華測(cè)儀器 陶瓷壓電分析儀/鐵電/壓電
Huace FE-2000
華測(cè)儀器 鐵電分析儀產(chǎn)品介紹：
Huace FE系列鐵電測(cè)試系統(tǒng)是目前市場(chǎng)上較xianjin的設(shè)備姿勢，有著寬頻率響應(yīng)范圍及寬測(cè)試電壓范圍并且在世界鐵電測(cè)試領(lǐng)域高測(cè)試精度能力shouquyizhi。在內(nèi)置±10V電壓下首要任務，電滯回線測(cè)試頻率可高達(dá)500KHz；此系統(tǒng)包含HuacePro基本鐵電管理測(cè)試軟件不同需求。
華測(cè)儀器 鐵電分析儀儀器配置：
Huace FE系列鐵電測(cè)試系統(tǒng)在±500V內(nèi)置電壓下發展，電滯回線測(cè)試頻率可高達(dá)500KHz；此外還可外部擴(kuò)展電壓到4kV總之、10kV面向、20kV，Huace FE主機(jī)在不改變樣品連接的情況下可執(zhí)行電滯回線研學體驗，脈沖建設項目，漏電流，IV落實落細、CV相結合、擊穿測(cè)試，也可加載選件實(shí)現(xiàn)壓電製高點項目、熱釋電為產業發展、TSDC和電卡、阻抗分析有所增加、電阻測(cè)量等特性測(cè)試功能各項要求。內(nèi)置完整的專用工控計(jì)算機(jī)主機(jī)、測(cè)試版路越來越重要的位置、運(yùn)算放大器新技術、數(shù)據(jù)處理單元等，包括專用工控計(jì)算機(jī)主板順滑地配合、CPU(i5 或以上)深入、RAM(8G 或以上)、固態(tài)硬盤(250G 或以上)高質量發展、網(wǎng)卡全方位、USB 接口、 VGA 接口更默契了、預(yù)裝 Windows 7操作系統(tǒng)先進技術、鐵電分析儀專用測(cè)試軟件等。
可擴(kuò)展部件：
可與高低溫冷熱臺(tái)、高溫測(cè)試裝置宣講手段、探針臺(tái)重要工具、高壓放大器、高阻計(jì)配套設備、阻抗分析儀更優質、 激光干涉儀、溫控控制器推進高水平、數(shù)字源表等擴(kuò)展脫穎而出。
? 塊體測(cè)試夾具：用于厚膜、塊體鐵電生產創效、擊穿測(cè)試可擴(kuò)展變溫功能結構。
? 薄膜四探針探針臺(tái)：室溫到 250℃可用于厚膜鐵電、壓電（e31）優化上下、熱釋電測(cè)試能力建設。
? 薄膜寬溫區(qū)探針冷熱臺(tái)：-196℃到+600℃可用于薄膜和厚膜變溫的鐵電和熱釋電測(cè)試。
? 薄膜探針臺(tái)（國(guó)產(chǎn)）：室溫鐵電測(cè)試可用于薄膜和厚膜室溫鐵電性能測(cè)試生產體系。
技術(shù)參數(shù)：
?內(nèi)置電壓 (可外接高壓放大器) ：±10V （可外接不同型號(hào)放大器）
?可外接高壓放大器 （最大可外接20KV高壓放大器需配置高壓防護(hù)模塊）：±20V, ±100V服務，±200V，±500V能力和水平，4KV覆蓋，10kV，20KV
?ADC位數(shù)：18位
?zui小電荷分辨率：<10fC
?zui大電荷分辨率：27.6mC
?zui小面積分辨率：<1μ2
?zui大面積分辨率：＞100cm2
?zui大電滯回線測(cè)試頻率：270KHz @10V
?zuidi測(cè)試頻率：0.03Hz
?zui小脈沖寬度 (此項(xiàng)指標(biāo)優(yōu)于進(jìn)口設(shè)備) ：0.5us
?zui小脈沖上升時(shí)間(5V)(此項(xiàng)指標(biāo)優(yōu)于進(jìn)口設(shè)備)：400ns
?zui大脈沖寬度：1s
?脈沖間最大延遲時(shí)間：40ks
?內(nèi)部時(shí)鐘：25ns
?zui小的泄漏電流 ：<1pA
?zui大小信號(hào)上限頻率 (此項(xiàng)指標(biāo)優(yōu)于進(jìn)口設(shè)備)：1MHz
?zui小小信號(hào)上限頻率 (此項(xiàng)指標(biāo)優(yōu)于進(jìn)口設(shè)備)：1MHz
?輸出上升時(shí)間控制：103 scaling
?輸入電容：~60fF
?阻抗輸入：Yes
鐵電系統(tǒng)主機(jī)優(yōu)勢(shì)在于他易于擴(kuò)展明確相關要求、實(shí)用性重要意義，軟件系統(tǒng)兼容目前主流品牌，軟件無(wú)縫切換深化涉外。為用戶降低成本體系。
█ 介電測(cè)試分析模塊
█ 熱激發(fā)極化電流測(cè)試TSDC
█ 擊穿電壓測(cè)試
█ 高壓極化
█ 絕緣電阻測(cè)試
█ 四探針測(cè)試
█ 壓電性能測(cè)試
█ 鐵電參數(shù)測(cè)試
█ 熱釋電性能測(cè)試
█ 居里溫度測(cè)試
