掃描開爾文探針系統(tǒng)
開爾文探針(Kelvin Probe)是一種非接觸無損震蕩電容裝置，用于測量導(dǎo)體材料的功函數(shù)(Work Function)或半導(dǎo)體開展、絕緣表面的表面勢(Surface Potential)互動互補。
材料表面的功函數(shù)通常由上層的1-3層原子或分子決定，所以開爾文探針是一種靈敏的表面分析技術(shù)意向。
我們的開爾文探針系統(tǒng)包括：
□單點(diǎn)開爾文探針(大氣環(huán)境及氣氛控制環(huán)境)；
□掃描開爾文探針(大氣環(huán)境及氣氛控制環(huán)境)文化價值；
□超高真空(UHV)開爾文探針形式；
□濕度控制的腐蝕開爾文探針；
掃描開爾文探針系統(tǒng)
ASKP系統(tǒng)是一款可以被大多數(shù)客戶所接收的掃描開爾文探針系統(tǒng)不斷完善，它是在SKP基礎(chǔ)之上包括了彩色相機(jī)/TFT顯示器數字化、2毫米和50微米探針、外部數(shù)字示波鏡等配置基礎上，其規(guī)格如下：
□2毫米各領域，50微米探針；
□功函數(shù)分辨率 1-3 meV(2毫米針尖)保持競爭優勢，5-10 meV(50微米針尖)進行培訓；
□針尖到樣品表面高度可以達(dá)到400納米以內(nèi)；
□表面勢和樣品形貌3維地圖長效機製；
□探針掃描或樣品掃描選配法治力量；
□彩色相機(jī)、調(diào)焦鏡頭分享、TFT顯示器和專業(yè)的光學(xué)固定裝置供給；
□參考樣品(帶相應(yīng)的掃描開爾文探針系統(tǒng)的形貌)；
□備用的針尖放大器經驗分享；
儀器的特色
□商用的*意義上的開爾文探針系統(tǒng)解決方案；
□高分辨率的功函數(shù)和表面勢，好的穩(wěn)定性和數(shù)據(jù)重現(xiàn)性有力扭轉；
□非零技術(shù)(Off-null,ON) ——ON信號探測系統(tǒng)在高信號水平下工作上高質量，與基于零信號原(null-based,LIA)的系統(tǒng)相比，不會(huì)收到噪聲的影響擁有高靈敏度發展需要；
□高度調(diào)節(jié)技術(shù) ——我們的儀器在測量和掃描時(shí)可以控制針尖的高度攻堅克難。因?yàn)楣瘮?shù)受 樣品形貌的影響管理，針尖與樣品表面距離的調(diào)節(jié)意味著數(shù)據(jù)的高重現(xiàn)性且不會(huì)漂移；
□該領(lǐng)域內(nèi)雙向互動，擁有好的信噪比效率和安；
□快速響應(yīng)時(shí)間 ——測量速度在0.1-10秒間，遠(yuǎn)快于其他公司產(chǎn)品品牌；
□功能強(qiáng)的驅(qū)動(dòng)器 ——選用Voice-coil(VC)驅(qū)動(dòng)器深入開展，與通常的壓電驅(qū)動(dòng)器相比，VC驅(qū)動(dòng)器頻率要穩(wěn)定得多等形式、控制的針尖振幅大得多技術的開發、支持平行多探針操作、支持不同直徑探針操作飛躍；
□所有開爾文探針參數(shù)的全數(shù)字控制更高效；
ON | 非零探測 Off Null detection |
HR | 高度調(diào)節(jié)模式 Height Regulation mode |
SM | 實(shí)際開爾文探針信號監(jiān)控 Monitoring of the actual Kelvin probe signal |
UC | 用戶通道，同時(shí)測量外部參數(shù) User Channels, simultaneous measurement of external parameters |
DC | 電流探測系統(tǒng)去除漂移效應(yīng) Current Detection system rejects stray capacity effects |
PP | 平行板震動(dòng)模式 Ideal, Parallel Plate Oscillation Mode |
SA | 信號平均 Signal Averaging (often termed Box-Car Detection) |
WA | 功函數(shù)平均 Work Function Averaging, Difference and Absolute reporting |
DC | 所有探針及探測參數(shù)的數(shù)字控制Digital Control of all Probe and Detection Parameters |
QT | 針尖快速改變 Quick-change Tip, variable spatial resolution |
DE | 數(shù)據(jù)輸出 Data Export to Excel, Origin, or 3rd party software |
OC | 輸出通道 Output Channel: TTL switching of external circuit |
FC | 法拉第籠(電磁干擾防護(hù)罩) Faraday Cage (EMI Shield) |
RS | 金-鋁參考樣品 Gold-Aluminium Reference Sample |
額外選配項(xiàng) |
SPV | 表面光伏電壓軟硬件包 Surface Photovoltage Software and Hardware Package |
RH | 相對濕度腔 Relative Humidity Chamber |
AC | 控制氣體進(jìn)口的環(huán)境單元 Ambient Cell for controlled Gas Inlet |
EDS | 外部數(shù)據(jù)示波鏡 External Digital Oscilloscope |
OPT | 彩色相機(jī) Color Camera, TFT Screen and Optical Mounts |
ST | 針尖置換 Replacement Tips |
GCT | 鍍金的針尖替換 Gold Coated Replacement Tips |
XYZ | 25.4毫米手動(dòng)3維控制臺(tái) 3-axis 25.4 mm Manual Stage |
應(yīng)用領(lǐng)域
吸附重要部署，電池系統(tǒng)具體而言，生物學(xué)和生物技術(shù)，催化作用智慧與合力，電荷分析喜愛，涂層，腐蝕開放要求，沉積向好態勢，偶極層形成，顯示技術(shù)服務機製，教育貢獻力量，光/熱散發(fā)，費(fèi)米級掃描蓬勃發展，燃料電池特點，離子化，MEMs重要性，金屬又進了一步，微電子，納米技術(shù)多元化服務體系，Oleds規劃，相轉(zhuǎn)變，感光染色深度，光伏譜學(xué)帶動擴大，高分子半導(dǎo)體，焦熱電開拓創新，半導(dǎo)體持續發展，傳感器必然趨勢，皮膚，太陽能電池擴大，表面污染多樣性，表面化學(xué)，表面光伏新格局，表面勢明顯，表面物理，薄膜顯示，真空研究創新為先，功函數(shù)工程學(xué)；
