Guinier-X射線超高清快速粉末衍射儀運用成像板技術(shù)，通過成熟的工藝技術(shù)紮實做，配合超微量樣品臺Capillary Sample Holder 670.2空間廣闊，可對微克級粉末樣品進行X射線測量。

系統(tǒng)簡介

X射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品提供深度撮合服務，進行物質(zhì)的定性分析服務品質、晶格常數(shù)確定和應(yīng)力測定等。并且組成部分，可通過峰面積計算進行定量分析影響。可通過半高寬的過程中、峰形等進行粒徑/結(jié)晶度/精密Ｘ射線結(jié)構(gòu)解析等各種分析發展契機。

北京培科創(chuàng)新技術(shù)有限公司作為大陸區(qū)總代理，現(xiàn)推出德國HUBER快速X射線粉末衍射儀促進進步，高精度的機械加工發力，*限度地豐富了X射線衍射儀的使用場景，擴大了使用范圍迎來新的篇章，該系統(tǒng)可分別實現(xiàn)“微量共創美好、高壓、高溫薄弱點、超低溫覆蓋範圍、單晶測量”等全部要求。

Guinier-X射線超高清快速粉末衍射儀運用成像板技術(shù)積極性，通過成熟的工藝技術(shù)向好態勢，配合超微量樣品臺Capillary Sample Holder 670.2，可對微克級粉末樣品進行X射線測量服務機製。

本文將詳細(xì)介紹以Guinier Camera G670與Capillary Sample Holder 670.2為核心構(gòu)造的超微量高清粉末衍射儀。

核心結(jié)構(gòu)

Guinier Camera G670

Huber G670首次以Guinier幾何結(jié)構(gòu)，提供了一種現(xiàn)代圖像板檢測方法（image plate）大幅拓展。

在許多Guinier相機中發行速度，有著100多年歷史的濕法影印技術(shù)已被逐步計數(shù)閃爍探測器和比例探測器所取代。

雖然這使采集數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)成為可能與時俱進，但不能顯著減少測量時間性能，測量時間依舊保持在幾小時到幾天的范圍內(nèi)。

與此不同的是綜合運用，使用Huber的圖像板檢測方法供給，可以在幾分鐘內(nèi)獲得所需的數(shù)據(jù)。

與傳統(tǒng)的Guinier相機相似之處是實事求是，它的幾何結(jié)構(gòu)和高分辨率——Huber G670已然是一款成熟的衍射儀進行探討。

*的成像板技術(shù)

由聚酯制成的柔性安裝箔上涂有由晶體組成的均勻粉末的發(fā)光存儲材料(顆粒大小約0.005mm)，即由氟化鋇和微量二價銪組成的光刺激熒光粉作為發(fā)光中心(BaFBr:Eu2+)服務水平。

圖像存儲箔片位于Guinier相機670中最新，敏感面向內(nèi)，精確地對準(zhǔn)在半徑為90mm的焦圓上處理方法。它的曝光方式與以前使用的濕法影印技術(shù)相同重要作用。之后，在約5秒的時間內(nèi)習慣，用垂直的線性紅色二極管產(chǎn)生的激光束掃描成像板充足。

由此產(chǎn)生的藍(lán)色光激勵發(fā)光(PSL)從受X射線照射的區(qū)域發(fā)出，在掃描過程中由光電倍增管放大的積極性，然后記錄綠色化發展。初始的模擬信號通過一個16位的A /D轉(zhuǎn)換器轉(zhuǎn)換成數(shù)字計數(shù)。

通過白色鹵素?zé)羰笮袆?，可以?/span>10秒內(nèi)擦除已儲存的圖像結(jié)構(gòu)左右，并支持下一次成像。

除圖像存儲箔外綜合措施，670相機的外殼還包括帶有光電倍增管和前置放大器的激光記錄單元可靠保障，以及鹵素擦除燈。

這款小巧的Guinier粉末衍射儀集成了傳統(tǒng)的濕法影印技術(shù)的高分辨率現場，及圖像板檢測技術(shù)的高靈敏度高端化。因此，它能夠在盡可能短的時間內(nèi)提供數(shù)字粉末衍射圖我有所應，然后可以通過Rietveld分析或類似的方法進一步處理提單產。

所提供的測量軟件在MS-Windows下運行，并將多可達(dá)20001個計數(shù)點的衍射圖文件存儲成各類標(biāo)準(zhǔn)文件格式至關重要。

超微量試樣架

Capillary Sample Holder 670.2

由于毛細(xì)管試樣架只占X射線橫斷面的10%左右發展空間，折射線的強度比平面樣品小一個數(shù)量級效果。此外，毛細(xì)試樣架的樣品厚度從0.2毫米增加到0.5毫米足了準備，導(dǎo)致折射線的寬度增加合作關系。盡管如此，由于優(yōu)化了G670的幾何結(jié)構(gòu)及其高分辨率的檢測方法深刻內涵，仍然可獲取高分辨率的衍射譜傳遞。

首先，黃銅管上安裝微管樣品槽深入闡釋，并安裝在一個可調(diào)測角儀頭部相關性。

其次，用顯微鏡將樣品旋轉(zhuǎn)居中物聯與互聯，然后安裝在樣品夾上穩定。樣品夾包含一個小的直流電機，使毛細(xì)管試樣架以60revs/min旋轉(zhuǎn)紮實。

多種多樣的試樣架

Plane Sample Holder 670.1

平板粉末試樣架670.1是在正常實驗室條件下測定粉末試樣的標(biāo)配效高化。 在高光強下，它可以產(chǎn)生非常精細(xì)的理想峰投入力度。

將粉末固定在一個尺寸為10 x 20mm創造，6μm厚的聚酯箔上。X射線以45°的角度不對稱地穿透樣品表面貢獻法治，同時樣品在其平面內(nèi)以約1Hz的振幅振蕩設備製造，振幅為10mm。此法消除了由不同晶向的粉末顆粒引起的強度變化攻堅克難。

Sample Changer 670.120

標(biāo)準(zhǔn)平板粉末試樣架670.1可換為多通道粉末樣品試樣架管理。配合非對稱的X射線，可裝載6份不同樣品雙向互動。同時配備另一定位器效率和安，方便客戶測樣的同時進行制樣工作。經(jīng)過步進電機的驅(qū)動助力各業，將樣品移動到測量位置極致用戶體驗，并在該位置附近提供連續(xù)的振蕩，類似于單樣品試樣架應用，運行頻率約為1Hz建議。

多樣品定位器可反復(fù)拆卸且操作簡單，位置偏差不超過0.01mm相貫通，因此小化了由于樣品位置不同帶來的誤差不斷發展。電子硬件系統(tǒng)適配G670控制系統(tǒng)，所有定位動作均由標(biāo)準(zhǔn)的G670程序控制自動化方案。

樣品裝填工具

Capillary Boy 670.21

填充毛細(xì)管試樣架曾經(jīng)是一項費時費力的工作緊密協作。有了Capillary Boy越來越重要，將十分方便。

將毛細(xì)管試樣架安裝在振蕩器上穩定性，震動使粉末輕輕落下像一棵樹。只需轉(zhuǎn)動一個旋鈕，您就可以調(diào)節(jié)振蕩器的頻率去突破，以配合每一個微管樣品槽/粉末組合的需要。這將使平均制樣時間減少到1-2分鐘達到，具體情況視粉末而定智能設備。

※輕松裝樣

※有效降低樣品槽損壞率 ※減少每次分析的成本

※每裝樣一次可節(jié)省15分鐘

基底調(diào)整儀

Adjustment Base 601

對于除670.6外的所有相機配置，都需要基準(zhǔn)調(diào)整裝置601蓬勃發展。

它包括所有用于調(diào)整相機位置的工具和Guinier單色儀61 1特點。

根據(jù)X射線的輻射波長，可用不同的晶體615/616重要性，見單獨的產(chǎn)品冊又進了一步。由于空間原因，激光加熱爐670.31和低溫器件670.4多元化服務體系，需要使用616系列晶體規劃。

單色鏡

Monochromator 611

Gunier單色器611有一個用于聚焦Johansson-Guinier型單色器晶體的底座。安裝在U形金屬框架內(nèi)深度，因此可以很容易地插入和更換帶動擴大。

多功能外殼具有高定位自由度，這對微調(diào)在X射線管光束路徑上的晶體至關(guān)重要開拓創新。

為了精確限制x射線束的橫截面持續發展，設(shè)計了多種孔徑。

單色儀主要用于細(xì)聚焦X射線管( 0,4x8mm)的線路側(cè)主動性，*濾除Kα2 創造性。

Monochromator Crystals 615/616

Guinier 晶體單色器615/616參數(shù)

Huber#Anode Kα1【A】 Cryst.hkl2θ【°】

附件

Further available components

單色鏡

平面試樣旋轉(zhuǎn)裝置

X射線發(fā)生器

閉式循環(huán)冷水機

帶電源的X射線安全盒

適配670.31 CCD 的商用高溫計

適配670.2/5的目鏡照相機

G670主要參數(shù)

G670的主要技術(shù)參數(shù)：

計數(shù)點(max.)：20001

2-Theta范圍 (max.) ：100°

2-Theta 步長：0.005°

A/D 分辨率：16 Bit

動態(tài)范圍(multi-scan)：~200000 counts

讀出時間：<5 sec

擦除時間：10 sec

焦圓半徑：90 mm.

硬件要求

X射線光源：0.4*8 mm2垂直細(xì)線焦點

臺面以上橫梁高度：~275mm

桌面面積：~600*500mm2

19”機架，3個高度單位

結(jié)語

該系統(tǒng)以Guinier高分辨率相機與Capillary Sample Holder 670.2為主要核心組件道路，通過在此基礎(chǔ)上搭建的系統(tǒng)規模設備，以響應(yīng)客戶對超微量粉末試樣進行高精度測量的需求。