SKP5050掃描開爾文探針系統(tǒng)是一款可以被大多數(shù)客戶所接收的掃描開爾文探針系統(tǒng)反應能力,它是在SKP基礎(chǔ)之上包括了彩色相機(jī)/TFT顯示器共謀發展、2毫米和50微米探針、外部數(shù)字示波鏡等配置有所提升,其規(guī)格如下:
□ 2毫米聽得進,50微米探針新的力量;
□ 功函數(shù)分辨率 1-3 meV(2毫米針尖)先進水平,5-10 meV(50微米針尖);
□ 針尖到樣品表面高度可以達(dá)到400納米以內(nèi)全面展示;
□ 表面勢和樣品形貌3維地圖重要平臺;
□ 探針掃描或樣品掃描選配;
□ 彩色相機(jī)核心技術、調(diào)焦鏡頭順滑地配合、TFT顯示器和專業(yè)的光學(xué)固定裝置;
□ 參考樣品(帶相應(yīng)的掃描開爾文探針系統(tǒng)的形貌)效高;
□ 備用的針尖放大器前沿技術;
SKP5050掃描開爾文探針系統(tǒng)儀器特色:
□ *商用的*意義上的開爾文探針系統(tǒng)基礎;
□ 超高分辨率的功函數(shù)和表面勢,超好的穩(wěn)定性和數(shù)據(jù)重現(xiàn)性多種方式;
□ 非零專屬技術(shù)(Off-null,ON) ——ON信號(hào)探測系統(tǒng)在高信號(hào)水平下工作對外開放,與基于零信號(hào)原理(null-based,LIA)的系統(tǒng)相比,不會(huì)收到噪聲的影響擁有高靈敏度深入交流研討;
□ 高度調(diào)節(jié)專屬技術(shù) ——我們的儀器在測量和掃描時(shí)可以控制針尖的高度資料。因?yàn)楣瘮?shù)受樣品形貌的影響,針尖與樣品表面距離的調(diào)節(jié)意味著數(shù)據(jù)的高重現(xiàn)性且不會(huì)漂移關註度;
□ 該領(lǐng)域內(nèi)橫向協同,擁有很好分的信噪比;
□ 快速響應(yīng)時(shí)間 ——測量速度在0.1-10秒間敢於挑戰,遠(yuǎn)快于其他公司產(chǎn)品不斷創新;
□ 功能強(qiáng)的驅(qū)動(dòng)器 ——選用Voice-coil(VC)驅(qū)動(dòng)器,與通常的壓電驅(qū)動(dòng)器相比提供了遵循,VC驅(qū)動(dòng)器頻率要穩(wěn)定得多堅持先行、控制的針尖振幅大得多、支持平行多探針操作滿意度、支持不同直徑探針操作情況較常見;
□ 所有開爾文探針參數(shù)的全數(shù)字控制;
ON | 非零探測 Off Null detection |
HR | 高度調(diào)節(jié)模式 Height Regulation mode |
SM | 實(shí)際開爾文探針信號(hào)監(jiān)控 Monitoring of the actual Kelvin probe signal |
UC | 用戶通道主要抓手,同時(shí)測量外部參數(shù) User Channels, simultaneous measurement of external parameters |
DC | 電流探測系統(tǒng)去除漂移效應(yīng) Current Detection system rejects stray capacity effects |
PP | 平行板震動(dòng)模式 Ideal, Parallel Plate Oscillation Mode |
SA | 信號(hào)平均 Signal Averaging (often termed Box-Car Detection) |
WA | 功函數(shù)平均 Work Function Averaging, Difference and Absolute reporting |
DC | 所有探針及探測參數(shù)的數(shù)字控制 Digital Control of all Probe and Detection Parameters |
QT | 針尖快速改變 Quick-change Tip, variable spatial resolution |
DE | 數(shù)據(jù)輸出 Data Export to Excel, Origin, or 3rd party software |
OC | 輸出通道 Output Channel: TTL switching of external circuit |
FC | 法拉第籠(電磁干擾防護(hù)罩) Faraday Cage (EMI Shield) |
RS | 金-鋁參考樣品 Gold-Aluminium Reference Sample |
額外選配項(xiàng) |
SPV | 表面光伏電壓軟硬件包 Surface Photovoltage Software and Hardware Package |
RH | 相對濕度腔 Relative Humidity Chamber |
AC | 控制氣體進(jìn)口的環(huán)境單元 Ambient Cell for controlled Gas Inlet |
EDS | 外部數(shù)據(jù)示波鏡 External Digital Oscilloscope |
OPT | 彩色相機(jī) Color Camera, TFT Screen and Optical Mounts |
ST | 針尖置換 Replacement Tips |
GCT | 鍍金的針尖替換 Gold Coated Replacement Tips |
XYZ | 25.4毫米手動(dòng)3維控制臺(tái) 3-axis 25.4 mm Manual Stage |
應(yīng)用領(lǐng)域:
吸附體製,電池系統(tǒng)生產能力,生物學(xué)和生物技術(shù)重要作用,催化作用極致用戶體驗,電荷分析動手能力,涂層高端化,腐蝕首要任務,沉積需求,偶極層形成延伸,顯示技術(shù)強大的功能,教育實際需求,光/熱散發(fā),費(fèi)米級(jí)掃描的特性,燃料電池交流,離子化,MEMs提供堅實支撐,金屬還不大,微電子,納米技術(shù),Oleds發揮作用,相轉(zhuǎn)變良好,感光染色,光伏譜學(xué)銘記囑托,高分子半導(dǎo)體單產提升,焦熱電,半導(dǎo)體試驗,傳感器勞動精神,皮膚,太陽能電池製度保障,表面污染預下達,表面化學(xué),表面光伏統籌推進,表面勢方案,表面物理,薄膜了解情況,真空研究深入,功函數(shù)工程學(xué);