華測儀器鐵電材料綜合測試系統(tǒng)
優(yōu)點
可測量壓電陶瓷居里溫度規模設備、靜態(tài)壓電常數(shù)；
測量壓電材料介電性能-1KHZ下的介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試指導；
可測量壓電材料積分電荷法熱釋電系數(shù)測試
它可測量壓電陶瓷的品質(zhì)因數(shù)及機(jī)電耦合系數(shù)
可選配不同的測試裝置進(jìn)行不同環(huán)境下的壓電陶瓷參數(shù)測試
本儀器可配合高壓放大器實現(xiàn)壓電及鐵電材料的綜合測
HCTD-2000x
產(chǎn)品介紹
產(chǎn)品簡介
華測儀器鐵電材料綜合測試系統(tǒng)既可適用于壓電陶瓷材料居里溫度競爭力、縱向壓電應(yīng)變常數(shù)(靜態(tài))、強(qiáng)場介電性能進一步完善、熱釋電系數(shù)集聚、品質(zhì)因數(shù)及機(jī)電耦合系數(shù)等;如增加高壓放大器模塊，也可實現(xiàn)鐵電材料的電學(xué)測試調整推進；配合高低溫測試環(huán)境同時可以測量不同環(huán)境溫度下的材料性能參數(shù)狀況。該系統(tǒng)可廣泛地應(yīng)用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜機製、塊體材料和電子陶瓷全過程、鐵電傳感器/執(zhí)行器/存儲器等領(lǐng)域的研究。為一體的綜合測試系統(tǒng)。為目前國內(nèi)研究壓電陶瓷材料鐵電材料較為全面的測試設(shè)備。模塊化設(shè)計具有的強(qiáng)大擴(kuò)展性深入各系統。
設(shè)備內(nèi)置完整的工控計算機(jī)主機(jī)、測試版路精準調控、運(yùn)算放大器、數(shù)據(jù)處理單元等應用的因素之一，包括工控計算機(jī)主板解決、CPU(i3 或更高)、RAM(4G 或更大)敢於監督、硬盤(120G 固態(tài)硬盤)幅度、網(wǎng)卡、USB 接口更合理、VGA 接口適應能力、預(yù)裝Windows 7 操作系統(tǒng)、鐵電分析儀測試軟件等實際需求。
鐵電模塊測試功能
鐵電模塊標(biāo)準(zhǔn)測試功能：
動態(tài)電滯回線測試頻率（0.001Hz~150kHz）解決方案；
脈沖測試：小脈沖寬度2μs，小上升時間1μs善謀新篇；
疲勞測試,大頻率300kHz增產；
保持力測試；
靜態(tài)電滯回線測試方法；
印跡測試行動力；
漏電流測試：1pA to 1A。
高壓放大器模塊參數(shù)
高壓電源：DC~150kHz
輸出電壓： 1600Vp-p（±800Vp）(可選)
輸出電流：40mA
輸出波形：正弦波切實把製度、三角波保供、梯形波等
壓電模塊測試功能
電容-電壓曲線、損耗曲線進行部署；
壓電性能測試（蝴蝶曲線責任、d33 曲線）；
熱釋電性能測試保護好；
e31組建、h31 測試；
靜態(tài)加載力條件下的測試特點；
測量范圍(D33）：2至4000pC/N
測試頻率：20HZ-10M;
測試精度：0.05%
測量參數(shù):Cp/Cs深刻變革、Lp/Ls、Rp/Rs和諧共生、|Z|質生產力、|Y|、R技術交流、X處理、G、B在此基礎上、θ助力各行、D、Q自主研發、Vac確定性、Iac
施力裝置：約4公斤
電滯回線和蝴蝶曲線
典型的PZT樣品的d33曲線
薄膜探針臺
（室溫測試）（可用于薄膜和厚膜室溫鐵電性能測試）
薄膜變溫探針臺
（室溫到200℃）（可用于厚膜鐵電、壓電（d33）損耗、熱釋電測試）
薄膜四探針探針臺
（室溫到200℃）（可用于厚膜鐵電講故事、壓電（e31）、熱釋電測試）
薄膜寬溫區(qū)探針冷熱臺
（-196℃到+600℃）（可用于薄膜和厚膜變溫的鐵電和熱釋電測試）
壓電常數(shù)測試原理
1總之、5－加壓裝置絕緣座面向；2支撐作用、4－加壓裝置引出電極; 3-試樣; c-并聯(lián)電容器 F3 -試加試樣上的力; K- 短路開關(guān);6、靜電計
熱釋電系數(shù)測試原理
1建設項目、冰點最為突出；2、熱電偶相結合；3高效化、屏蔽溫度室；4為產業發展、試樣範圍和領域；5、絕緣保溫層各項要求；6更高要求、積分電容；7新技術、靜電計學習；8、函數(shù)分析儀聽得懂；9應用優勢、加熱器；10全方位、絕緣支架高效節能；11、絕緣油
高壓放大器
輸出形式：差分輸出
輸出帶寬：DC～150kHz
大輸出電壓：1600Vp-p（±800Vp）
大輸出電流：40mAp
大輸出功率：32W
選擇進(jìn)口TREK高壓放大器
Trek 610E
電壓范圍±10kV
電流范圍0-2mA
大頻率600Hz
Trek 609E-6
電壓范圍±4kV
電流范圍0-20mA
大頻率6000Hz
