)秒內(nèi)就能獲取高密度的雙折射/相位差信息

• 測(cè)量數(shù)據(jù)的保存/讀取簡(jiǎn)單快捷

• 全部的測(cè)量結(jié)果都可以做保存/讀取優化程度，易于跟過(guò)去的測(cè)量結(jié)果做比較等

• 豐富的圖形創(chuàng)建功能

• 可以自由制作線(xiàn)圖形和直方圖

• 測(cè)量結(jié)果可以在一個(gè)圖形上做比較，也可以用CSV格式輸出